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Grãos minerais de alumínio encontrados com SEM durante o teste de limpeza de peças.
A inovação e o aprimoramento contínuos dos componentes fabricados dependem da capacidade dos fabricantes de criar produtos de forma rápida e confiável sem sacrificar a qualidade. Com padrões cada vez maiores de limpeza, análises sempre mais completas de peças são necessárias para garantir que elas atendam a essas altas expectativas. Além disso, a limpeza da superfície dos componentes é crítica para a adesão de revestimentos adicionais e tratamentos, diretamente correlacionados à qualidade final da peça. Na verdade, foi demonstrado que a limpeza está tão correlacionada à taxa de falhas de campo, que a Associação Alemã da Indústria Automotiva (a VDA) e a Organização Internacional de Normas (a ISO) desenvolveram padrões abrangentes especificamente para caracterizar a limpeza de componentes automotivos.
De um modo geral, isso significa que metodologias comuns de limpeza técnica, que oferecem detalhes analíticos limitados, podem ser desnecessariamente restritivas. Isso, inevitavelmente, acarreta um aumento do tempo de diagnóstico, pois os fabricantes tentam encontrar a origem da contaminação a partir de informações incompletas, aumentando, portanto, o custo de fabricação da peça. A microscopia eletrônica de varredura/espectroscopia de energia dispersiva de raios X (SEM/EDX), enquanto isso, fornece a composição química de partículas individuais. Isso permite que o fabricante defina diferentes limites de limpeza para partículas que são mais prejudiciais para o componente, enquanto os limites para partículas benignas podem ser mais flexibilizados.
A Thermo Fisher Scientific oferece uma linha de instrumentação e software que não só simplifica sua análise de limpeza, mas também reduz significativamente o tempo de produção ao levar o processo de controle de qualidade para dentro da empresa. Devido ao fato de não depender mais de terceirização para a análise de CQ, o tempo do ciclo de produção pode aumentar em até dez vezes, proporcionando, ao mesmo tempo, a tranquilidade de poder controlar seus dados valiosos e confidenciais.
10-micron silicon-rich particle found during the cleaning of a manufactured component. Such small but hard particles can result in premature wear of the part.
Aluminum shaving found during cleanliness analysis.
Aluminum sliver, several 100 micrometers in length, generated due to wear of a part as it was used. Shape and chemistry of debris provides valuable information on part degradation and cleanliness over time.
Cotton fiber, with embedded mineral particles, imaged during cleanliness analysis.
10-micron silicon-rich particle found during the cleaning of a manufactured component. Such small but hard particles can result in premature wear of the part.
Aluminum shaving found during cleanliness analysis.
Aluminum sliver, several 100 micrometers in length, generated due to wear of a part as it was used. Shape and chemistry of debris provides valuable information on part degradation and cleanliness over time.
Cotton fiber, with embedded mineral particles, imaged during cleanliness analysis.
Pesquisa de baterias
O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
Pesquisa de polímeros
A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Teste de materiais automotivos
Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.
Materiais 2D
A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.
Folha de estilo para Guia técnicas (VERSÃO LONGA) e galeria de mídia
Espectroscopia por energia dispersiva
A espectroscopia por energia dispersiva (EDS) coleta informações elementares detalhadas juntamente com imagens de microscopia eletrônica, fornecendo contexto de composição crítico para observações EM. Com a EDS, a composição química pode ser determinada a partir de varreduras de superfície rápidas e holísticas que chegam até a átomos individuais.
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Análise elementar EDS
A EDS proporciona informações de composição vitais para observações em microscópio eletrônico. Principalmente, nossos exclusivos sistemas detectores Super-X e Dual-X adicionam opções para maior produtividade e/ou sensibilidade, permitindo otimizar a aquisição de dados para atender às prioridades de pesquisa.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Espectroscopia por energia dispersiva
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