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Thermo Scientific Apreo ChemiSEMシステムは、複数のインカラム検出器による同時画像取得により、材料の微細構造の特長を瞬時に捉えることができます。異なる情報を一元的に観察できることによって、これまでよりも多角的な検討と考察が可能になり、これまでよりも詳細な微細構造評価が可能になります。
Thermo Scientific ChemiSEMテクノロジーによって、イメージングと組成分析が一元化され、シームレスな微細構造評価が可能になります。高速直接電子検出が可能なTruePix電子後方散乱回折(EBSD)検出器は、卓越した低ビームエネルギー性能と単電子カウントを実現します。
改良された評価手法が採用されたApreo ChemiSEMシステムは、サンプルの形態から組成分析と相分布マッピングの解明までをサポートします。また、使いやすい解析ソフトウエアは、データ取得時間の短縮だけでなく信頼できるデータ取得もサポートします。
高度なデジタルエンハンスメントと精密な検出器モデルを使用する新しいスマートフレームインテグレーション(SFI)は、高速で信頼性の高い自動機能と組み合わせることで、ユーザーエクスペリエンスを向上させ、イメージングワークフローをさらに簡素化します。
ワークフローのオートメーション化によって、日々のアライメントは不要となります。また、オペレーターの技量に関係なく、すべてのユーザーが同様の結果を取得できます。ワークフローのオートメーション化によって測定時間を解析時間に割り振ることが可能となり、作業効率の向上が期待できます。
厳しい設置環境にも耐えうるように設計されたシステムは、メンテナンスサイクルのスパンを長くできます。また、装置の長寿命化やソフトウェアの自動更新など、長期間の安定運用をサポートします。
| Apreo ChemiSEMシステム | Apreo ChemiSEM Sシステム | |
| 高真空 | ||
| 30 kV(S/TEM) | 0.7 nm | 0.7 nm |
| 15 kV(BD) | 0.9 nm | 0.5 nm |
| 15 kV(6.4 nA、WD 10 mm) | - | 1.9 nm |
| 1 kV | 1.2 nm | 0.9 nm |
| 1 kV(BD) | 1.0 nm | 0.8 nm |
| 1 kV(BD、WD 10 mm) | - | 1.0 nm |
| 低真空 | ||
| 3 kV(80 Pa) | 1.8 nm | 1.8 nm |
| 15 kV(80 Pa) | 1.2 nm | 1.2 nm |
BD:ビーム減速モード。
WD:作動距離特記されていない限り、分解能は最適な作動距離の時のものです。分解能試験は、高真空下で1 kVおよび30 kV、ならびにイマージョンスイッチがオンの状態で実施します。
検出器
ChemiSEMテクノロジー
TruePix検出器
システム、サンプルホルダー、チャンバー
For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.