Durante el último año se hizo patente la importancia de los semiconductores y el frágil equilibrio entre oferta y demanda. La escasez de chips está impulsando a los fabricantes a realizar nuevas inversiones en el proceso de análisis de fallas de semiconductores, de modo que puedan acelerar el aprendizaje de rendimiento y las mejoras del proceso, y satisfacer mejor la demanda.
A medida que las empresas instalan nuevos instrumentos y tecnologías en sus laboratorios y fábricas, es importante que también minimicen la interferencia ambiental y otros factores que pueden resultar en un rendimiento subóptimo del instrumento.
La vibración, creada por fuentes internas y externas, puede provenir de equipos HVAC, construcción o incluso tráfico peatonal. Las fuentes de ruido acústico pueden incluir sistemas de tratamiento de aire y personas hablando. EMI puede encontrar su camino hacia los sistemas desde transformadores, subterráneos y otras fuentes eléctricas en el área.
Estudio de caso: cuando la interferencia ambiental causa distorsión de la imagen
Si bien muchas empresas consideran las implicaciones de las vibraciones del piso en el proceso de preparación del sitio, también es importante considerar la acústica, la interferencia electromagnética (EMI por sus siglás en inglés) y otras fuentes de vibración.
Los factores ambientales pueden afectar negativamente la productividad del análisis de fallas de semiconductores, como se describe en un estudio de caso del mundo real de Thermo Fisher Scientific.
Aproximadamente hace cinco años, mientras trabajábamos con clientes en nuestro NanoPort en Hillsboro, Oregon, notamos distorsiones de imagen significativas en nuestro sistema Helios 4 FX DualBeam.
De hecho, las imágenes eran de tan mala calidad que no pudimos realizar un análisis preciso, lo que nos obligó a suspender el trabajo que estábamos haciendo con nuestro cliente.
Este gran inconveniente provocó una investigación completa para llegar a la raíz del problema.

Helios 4 FX Small DualBeam exhibe vibración de imagen en el modo STEM
Trabajando con nuestro equipo de Servicios de Preparación del Sitio, iniciamos una inspección integral del sitio de nuestro NanoPort y el área circundante.
Realizamos mediciones de vibración, interferencia acústica y electromagnética (EMI), así como un análisis de haz para hacer coincidir las frecuencias con su fuente y determinamos rápidamente que se trataba de un problema de vibración.
Nuestra investigación nos llevó aquí, donde identificamos la fuente como interferencia ambiental:

Proyecto de construcción grande ubicado a 1,000 pies del Thermo Fisher NanoPort en Hillsboro, Oregon. Cinco años después, ¡la construcción continúa!
Soluciones de mitigación para mejorar el proceso de análisis de fallas de semiconductores
Como no pudimos detener la construcción ni mover nuestro laboratorio, nos enfocamos en pasos de mitigación específicos para permitirnos reanudar nuestro trabajo. Primero, realizamos nuestro trabajo durante las horas “libres”; al realizar nuestra encuesta de preparación del sitio, descubrimos que el trabajo de construcción terminaba todos los días a las 5:00 p.m. y los problemas de vibración desaparecían. Emplear este paso nos permitió reanudar el trabajo mientras planeábamos nuestra solución a largo plazo.
Luego, nos comprometimos con TMC, un proveedor global de productos de aislamiento de vibraciones, para desarrollar una plataforma de aislamiento de vibraciones activa personalizada: TMC SEM-Base LP para Thermo Fisher. Una vez instalado, el problema de la vibración se resolvió y pudimos hacer que nuestro sistema volviera a funcionar rápidamente.

Imagen sin vibraciones de Helios 4 FX Small DualBeam después de la implementación de la solución
Planificación anticipada para la interferencia ambiental
La vibración, la acústica y las interferencias electromagnéticas pueden afectar el rendimiento del instrumento de análisis de fallas de semiconductores.
Estas fuentes de interferencia ambiental pueden causar una variedad de efectos negativos en el proceso de análisis de fallas de semiconductores, incluida la distorsión de la imagen, una pérdida de resolución, datos y una inestabilidad máxima de pérdida cero, haciendo que sea prácticamente imposible realizar un trabajo de análisis de fallas críticas. El tiempo de inactividad del sistema puede afectar negativamente el análisis de fallas, el aprendizaje del rendimiento y el trabajo de monitoreo de procesos.
Para quienes construyen nuevos laboratorios o fábricas o están rediseñando las existentes, el mejor momento para mitigar la interferencia ambiental es antes de construir o rediseñar un laboratorio o fábrica, antes de la instalación de un instrumento. La realización de una encuesta exhaustiva de preparación del sitio puede identificar varias acciones que puede tomar para mitigar el impacto de los factores ambientales antes de que interrumpan las operaciones.
Visite nuestra página web de Servicios de preparación del sitio para obtener información adicional.
Autor: David Akerson
David Akerson is a Senior Global Market Development Manager for semiconductors at Thermo Fisher Scientific.
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