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Hot stage microscopy

Real-world materials applications often take place under variable environmental conditions, including high temperatures. The behavior of your heated material as it recrystallizes, melts, and deforms can inform critical macro- and microscopic observations, such as how a manufactured part might respond to stress or how feed materials behave during production. As a sample’s response to heat is a dynamic process, it must be paired with dynamic observation for accurate insight. Modern heating stages in electron microscopes allow for in situ experiments for high-resolution observation of heated materials. These demanding experiments are capable of linking sample morphology, environment, and thermodynamics, and can help you control the corresponding behavior of the bulk material.

SEM heating stages

There are many considerations when operating electron microscopes at elevated temperatures, such as the desired temperature range, sample size, and chemical environment. The following table shows what is possible with Thermo Scientific temperature stages.

Formatvorlage für Produkttabellen-Spezifikationen

Name

Application

Temperature

Max. Sample Size

Environment

High vacuum heating stage

General-purpose heating, high resolution imaging, in-column detection, fast processes, electron-backscatter diffraction (EBSD)

Up to 1100°C

(EBSD up to 900°C)

10 mm

High vacuum

Environmental SEM (ESEM) stage

Heating in gaseous environment: oxidation or other chemical reactions

Up to 1000°C or 1400°C, depending on the model

5 mm

ESEM

µHeater

Powder heating, chunk lift-out studies (DualBeam), STEM imaging, high-temperature EBSD and EDS, ramp rate of 10,000°C/s

Up to 1200°C

50 µm

Any

Cooling stage, WetSTEM

Precise control over humidity, wetting studies, modest heating

-20°C to +60°C

3 mm

ESEM

Gold on a silicon substrate heated with a SEM hot stage.
Gold on a silicon substrate at approximately 1080°C. The High Vacuum Heating Stage allows all in-lens detectors and imaging modes to be used to image the sample with excellent resolution and contrast.

Resources

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Applications

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Grundlagenforschung in der Materialforschung

Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.

 


Samples


Batterieforschung

Die Entwicklung von Batterien wird durch die Multiskalen-Analyse mit Mikro-CT, REM und TEM, Raman-Spektroskopie, XPS und digitaler 3D-Visualisierung und 3D-Analyse ermöglicht. Erfahren Sie, wie dieser Ansatz die strukturellen und chemischen Informationen liefert, die für den Bau besserer Batterien benötigt werden.

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Metallforschung

Die effektive Produktion von Metallen erfordert eine präzise Kontrolle von Einschlüssen und Ausscheidungen. Unsere automatisierten Geräte können eine Vielzahl von Aufgaben ausführen, die für die Metallanalyse wichtig sind, einschließlich der Zählung von Nanopartikeln, der chemischen Analyse mittels EDS und der Vorbereitung von TEM-Proben.

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Polymerforschung

Die Mikrostruktur von Polymeren bestimmt die Eigenschaften und die Leistungsfähigkeit des Materials. Die Elektronenmikroskopie ermöglicht eine umfassende Analyse der Morphologie und Zusammensetzung von Polymeren im Mikroskalenbereich für Anwendungen in der F+E und Qualitätskontrolle.

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Nanopartikel

Materialien haben im Nanobereich grundsätzlich andere Eigenschaften als im Makrobereich. Um diese zu untersuchen, können S/TEM-Geräte mit energiedispersiver Röntgenspektroskopie kombiniert und so Daten mit einer Auflösung im Nanometerbereich und sogar darunter erfasst werden.

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Forensik

Mit der Elektronenmikroskopie können im Rahmen einer forensischen Untersuchung Mikrospuren in Beweismaterial analysiert und verglichen werden. Zu den kompatiblen Proben gehören Glas- und Farbsplitter, Werkzeugspuren, Drogen, Sprengstoffe und GSR (Schmauchspuren).

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Katalyseforschung

Katalysatoren sind für einen Großteil der modernen industriellen Prozesse von entscheidender Bedeutung. Ihre Effizienz hängt von der mikroskopischen Zusammensetzung und Morphologie der katalytischen Partikel ab; EM mit EDS eignet sich ideal für die Untersuchung dieser Eigenschaften.

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Materialprüfung für die Automobilindustrie

Jedes Bauteil in einem modernen Fahrzeug ist auf Sicherheit, Effizienz und Leistung ausgelegt. Die detaillierte Charakterisierung von Materialien für Automobile mittels Elektronenmikroskopie und Spektroskopie liefert Informationen für wichtige Prozessentscheidungen, Produktverbesserungen und neue Materialien.

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Fasern und Filter

Durchmesser, Morphologie und Dichte synthetischer Fasern sind wichtige Parameter, die die Lebensdauer und Funktionalität eines Filters bestimmen. Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist die ideale Technologie für die schnelle und einfache Untersuchung dieser Merkmale.

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Products

Style Sheet for Komodo Tabs

Helios 5 DualBeam

  • Vollautomatische, hochwertige, ultradünne TEM-Probenvorbereitung
  • Hohe Durchsatzleistung, hochauflösende Untergrund- und 3D-Charakterisierung
  • Schnelle Nanoprototyping-Funktionen

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Galliumfreie STEM- und TEM-Probenvorbereitung
  • Multimodale Untergrund- und 3D-Informationen
  • 2,5-μA-Xenonplasma-FIB-Säule der nächsten Generation

Axia ChemiSEM

  • Quantitative Elementkartierung in Echtzeit
  • Rasterelektronenmikroskopische Bildgebung mit hoher Wiedergabetreue
  • Flexibel und einfach anzuwenden, auch für Anfänger
  • Wartungsfreundlich

Apreo 2 REM

  • Hochleistungs-REM für eine Allround-Auflösung im Nanometer- oder Subnanometer-Bereich
  • T1-Rückstreudetektor in der Säule für empfindlichen Materialkontrast mit TV-Rate
  • Hervorragende Leistung bei langen Arbeitsabständen (10 mm)

Prisma E REM

  • Einstiegs-REM mit ausgezeichneter Bildqualität
  • Einfache und schnelle Probenladung und Navigation für mehrere Proben
  • Dank speziell dafür vorgesehener Vakuummodi mit einer Vielzahl von Materialien kompatibel

Verios 5 XHR SEM

  • Monochromatisierte REM-Technologie für eine Auflösung im Subnanometerbereich über den gesamten Energiebereich von 1 bis 30 keV
  • Einfacher Zugang zu Kathodenstrahlenergien von nur 20 eV
  • Ausgezeichnete Stabilität mit Piezo-Tisch als Standard

Quattro ESEM

  • Extrem vielseitiges, hochauflösendes FEG-REM mit einzigartiger Umweltfreundlichkeit (ESEM)
  • Alle Informationen aus allen Proben bei gleichzeitiger SE- und BSE-Bildgebung in jeder Betriebsart beobachten

Phenom ProX G6 Desktop-REM

  • Hochleistungsfähiges Desktop-REM mit integriertem EDS-Detektor
  • Auflösung < 6 nm (SE) und < 8 nm (BSE); Vergrößerung bis zu 350.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

Phenom Pro G6 Desktop-REM

  • Hochleistungsfähiges Desktop-REM
  • Auflösung < 6 nm (SE) und < 8 nm (BSE); Vergrößerung bis zu 350.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

Phenom Pure G6 Desktop-REM

  • Desktop-REM der Einstiegsklasse
  • Auflösung < 15 nm; Vergrößerung bis zu 175.000-fach
  • Langlebige CeB6-Quelle
Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten

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