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As demand for oil and gas increases and reserves are depleted, efficient and effective extraction of hydrocarbons is more important than ever. From routine core plug screening to advanced multi-phase flow modeling, Thermo Fisher Scientific provides accurate, end-to-end solutions for oil and gas research and characterization. Whether you are starting a new digital rock analysis lab or expanding your existing characterization capabilities, we have the equipment, software, and expertise you need to maximize your potential from the start.

Core plug screening

A core analysis program is a substantial investment, and assessing the quality of core plugs before special core analysis and geomechanical testing ensures reservoir engineers, petrophysicists, and geologists obtain accurate and representative data before proceeding with further analysis.

High-resolution imaging offers a non-invasive method to inspect the internal structure of a sample. Thermo Scientific HeliScan microCT (micro-computed tomography) generates a 3D reconstruction of the core plug through one continuous helical X-ray scan. This provides a higher fidelity image than traditional microCT scans due to sophisticated reconstruction algorithms that reduce noise and amplify the signal. These core plug 3D images help petrophysicists and geologists perform multi-scale rock classification for improved understanding of stratigraphy, net to gross, fluid flow, and wireline log response.

  • Quickly evaluate sample heterogeneity
  • Assess sample contamination (e.g. drilling fluid invasion)
  • Determine structural integrity (free from damage caused by drilling)
  • Identify the presence and extent of microfractures

Reservoir quality analysis

Every operator has thousands of feet of old core stored in warehouses along with numerous cuttings and thin sections. A digital library of these samples, composed of 3D and 2D images, provides geologists a fast and statistically robust way of evaluating a play by examining previously obtained well cores. These digital rock models combine whole-core computed tomography, microCT, optical and scanning electron microscopy (SEM), and DualBeam technology (focused ion beam and SEM) data through image analysis and visualization software. Previously, these individual observations would be orphaned as traditional methods provide results without context and insight. Digital rock modeling offers analytical and characterization capabilities along with the ability to archive and rapidly share information. Most importantly, it links observed properties to the fundamental nature of the reservoir.

  • Obtain accurate clay speciation and textural context with a single method
  • Set up automated workflows to guarantee consistent, objective analysis
  • Increase confidence in the accuracy of your results
Core plug analyzed with a multi-modal approach revealing oil, porosity, and mineralogy.
Multi-modal analysis of a core plug with automatic identification of porosity, mineralogy, and oil inclusions.

Multi-scale analysis

Reservoir rocks are dominated by heterogeneity and laminations. To maximize the recovery of hydrocarbons from such reservoirs, accurate characterization of the rock micro-structure is required. This involves not only understanding of the individual rock types and laminations but also the interplay of the various rock types that make up the reservoir. Characterization of subsurface porosity, saturation, and wettability are critical for determining the type and volume of fluids that will be produced. Unfortunately, a single imaging tool cannot resolve both micro-scale pore connectivity and large-scale features.

In order to completely characterize these unconventional systems, multi-scale, multi-modal imaging is required. Thermo Fisher Scientific offers software solutions that correlate X-ray tomography and microscopy imaging with energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) for elemental analysis. This combination of tools relates microscale observations to the sub-nanometer-scale 3D visualization of pore-system connectivity. It also generates wettability and in situ fluid saturation information, allowing you to upscale microscopic results to the core-plug and log scale.

  • Track the distribution of features accurately across scales
  • Create statistically valid datasets for representative, quantitative property assessment
  • Easily generate automated, objective acquisition and analysis workflows
Core plug analyzed with microCT and SEM at multiple scales.
Multiscale analysis of a core plug from millimeter-scale microCT analysis down to micrometer SEM imaging of two regions of interest.

Resources

Applications

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Fundamental Materials Research

Novel materials are investigated at increasingly smaller scales for maximum control of their physical and chemical properties. Electron microscopy provides researchers with key insight into a wide variety of material characteristics at the micro- to nano-scale.

 


Techniques

Style Sheet for Komodo Tabs

Caractérisation des matériaux 3D

Le développement de matériaux nécessite souvent une caractérisation 3D multi-échelle. Les instruments DualBeam permettent la coupe en série de grands volumes et l’imagerie par SEM subséquente à l’échelle du nanomètre, qui peut être traitée en reconstructions 3D de haute qualité de l’échantillon.

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Spectroscopie à dispersion d’énergie

La spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS) recueille des informations élémentaires détaillées ainsi que des images de microscopie électronique, fournissant ainsi un contexte de composition critique pour les observations EM. Grâce à l’EDS, la composition chimique peut être déterminée à partir de balayages de surface rapides et globaux jusqu’à des atomes individuels.

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Analyse élémentaire par EDS

L’EDS fournit des informations de composition essentielles aux observations du microscope électronique. Nos systèmes de détection Super-X et Dual-X uniques offrent en particulier des options supplémentaires pour un débit et/ou une sensibilité améliorés, ce qui vous permet d’optimiser l’acquisition de données pour répondre à vos priorités de recherche.

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Tomographie par EDS 3D

La recherche moderne sur les matériaux dépend de plus en plus de l’analyse à l’échelle nanométrique en trois dimensions. La caractérisation 3D, y compris les données de composition pour un contexte chimique et structurel complet, est possible grâce à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie et l’EM 3D.

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SEM environnementale (ESEM)

La SEM environnementale permet de réaliser une image des matériaux dans leur état d’origine. Elle convient parfaitement aux chercheurs universitaires et industriels qui doivent tester et analyser des échantillons humides, sales, réactifs, dégageant des gaz ou non compatibles avec le vide.

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Coupe transversale

La coupe transversale donne des informations supplémentaires en révélant des informations sur les sous-surfaces. Les instruments DualBeam sont dotés de colonnes à faisceau d’ions focalisé supérieures pour une coupe transversale de haute qualité. Grâce à l’automatisation, un traitement sans surveillance à haut débit des échantillons est possible.

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Analyse multi-échelle

Les nouveaux matériaux doivent être analysés à une résolution toujours plus élevée tout en conservant le contexte plus large de l’échantillon. L’analyse multi-échelle permet d’établir une corrélation entre divers outils et modalités d’imagerie tels que la microCT à rayons X, le DualBeam, le PFIB laser, la SEM et la TEM.

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Caractérisation des matériaux 3D

Le développement de matériaux nécessite souvent une caractérisation 3D multi-échelle. Les instruments DualBeam permettent la coupe en série de grands volumes et l’imagerie par SEM subséquente à l’échelle du nanomètre, qui peut être traitée en reconstructions 3D de haute qualité de l’échantillon.

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Spectroscopie à dispersion d’énergie

La spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS) recueille des informations élémentaires détaillées ainsi que des images de microscopie électronique, fournissant ainsi un contexte de composition critique pour les observations EM. Grâce à l’EDS, la composition chimique peut être déterminée à partir de balayages de surface rapides et globaux jusqu’à des atomes individuels.

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Analyse élémentaire par EDS

L’EDS fournit des informations de composition essentielles aux observations du microscope électronique. Nos systèmes de détection Super-X et Dual-X uniques offrent en particulier des options supplémentaires pour un débit et/ou une sensibilité améliorés, ce qui vous permet d’optimiser l’acquisition de données pour répondre à vos priorités de recherche.

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Tomographie par EDS 3D

La recherche moderne sur les matériaux dépend de plus en plus de l’analyse à l’échelle nanométrique en trois dimensions. La caractérisation 3D, y compris les données de composition pour un contexte chimique et structurel complet, est possible grâce à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie et l’EM 3D.

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SEM environnementale (ESEM)

La SEM environnementale permet de réaliser une image des matériaux dans leur état d’origine. Elle convient parfaitement aux chercheurs universitaires et industriels qui doivent tester et analyser des échantillons humides, sales, réactifs, dégageant des gaz ou non compatibles avec le vide.

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Coupe transversale

La coupe transversale donne des informations supplémentaires en révélant des informations sur les sous-surfaces. Les instruments DualBeam sont dotés de colonnes à faisceau d’ions focalisé supérieures pour une coupe transversale de haute qualité. Grâce à l’automatisation, un traitement sans surveillance à haut débit des échantillons est possible.

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Analyse multi-échelle

Les nouveaux matériaux doivent être analysés à une résolution toujours plus élevée tout en conservant le contexte plus large de l’échantillon. L’analyse multi-échelle permet d’établir une corrélation entre divers outils et modalités d’imagerie tels que la microCT à rayons X, le DualBeam, le PFIB laser, la SEM et la TEM.

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Products

Style Sheet for Instrument Cards Original
Thermo Scientific Helios Hydra plasma focused ion beam scanning electron microscope (DualBeam)

Helios Hydra DualBeam

  • 4 fast switchable ion species (Xe, Ar, O, N) for optimized PFIB processing of a widest range of materials
  • Ga-free TEM sample preparation
  • Extreme high resolution SEM imaging

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Gallium-free STEM and TEM sample preparation
  • Multi-modal subsurface and 3D information
  • Next-generation 2.5 μA xenon plasma FIB column

Helios 5 HX/Helios 5 UX/Helios 5 FX DualBeam

  • Fully automated, high-quality, ultra-thin TEM sample preparation
  • High throughput, high resolution subsurface and 3D characterization
  • Rapid nanoprototyping capabilities
Thermo Scientific Scios 2 plasma focused ion beam scanning electron microscope (DualBeam)

Scios 3 FIB-SEM

  • Full support of magnetic and non-conductive samples
  • High throughput subsurface and 3D characterization
  • Advanced ease of use and automation capabilities
Thermo Scientific Quattro E scanning electron microscope (SEM)

Quattro ESEM

  • Ultra-versatile high-resolution FEG SEM with unique environmental capability (ESEM)
  • Observe all information from all samples with simultaneous SE and BSE imaging in every mode of operation
Thermo Scientific Apreo 2 scanning electron microscope (SEM)

Apreo 2 SEM

  • High-performance SEM for all-round nanometer or sub-nanometer resolution
  • In-column T1 backscatter detector for sensitive, TV-rate materials contrast
  • Excellent performance at long working distance (10 mm)

Nexsa G2 XPS

  • Micro-focus X-ray sources
  • Unique multi-technique options
  • Dual-mode ion source for monoatomic & cluster ion depth profiling

ESCALAB QXi XPS

  • High spectral resolution
  • Multi-technique surface analysis
  • Extensive sample preparation and expansion options

K-Alpha XPS

  • High resolution XPS
  • Fast, efficient, automated workflow
  • Ion source for depth profiling
Thermo Scientific Maps electron microscopy software

Maps Software

  • Acquire high-resolution images over large areas
  • Easily find regions of interest
  • Automate image acquisition process
  • Correlate data from different sources

Athena Software
Imaging Data Management

  • Ensure traceability of images, data, metadata and experimental workflows
  • Simplify your imaging workflow​
  • Improve collaboration
  • Secure and manage data access​

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