Hot stage microscopy

Real-world materials applications often take place under variable environmental conditions, including high temperatures. The behavior of your heated material as it recrystallizes, melts, and deforms can inform critical macro- and microscopic observations, such as how a manufactured part might respond to stress or how feed materials behave during production. As a sample’s response to heat is a dynamic process, it must be paired with dynamic observation for accurate insight. Modern heating stages in electron microscopes allow for in situ experiments for high-resolution observation of heated materials. These demanding experiments are capable of linking sample morphology, environment, and thermodynamics, and can help you control the corresponding behavior of the bulk material.

SEM heating stages

There are many considerations when operating electron microscopes at elevated temperatures, such as the desired temperature range, sample size, and chemical environment. The following table shows what is possible with Thermo Scientific temperature stages.

Hoja de estilo para las especificaciones de la tabla de productos

Name

Application

Temperature

Max. Sample Size

Environment

High vacuum heating stage

General-purpose heating, high resolution imaging, in-column detection, fast processes, electron-backscatter diffraction (EBSD)

Up to 1100°C

(EBSD up to 900°C)

10 mm

High vacuum

Environmental SEM (ESEM) stage

Heating in gaseous environment: oxidation or other chemical reactions

Up to 1000°C or 1400°C, depending on the model

5 mm

ESEM

µHeater

Powder heating, chunk lift-out studies (DualBeam), STEM imaging, high-temperature EBSD and EDS, ramp rate of 10,000°C/s

Up to 1200°C

50 µm

Any

Cooling stage, WetSTEM

Precise control over humidity, wetting studies, modest heating

-20°C to +60°C

3 mm

ESEM

Gold on a silicon substrate heated with a SEM hot stage.
Gold on a silicon substrate at approximately 1080°C. The High Vacuum Heating Stage allows all in-lens detectors and imaging modes to be used to image the sample with excellent resolution and contrast.

Resources

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Applications

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

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Samples


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Products

Style Sheet for Komodo Tabs

Helios 5 DualBeam

  • Preparación de muestras de TEM ultrafina, de alta calidad y completamente automatizada
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Helios 5 PFIB DualBeam

  • Preparación de muestras STEM y TEM sin galio
  • Subsuperficie multimodal e información 3D
  • Columna FIB con plasma xenón de 2,5 μA de última generación

Axia ChemiSEM

  • Mapeo elemental cuantitativo en directo
  • Adquisición de imágenes de microscopía electrónica de barrido de alta fidelidad
  • Flexible y fácil de usar, incluso para usuarios principiantes
  • Fácil mantenimiento.

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto rendimiento para resolución de subnanómetro o nanómetro completo
  • Detector de retrodispersión de T1 incorporado en la columna para contraste de materiales sensibles de velocidad TV
  • Excelente rendimiento en distancias de trabajo largas (10 mm)

Prisma E SEM

  • SEM de nivel básico con excelente calidad de imagen
  • Rápida y sencilla navegación y carga de muestras para varias muestras
  • Compatible con una amplia gama de materiales gracias a los exclusivos modos de vacío

Verios 5 XHR SEM

  • SEM monocroma para resolución de subnanómetros sobre el rango de energía completo de 1 keV a 30 keV
  • Fácil acceso a la energía de recepción de haz, a un nivel tan bajo como 20 eV
  • Excelente estabilidad con fase piezoeléctrica como estándar

Quattro ESEM

  • Tecnología de obtención de imágenes por microscopía electrónica de barrido (SEM) con cañón de emisión de campo (FEG) de alta resolución con versatilidad absoluta y capacidad medioambiental única (ESEM)
  • Consulte la información completa de todas las muestras con obtención de imágenes SE y BSE en cada modo de funcionamiento

SEM de escritorio Phenom ProX

  • SEM de escritorio de alto rendimiento con detector EDS integrado
  • Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
  • Detector SE opcional
 
 

SEM de escritorio Phenom Pro

  • SEM de escritorio de alto rendimiento
  • Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
  • Detector SE opcional

SEM de escritorio Phenom Pure

  • SEM de escritorio de nivel básico
  • Resolución de <25 nm; aumento de hasta 65.000x
  • Fuente CeB6 de larga duración
Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos

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