Los microscopios electrónicos de barrido (SEM) son potentes herramientas analíticas que pueden capturar imágenes con resolución nanométrica de la superficie de una muestra, al mismo tiempo revelan las propiedades físicas y químicas de los materiales con facilidad. Para un proceso de control de calidad típico, los SEM proporcionan un conjunto completo de información que incluye valiosos datos estructurales, morfológicos y topográficos. Su rendimiento no tiene rival en el espacio de análisis de espectroscopía de dispersión de energía (EDS) para análisis elementales rápidos y precisos.
Los microscopios electrónicos de barrido juegan un papel fundamental en los procesos de control de calidad. En esta imagen, ChemiSEM revela contaminantes de sílice y alúmina en el cátodo de la batería LiCoO2.
Utilizando un SEM, los investigadores pueden identificar fácilmente una gama de materiales novedosos, resolver problemas complejos de análisis de fallas e identificar defectos del producto para el control de calidad en la fabricación. Cuando se combinan con procesos de control de calidad automatizados, pueden optimizar la configuración de muestras, acelerar el tiempo de obtención de resultados y garantizar la repetibilidad de las mediciones. Los beneficios que proporciona un SEM para los procesos de control de calidad incluyen:
- Resolución superior
Los SEM proporcionan una resolución, profundidad de campo y aumento superiores en comparación con los microscopios ópticos; debido a que la longitud de onda de un electrón es más de 10,000 veces más pequeña que la de la luz visible, los SEM pueden lograr resoluciones sub nanométricas (nm) y aumentos hasta 300 veces mayores que un microscopio óptico. Con la necesidad de identificar defectos microscópicos en componentes cada vez más pequeños, los investigadores a menudo requieren un instrumento con resolución nanométrica para resolver detalles finos e identificar fallas. Ofrecemos una gama de SEM adaptados a las necesidades de los científicos. Por ejemplo, nuestro poderoso Verios 5 XHR SEM es capaz de resoluciones sub-nanométricas a voltajes de haz muy bajos. Nuestro sistema Apreo 2 SEM proporciona un rendimiento de resolución nanométrica y sub nanométrica en materiales que van desde nanomateriales, polvos, catalizadores y nanodispositivos hasta muestras magnéticas a granel. Nuestros SEM de escritorio, como nuestra línea de SEM de escritorio Phenom, son capaces de resoluciones inferiores a 10 nm, mientras que nuestro SEM de escritorio Phenom Pharos puede alcanzar resoluciones de hasta 2,5 nm. Phenom Particle X TC y Phenom Particle X AM proporcionan soluciones automatizadas llave en mano líderes en la industria para una clasificación rápida y precisa de partículas de micras basadas en EDS utilizadas en la limpieza técnica industrial y en aplicaciones de fabricación aditiva.
- Análisis químico integral
Cuando se combinan con la espectroscopia de rayos X de dispersión de energía (EDS), los SEM ofrecen análisis químicos completos, incluida la composición elemental y la concentración de muestras. Para un proceso de control de calidad típico, EDS puede evaluar el grosor y la cobertura de un recubrimiento de muestra, examinar los límites de grano y determinar los tamaños de partículas y granos. Algunas herramientas EDS utilizan herramientas de control de calidad automatizadas para proporcionar una experiencia de usuario intuitiva y un menor tiempo de obtención de resultados. Por ejemplo, la tecnología Thermo Scientific ChemiSEM ofrece un contexto químico instantáneo para cualquier falla y defecto observado sin necesidad de que los usuarios cambien de sistema. ChemiSEM es la integración completa de la tecnología ColorSEM desarrollada por primera vez por Thermo Fisher Scientific. ChemiSEM siempre está encendido, lo que reduce el tiempo de obtención de resultados y revela características que antes hubieran pasado desapercibidas, ChemiSEM aumenta la productividad del usuario al proporcionar acceso a información elemental de dos a cuatro veces más rápido que las tecnologías convencionales. Los especialistas en control de calidad también pueden probar una amplia gama de materiales dependiendo de las capacidades de su SEM, y pueden analizar muestras a alta resolución mientras retienen el contexto más amplio de la muestra.
- Datos de calidad, medidas repetibles
Los SEM se pueden calibrar con estándares rastreables, lo que facilita la replicación de pruebas y el análisis de materiales dentro de un conjunto de parámetros guardados, lo que es particularmente útil cuando se realizan pruebas de cumplimiento. Por ejemplo, ISO 16232 y VDA 19 son dos estándares de limpieza para sistemas de fluidos en la industria automotriz. Al monitorear la limpieza de estas piezas, los gerentes de control de calidad deben poder identificar rápidamente la fuente de contaminantes. Nuestros SEM proporcionan una amplia gama de datos para ayudar al cumplimiento, al mismo tiempo que utilizan herramientas de control de calidad automatizadas para garantizar la repetibilidad de las mediciones. Por ejemplo, nuestra tecnología SmartAlign es un sistema óptico de alineación automática, mientras que nuestra tecnología FLASH ajusta automáticamente el enfoque de la imagen. Características como estas hacen que nuestros SEM sean más fáciles de operar, al tiempo que garantizan datos consistentes entre experimentos.
- Control de calidad rápido, preciso y de varias escalas
Con la creciente complejidad de las muestras y las demandas del mercado, los laboratorios actuales necesitan un control de calidad rápido, preciso y de múltiples escalas. Los SEM se utilizan ampliamente en una amplia gama de campos de la ciencia y la ingeniería, optimizando los procesos de control de calidad, gracias a la versatilidad de estos instrumentos.
En Thermo Fisher Scientific, proporcionamos una gama de herramientas y técnicas de SEM para análisis multiescala y multimodal en todos sus procesos de control de calidad.
Autor: John Yorston
John Yorston es un especialista senior de productos para tecnología SEM en Thermo Fisher Scientific.
Post Author: Touchpoint Marketing.
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