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연구 집중 분야가 원자단위 연구인 경우, 나노구조 특성 길이 단위로 구조 역학을 현장in situ 에서 면밀히 관찰하는 것이 매우 중요합니다. Thermo Scientific Themis ETEM은 표준 S/TEM(TEM 및 주사투과전자현미경)과 나노물질의 동적 거동에 대한 시간 분해, 현장(in situ) 연구를 위한 전용 환경 TEM 기능을 결합하여, 검증된 Titan Environmental Transmission Electron Microscope(ETEM: 환경 투과전자현미경) 의 개념을 기반 으로 하여 제조되었습니다. Themis ETEM은 나노구조를 기체 반응/작동 환경에 노출시키는 것과 같은 현장(in situ) 실험을 위한 완전 통합형 플랫폼으로 설계되었습니다.
새로운 Themis ETEM은 이제 Thermo Scientific Themis Z S/TEM의 다음과 같은 기능도 제공합니다.
모든 작동 파라미터에 대한 소프트웨어 제어 - 고급 작업자뿐만 아니라 초보 사용자용으로도 가능.
혁신적인 차동 펌프 대물렌즈 활용.
다른 진공 모드 간 빠른 전환 포함.
질량 분석기를 통한 내장형 반응가스분석(RGA) 활용.
통합형 플라즈마 클리너 활용.
가스 실험 중에도 높은 진공 상태 유지.
유연한 건(gun) 렌즈 및 콘덴서 설정 사용.
혁신적인 차동 펌프 검체 영역과 전체 이중 경사 기능 및 표준 TEM 홀더 호환성 활용.
가스 취급을 위한 안전 규정 및 프로토콜을 완벽하게 준수.
| 표준 모드 | ETEM 모드(< 0.5 mbar 질소) | |||
| 교정자 없음 | CS 이미지 수정됨 | 교정자 없음 | CS 이미지 수정됨 | |
| TEM 정보 제한(nm) | 0.10 | 0.10(0.09 모노 켜짐) | 0.12 | 0.12 |
| TEM 포인트 분해능(nm) | 0.20 | 0.10 | 0.20 | 0.12 |
| 프로브 전류 @ 1nm (nA*) | 0.6 | 0.6 | 0.6 | 0.6 |
| 프로브 전류 @ 1nm (nA*) | 0.7 eV | 0.7 eV | 0.8 eV | 0.8 eV |
| STEM 분해능(nm) | 0.136 | 0.136 | 0.16 | 0.16 |
참고: 모든 사양은 300kV 기준입니다.
* SFEG 포함. ETEM은 X-FEG 및 건 단색화 장치도 옵션으로 사용할 수 있습니다. 에너지 필터 옵션에 따라 에너지 분해능은 0.20 eV(ETEM 모드에서 0.25eV)가 될 수 있습니다.
Thermo Scientific ETEM 솔루션 소개.
Thermo Scientific ETEM은 반응성 가스 환경 및 높은 온도에 노출되는 동안 나노물질의 거동에 대한 시간 분해 연구 전용 원자 분해능 주사/투과전자현미경(S/TEM) 솔루션입니다. 촉매 작용에서 이러한 in-situ 동적 실험을 위해 특별히 설계되었습니다.
Seiji Takeda (일본, Osaka University) 교수가 재료 과학 연구에서 정량적인 현장(in situ) 현미경 검사용 Thermo Scientific ETEM 솔루션의 가치에 대해 설명합니다.
Hideto Yoshida (일본, Osaka University) 박사는 Thermo Scientific ETEM 솔루션의 사용 편의성에 대해 설명하고, 그의 물질 연구에서 보다 상세한 원자 구조 정보 달성을 강조합니다.
Thermo Scientific ETEM 솔루션 소개.
Thermo Scientific ETEM은 반응성 가스 환경 및 높은 온도에 노출되는 동안 나노물질의 거동에 대한 시간 분해 연구 전용 원자 분해능 주사/투과전자현미경(S/TEM) 솔루션입니다. 촉매 작용에서 이러한 in-situ 동적 실험을 위해 특별히 설계되었습니다.
Seiji Takeda (일본, Osaka University) 교수가 재료 과학 연구에서 정량적인 현장(in situ) 현미경 검사용 Thermo Scientific ETEM 솔루션의 가치에 대해 설명합니다.
Hideto Yoshida (일본, Osaka University) 박사는 Thermo Scientific ETEM 솔루션의 사용 편의성에 대해 설명하고, 그의 물질 연구에서 보다 상세한 원자 구조 정보 달성을 강조합니다.
오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.
품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.
새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.

현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.


