電子顕微鏡オプション

MIGRATED CONTENT FOR REFERENCE BEGINS

Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Instrument Cards Origin
Style Sheet for Global Design System

Thermo Fisher Scientific Electron Microscope Upgrade Program

Regularly upgrading your microscope allows you to enhance the capabilities of current system and utilize the instrument in the most effective and productive way possible. Microscope upgrades can expand the range of applications your instrument can accommodate and helps you maintain your competitive edge. Investing in upgrades not only extend the equipment lifetime but also assures that your microscope will continue to serve your changing microscopic analysis needs reliably for years to come.

Upgrades for the Thermo Fisher Scientific TEM, SEM, and Dual Beam FIB SEM instruments, providing you with the latest developments and capabilities for your instrument.

Whether it is time consuming frequent alignment of current equipment, limitation on image resolution and image processing for advanced materials research or time-to-result, Our continuously evolving automation features, detection enhancement and microscope software upgrades will lead to a superior microcopy experience for every researcher.

Accessories for Electron Microscopes

Falcon 4 Detector

  • 最高レベルの検出量子効率
  • 既存機種の10分の1の露光時間
  • Thermo Scientificソフトウェアに完全に組込み
  • データマネジメント機能搭載

µHeater

  • 高分解能in-situイメージング用の超高速加熱実験ソリューション
  • 完全に統合
  • 最高温度1200℃

µPolisher

  • 数多くの新規で、未踏のアプリケーションを実現できる可能性があります
  • 超低エネルギーでのミリング
  • 正確な局所表面処理を実現する小さなスポットサイズ

Ceta-D Camera

  • あらゆる加速電圧(20~300 kV)で最高レベルの性能を発揮
  • ポストカラムフィルターおよびスペクトロメーターに対応
  • 動的研究用の動画撮影

Selectris and Selectris X Imaging Filters

  • 高い安定性と原子分解能のイメージング用に設計されています
  • 直感的な操作
  • 最新世代のThermo Scientific Falcon 4直接検出型電子検出器と組み合わせてご利用ください

Accessories for Phenom Desktop Scanning Electron Microscopes

 

Holders

Charge Reduction Sample Holder (Phenom)

  • 最大倍率が8倍高くなる
  • 迅速な試料作製
  • 非導電性試料は自然な状態で観察できます

Electrical Feedthrough Sample Holder (Phenom)

  • 電気プローブを試料に接続してのin situ測定
  • 試料の高さは0~25 mmの範囲で手動調整可能
  • プローブ電流の測定

Eucentric Sample Holder (Phenom)

  • 卓上SEM上でのユーセントリック傾斜およびコンピューセントリック回転
  • 1分未満で試料をロードでき、短時間で画像を取得
  • リアルタイムの3Dサンプル可視化モジュール

樹脂包埋試料ホルダー (Phenom)

  • 樹脂に取り付けられた試料をサポートするように設計されています
  • 冶金やインサートを扱う際に最適なソリューションです
  • サンプルサイズは直径32 mm、高さ30 mmまで対応

電動傾斜&回転試料ホルダー(Phenom)

  • 傾斜範囲は-10°~+45°
  • 360°の連続コンピュセントリック回転
  • 専用のモーションコントロールProSuiteアプリケーションで制御します

標準試料ホルダー (Phenom)

  • 最大100 mm×100 mmの試料を分析できるコンパクトなステージ
  • 3種類の樹脂または金属試料インサートで拡張可能
  • Phenom Desktop SEMと一緒に使用します

Micro Tool Sample Holder (Phenom)

  • 迅速かつ高速にクランプ
  • 傾斜と回転により、試料の位置決めが容易になります
  • 試料のローディングは道具無しで可能

Nebula Particle Disperser (Phenom)

  • 乾燥粉末を均一に分散するための標準的な方法
  • 粒子クラスターを回避します
  • Phenom Desktop SEMと一緒に使用します

Inserts

Filter Inserts (Phenom)

  • フィルター残留物分析およびアスベスト分析
  • 47 mm(1.85インチ)と25 mm(1インチ)のフィルターをサポートする2つのモデル
  • Phenom Desktop SEMで使用します

樹脂マウントインサート (Phenom)

  • 独自の試料ホルダーコンセプト
  • 直径25 mm(~1インチ)、32 mm(~1¼インチ)、40 mm(~1½インチ)の標準サイズの試料をサポートする3つのモデル

Sample Holder Inserts (Phenom)

  • コーティング試料および多層試料の迅速な断面イメージング
  • ネジや追加のツールを必要とせずに簡単にクランプできます
  • 試料を固定するためのネジやツールが不要です

Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class

Contact us

材料科学向けの
電子顕微鏡サービス

最適なシステム性能をお届けするため、当社は国際的なネットワークで、分野ごとのサービスエキスパート、テクニカルサポート、正規交換部品などを提供しています。

ELECTRON MICROSCOPY

Electron Microscope Accessories and Upgrades

Accessories and Upgrades to provide the latest capabilities for your instrument.


MIGRATED CONTENT FOR REFERENCE ENDS