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Electron Energy Loss Spectroscopy

Over the last three decades, electron energy loss spectroscopy (EELS) has become a formidable characterization technique. Used in combination with a transmission electron microscope (TEM), it can provide atomic-level chemical and structural characterization. This includes information about elemental composition, chemical bonding, oxidation states, valence and conduction band electronic properties, and surface properties. It can also be used in conjunction with other techniques, such as electron tomography, to provide advanced 3D mapping of elements and oxidation states.

As materials characterization becomes increasingly more demanding, there is a growing need for highly localized characterization of increasingly complex structures with ever smaller features. Fortunately, improvements in EELS and S/TEM instrumentation have kept pace with these demands, with advances including spherical aberration correction of the S/TEM lenses, as well as the use of monochromators to improve energy resolution, providing sub-angstrom spatial resolution and a higher probe current.

EELS TEM

With our X-FEG/Mono, X-FEG/UltiMono and X-CFEG guns on the Thermo Scientific Spectra and X-FEG on the Thermo Scientific Talos S/TEM platforms, Thermo Fisher Scientific has all your EELS applications covered. These systems allow you to perform ultra-high resolution EELS analysis to obtain valuable structural, elemental, and chemical information at the atomic scale.


Resources

OptiMono+ exciting an X-FEG/UltiMono from the monochromator off state (with 1 eV energy resolution) to the monochromator fully excited state (<30 meV) at 60 kV.

Localized positions of plasmon excitations along a gold nanowire as a function of their excitation energy (between 0.18 – 1.2 eV), investigated with an electron probe of <0.2 eV energy resolution.

OptiMono+ exciting an X-FEG/UltiMono from the monochromator off state (with 1 eV energy resolution) to the monochromator fully excited state (<30 meV) at 60 kV.

Localized positions of plasmon excitations along a gold nanowire as a function of their excitation energy (between 0.18 – 1.2 eV), investigated with an electron probe of <0.2 eV energy resolution.

Applications

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Fundamental Materials Research

Novel materials are investigated at increasingly smaller scales for maximum control of their physical and chemical properties. Electron microscopy provides researchers with key insight into a wide variety of material characteristics at the micro- to nano-scale.

 

Quality control and failure analysis using electron microscopy

Quality control and failure analysis

Quality control and assurance are essential in modern industry. We offer a range of EM and spectroscopy tools for multi-scale and multi-modal analysis of defects, allowing you to make reliable and informed decisions for process control and improvement.


Samples


Recherche sur les batteries

Le développement de batteries est possible grâce à une analyse multi-échelle avec la microCT, la SEM et la TEM, la spectroscopie Raman, la XPS ainsi que la visualisation et l’analyse 3D numériques. Découvrez comment cette approche fournit les informations structurelles et chimiques nécessaires à l’amélioration des batteries.

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Recherche sur les polymères

La microstructure des polymères détermine les caractéristiques et les performances globales du matériau. La microscopie électronique permet une analyse complète à échelle microscopique de la morphologie et de la composition des polymères pour les applications de recherche et développement (R&D) et de contrôle de la qualité.

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Recherche sur les métaux

La production efficace de métaux nécessite un contrôle précis des inclusions et des précipités. Nos outils automatisés peuvent effectuer toute une série de tâches essentielles à l’analyse des métaux, notamment le comptage des nanoparticules, l’analyse chimique par EDS et la préparation des échantillons par TEM.

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Fibres et filtres

Le diamètre, la morphologie et la densité des fibres synthétiques sont des paramètres clés qui déterminent la durée de vie et la fonctionnalité d’un filtre. La microscopie électronique à balayage (SEM) est la technique idéale pour étudier rapidement et facilement ces caractéristiques.

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Médecine légale

Les micro-traces de preuves provenant de scènes de crime peuvent être analysées et comparées à l’aide de la microscopie électronique dans le cadre d’une enquête médico-légale. Les échantillons compatibles comprennent les fragments de verre et de peinture, les marques d’outils, les médicaments, les explosifs et les résidus de poudre.

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Recherche géologique

La géoscience repose sur une observation uniforme et précise multi-échelle des caractéristiques des échantillons de roches. La SEM-EDS, associée à un logiciel d’automatisation, permet une analyse directe à grande échelle de la texture et de la composition minérale pour la recherche en métrologie et en minéralogie.

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Recherche dans le domaine de la catalyse

Les catalyseurs sont essentiels pour la majorité des processus industriels modernes. Leur efficacité dépend de la composition microscopique et de la morphologie des particules catalytiques ; l’EM avec l’EDS est parfaitement adaptée à l’étude de ces propriétés.

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Matériaux 2D

La recherche sur les nouveaux matériaux s’intéresse de plus en plus à la structure des matériaux à faible dimension. La microscopie électronique à transmission et balayage avec correction de sonde et monochromation permet une imagerie en deux dimensions haute résolution des matériaux.

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Tests de matériaux automobiles

Chaque composant d’un véhicule moderne est conçu pour assurer la sécurité, l’efficacité et les performances. La caractérisation détaillée des matériaux automobiles à l’aide de la spectroscopie et de la microscopie électronique éclaire les décisions critiques concernant les processus, les améliorations des produits et les nouveaux matériaux.

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Style Sheet for Komodo Tabs

Products

Style Sheet for Instrument Cards Original

Iliad (S)TEM

  • Advanced integration of EELS and (S)TEM optics
  • Electrostatic beam blanker
  • High energy resolution electron source

Spectra Ultra

  • New imaging and spectroscopy capabilities on the most beam sensitive materials
  • A leap forward in EDX detection with Ultra-X
  • Column designed to maintain sample integrity.

Spectra 200

  • High-resolution and contrast imaging for accelerating voltages from 30-200 kV
  • Symmetric S-TWIN/X-TWIN objective lens with wide-gap pole piece design of 5.4 mm
  • Sub-Angstrom STEM imaging resolution from 60 kV-200 kV

Spectra 300

  • Highest-resolution structural and chemical information at the atomic level
  • Flexible high-tension range from 30-300 kV
  • Three lens condenser system
Thermo Scientific Talos L120C transmission electron microscope (TEM)

Talos 12 TEM

  • Proven and versatile (S)TEM
  • Multidisciplinary 120 kV TEM
  • TEM magnification range of 25X to 650kX
  • EDS and STEM options for compositional analyses

Talos F200X TEM

  • High-resolution, EDS cleanliness, and quality in 2D as well as 3D
  • X-FEG and X-CFEG available for the highest brightness and energy resolution
  • High accuracy and repeatable results with integrated Thermo Scientific Velox Software

Talos F200i TEM

  • Compact design with X-TWIN objective lens
  • Available with S-FEG, X-FEG, and X-CFEG
  • Flexible and fast EDS options for comprehensive elemental analysis

Talos F200S TEM

  • Intuitive and easy-to-use automation software
  • Available with Super-X EDS for rapid quantitative chemical analysis
  • High-throughput with simultaneous multi-signal acquisition
Thermo Scientific Talos F200C transmission electron microscope (TEM)

Talos F200C TEM

  • High-contrast and high-quality TEM and STEM imaging
  • 4k x 4k Ceta CMOS camera options for large FOV and high read-out speeds
  • Large pole piece gap and multiple in situ options

Elemental Mapping

  • Fast and reliable information on the distribution of elements within the sample or the selected line
  • Easily exported and reported results

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