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X線光電子分光法は、材料表面の分析に使用される強力な分析手法であり、元素組成と化学組成の両方に関する貴重な分析情報が得られます。 XPSは表面感度が極めて高く、試料表面の上層約10ナノメートルを測定します。 この表面特異性と、表面の化学組成を定量化できる能力の組み合わせにより、XPSは材料分析において極めて有用です。
XPS初心者の方でも、高度な知識を求めている方でも、XPSの技術とその応用、そしてさまざまな科学分野における重要性に関する理解を、当社がお助けいたします。
XPSは表面感度の高い定量的な化学分析手法で、材料の問題解決に役立ちます。X線照射表面から放出される光電子を測定することにより、試料最表面数ナノメートル領域からのデータを得ることができます。
50年以上にわたり、サーモフィッシャーサイエンティフィックは学術および産業用途の表面分析装置を提供し、カスタマイズされたソリューションにより材料科学研究、製品開発、不良解析をサポートしてきました。
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試料表面の包括的な理解を得るには、XPSおよび関連する表面分析手法の最適な活用が必要になります。これらの手法には、シングルポイント分析にとどまらず、表面組成および化学的性質に関するより深い分析情報を提供するユーザーフレンドリーな手法が含まれます。
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For Research Use Only. Not for use in diagnostic procedures.
