Specular Reflectance
Wie funktioniert das?

Die echte gerichtete Reflexion ist eine Oberflächen-Messtechnik, die nach dem Prinzip der reflektierenden Effizienz funktioniert. Nach diesem Prinzip weist jede Probe einen Brechungsindex auf, der je nach der Frequenz des Lichtes, dem sie ausgesetzt ist, variiert. Anstelle einer Prüfung der Energie, die die Probe durchdringt, misst die echte gerichtete Reflexion die Energie, die von der Oberfläche einer Probe reflektiert wird, oder deren Brechungsindex. Durch eine Prüfung der Frequenzbandbreiten, bei denen die Änderungsrate des Brechungsindex hoch ist, kann der Anwender Vermutungen bezüglich der Absorption der Probe anstellen. Das Verfahren der echten gerichteten Reflexion liefert qualitativ hochwertige Daten.

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Die Reflexion-Absorption arbeitet nach dem gleichen Prinzip. Aufgrund der Probeneigenschaften durchläuft jedoch ein Teil der Energie die Oberflächenschicht, wird in den inneren Bereich der Probe hinein absorbiert und dann von einem Substrat unterhalb der Oberflächenschicht reflektiert. Eine Kombination aus der echten gerichteten Reflexion und dem Verfahren der Reflexion-Absorption kann zum Einsatz kommen, wenn Kriterien für beide Verfahren erfüllt sind. Wenn ein qualitativer Vergleich zu Übertragungsspektren gewünscht wird, kann der Anwender die Kramers-Kronig-Korrektur auf Daten anwenden, um die Auswirkungen der Dispersion zu eliminieren.

Welche Arten von Proben können Sie analysieren?

Die gerichtete Reflexion wird häufig für die Analyse sowohl von organischen als auch anorganischen Proben mit großen, flachen, reflektierenden Oberflächen eingesetzt. Das Verfahren der Reflexion-Absorption kann zum Einsatz kommen, wenn eines der oben genannten Kriterien beeinträchtigt ist, und die Probe ein reflektierendes Substrat knapp unter der Oberfläche aufweist. Diese Art der Analyse wird häufig verwendet für:

  • Metallische Oberflächen
  • Dünne Schichten auf reflektierenden Substraten
  • Siliziumscheiben
  • Laminierte Materialien auf Metallen
Welche Vorteile hat die gerichtete Reflexion?
  • Empfindlichkeit gegenüber Proben mit Monoschicht – kann Schichten in Angström-Dicke auf Metallsubstraten wahrnehmen
  • Zerstörungsfreie Analysen – kein Kontakt und keine Beschädigung der Probe während der Analyse
  • Große Auswahl an Zubehörteilen verfügbar – je nach Größe der Probe und Dicke der Oberflächenschicht können die wichtigsten Spektrometer- und Mikroskopzubehörteile genutzt werden

Gerichtete Reflexion - Videoreihe zum besseren Verständnis

Grundlagen

Datenerfassung

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Introducing Mike

Dr. Michael Bradley received his BS degree in chemistry from the University of South Carolina and his PhD in physical chemistry from the University of Illinois, and also completed his MBA in management. He taught graduate and undergraduate chemistry for 15 years, prior to becoming a field applications scientist with Thermo Nicolet, subsequently Thermo Fisher Scientific, in 2002. He is the Global Training Manager for FTIR products.

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