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Forensic Microscopy
SEM EDX forensics for gunshot residue analysis and other forensic characterization.
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Forensic Microscopy
Electron microscopy (EM) has a wide variety of applications in forensic investigation. Numerous crime-scene micro-traces, including glass and paint fragments, tool marks, drugs, explosives and gunshot residue (GSR) can be visually and chemically analyzed with scanning electron microscopy (SEM). The conclusions based on this analysis are critical as they can establish the nature of the crime, as well as who was involved.
Gunshot residue analysis
Criminal investigators are often faced with the daunting task of analyzing crime scenes where firearms were used. Gunshot residue (GSR) analysis is a standard technique for determining whether a given individual or firearm was involved in the incident in question. Established GSR analysis begins with SEM surveying of suspected GSR particles, which are typically 0.5 to 10 micrometers in size. If a matching particle is found, energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) is used within the SEM to identify the chemical composition of that particle. The most common search criteria are the presence of lead (Pb), barium (Ba), and antimony (Sb). Once a sample is confirmed to be the result of a gunshot, its characteristics can be used as supporting evidence in the investigation.
Traditionally this type of analysis was performed manually, and the forensic scientist would dedicate significant time to the characterization and comparison of evidence. The Thermo Scientific Phenom Perception GSR Desktop SEM is a dedicated tool specifically designed for gunshot residue analysis. The system features unique automation that enables you to speed up the analysis process, making it faster, easier, and more reliable. Ideally suited for any forensics laboratory that wants to save time and floor space, the Phenom Desktop SEM can also be applied to many other forensic applications, including ballistics, paint analysis, and fiber characterization.
Gunshot residue particle analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue particle containing lead, antimony, and barium analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue particle analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm bullet cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue from a 9mm Luger cartridge analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Gunshot residue particle containing lead, antimony, and barium analyzed with the Phenom GSR Desktop SEM.
Investigación sobre materiales fundamentales
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
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Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
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