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Iliad走査透過型電子顕微鏡を用いた観察事例
現在研究開発が進められている機能性材料（触媒やエネルギー変換材料、二次電池材料、量子材料、半導体、環境持続可能性をサポートする材料）の高性能化には、透過型電子顕微鏡を用いた微細構造解析から得られる知見が求められます。Thermo Scientific Iliad (S)TEMに搭載された新型エネルギー分散型X線分光（EDS）装置および電子エネルギー損失分光（EELS）装置は、これらの物質の化学的性質に関する知見をこれまでよりも精緻に原子レベルで提供します。さらに、NanoPulserビームブランカーは電子線ドーズ量最適化や時間分解実験を可能にします。Iliad完全によって統合されたアプローチにより、より詳細かつ高度な実験を実現できます。
透過型電子顕微鏡を用いた触媒開発
ナノメートルオーダーにおける触媒の化学的性質を理解することは、触媒材料の微細構造制御による高性能化を果たすために非常に重要です。マルチモーダルEELSおよびEDXは、触媒の詳細な化学的性質に関する正確で信頼性の高い知見を得るのに役立ちます。
EELSによって証明されたCu:CeOx最表面における還元反応：Ce3+は緑色で、Ce4+は赤色で示されるCu:CeOxナノ粒子のカラーマップと、相当する、Ce3+およびCe4+領域から抽出されたスペクトル。
透過型電子顕微鏡を用いた量子材料研究
幅広い種類の量子材料の複雑な構造を原子レベルまで解析し、構造、化学、特性に関する独自の貴重な知見を提供することができます。
BaTiO3/LaMnO3/SrTiO3超格子の原子分解能EELS元素マップ。実験条件：加速電圧300 kV、dispersion1eV/pixel、合計取得時間123秒。
電池材料およびエネルギー変換材料の分析
（S）TEMを用いた分析では、原子レベルの微細構造と組成について重要な情報が得られるため、より高性能な電池やエネルギー変換材料の設計と開発に必要な知見をもたらします。これは、電池や太陽電池の研究開発にとって不可欠なものです。
半導体分野TEM分析
EDX、EELS、およびドーズ量最適化を組み合わせたマルチモーダル分光法は、最新の半導体における高度な微細構造解析を可能にします。
半導体デバイスのEELS元素マップ
持続可能な世界を可能にする新規材料の開発
持続可能な世界を達成するためには、新技術の迅速な開発が求められています。これらの新素材は電子線耐性が低い材料も多いため、簡単にドーズ量コントロールが可能な高度な分析(S)TEMが極めて重要です。
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.