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Filters are commonplace in today’s society, and fulfill critical functions in industry and the household, ranging from air filters that give you clean, breathable air to water filters that ensure you have safe, potable tap water.

The key to high-performance filtration is the development of synthetic fibers. To optimize a filter’s design (so it continues to filter a broad range of dry or wet particulates over time), features like fiber diameter, density, and surface morphology all need to be thoroughly characterized and optimized.

Traditional methods for fiber analysis, such as optical microscopy and atomic force microscopy (AFM), are insufficient for this multi-modal analysis. Optical microscopy lacks the resolution necessary to accurately study nanofibers, whereas AFM is too slow and suffers from physical probe issues. These methods also rely on slow, manual measurement and data analysis.

Scanning electron microscopy (SEM), meanwhile, offers exceptional resolution capabilities, and allows you to automatically characterize multiple fibers at the same time. With the addition of leading automation software, critical filter parameters can be extracted rapidly and reliably. This minimizes the time spent using SEM in the lab, increasing development throughput as you can quickly and easily analyze fibers for filtration design.

Thermo Fisher Scientific offers a range of SEM instrumentation for fiber analysis. When combined with Thermo Scientific FiberMetric Software, accurate, automated measurement of micro- and nanofiber properties is possible.

Electrospun imaged with Phenom Desktop SEM.
Electrospun nanofibers on a paper substrate, imaged with a Phenom Desktop SEM.
Dust filter imaged with Phenom Desktop SEM.
Fibers from a dust filter imaged with a Phenom Desktop SEM.

Resources

Applications

Prozesskontrolle mittels Elektronenmikroskopie

Prozesskontrolle mittels Elektronenmikroskopie

Die moderne Industrie verlangt einen hohen Durchsatz bei erstklassiger Qualität. Diese Balance wird durch eine robuste Prozesskontrolle aufrechterhalten. REM- und TEM-Geräte mit spezieller Automatisierungssoftware bieten schnelle, mehrskalige Informationen für die Überwachung und Verbesserung von Prozessen.

 

Qualitätskontrolle und Fehleranalyse mittels Elektronenmikroskopie

Qualitätskontrolle und Fehleranalyse

Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.

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Grundlagenforschung in der Materialforschung

Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.

 

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Techniques

3D-Materialcharakterisierung

Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.

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EDS-Elementanalyse

Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.

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ColorSEM

Unter Verwendung der Live-EDS (energiedispersive Röntgenspektroskopie) mit Live-Quantifizierung verwandelt die ColorSEM Technologie die REM-Bildgebung in eine Farbtechnik. Jeder Anwender kann nun kontinuierlich Elementdaten erfassen, um umfassendere Informationen als je zuvor zu erhalten.

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Querschnitte

Querschnitte bieten zusätzliche Einblicke, indem sie Informationen über tieferliegende Bereiche aufdecken. DualBeam-Geräte verfügen über hervorragende FIB-Säulen für hochwertige Querschnitte. Mit der Automatisierung ist eine unbeaufsichtigte Hochdurchsatzverarbeitung von Proben möglich.

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3D-Materialcharakterisierung

Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.

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EDS-Elementanalyse

Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.

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ColorSEM

Unter Verwendung der Live-EDS (energiedispersive Röntgenspektroskopie) mit Live-Quantifizierung verwandelt die ColorSEM Technologie die REM-Bildgebung in eine Farbtechnik. Jeder Anwender kann nun kontinuierlich Elementdaten erfassen, um umfassendere Informationen als je zuvor zu erhalten.

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Querschnitte

Querschnitte bieten zusätzliche Einblicke, indem sie Informationen über tieferliegende Bereiche aufdecken. DualBeam-Geräte verfügen über hervorragende FIB-Säulen für hochwertige Querschnitte. Mit der Automatisierung ist eine unbeaufsichtigte Hochdurchsatzverarbeitung von Proben möglich.

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Products

Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten

Phenom Pharos G2 Desktop-REM

  • FEG-Quelle mit einer Beschleunigungsspannung im Bereich von 2 bis 15 kV
  • Auflösung von < 2,5 nm (SE) und < 4,0 nm (BSE) bei 15 kV; bis zu 1.000.000-fache Vergrößerung
  • Optional vollständig integrierter EDS- und SE-Detektor

Phenom XL G2 Desktop-REM

  • Für große Proben (100 x 100 mm) und ideal für die Automatisierung
  • Auflösung < 10 nm und bis zu 200.000-fache Vergrößerung; Beschleunigungsspannung von 4,8 bis zu 20 kV
  • Optional vollständig integrierter EDS- und BSE-Detektor

Phenom Pro G6 Desktop-REM

  • Hochleistungsfähiges Desktop-REM
  • Auflösung < 6 nm (SE) und < 8 nm (BSE); Vergrößerung bis zu 350.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

Phenom ProX G6 Desktop-REM

  • Hochleistungsfähiges Desktop-REM mit integriertem EDS-Detektor
  • Auflösung < 6 nm (SE) und < 8 nm (BSE); Vergrößerung bis zu 350.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

Phenom Pure G6 Desktop-REM

  • Desktop-REM der Einstiegsklasse
  • Auflösung < 15 nm; Vergrößerung bis zu 175.000-fach
  • Langlebige CeB6-Quelle

Phenom ParticleX AM Desktop-REM

  • Vielseitiges Desktop-REM mit Automatisierungssoftware für die Herstellung von Additiven
  • Auflösung < 10 nm; Vergrößerung bis zu 200.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

Phenom ParticleX TC Desktop-REM

  • Vielseitiges Desktop-REM mit Automatisierungssoftware für technische Sauberkeit
  • Auflösung < 10 nm; Vergrößerung bis zu 200.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

Phenom Perception GSR Desktop-REM

  • Speziell dafür vorgesehenes automatisiertes GSR Desktop-REM
  • Auflösung < 10 nm; Vergrößerung bis zu 200.000-fach
  • Langlebige CeB6-Quelle

Nexsa G2 XPS

  • Mikrofokus-Röntgenquellen
  • Einzigartige Optionen mit mehreren Verfahren
  • Dual-Mode-Ionenquelle für monoatomare und Cluster-Ionentiefenprofilierung

K-Alpha XPS

  • Hochauflösende XPS
  • Schneller, effizienter, automatisierter Arbeitsablauf
  • Ionenquelle für Tiefenprofilierung

ESCALAB Xi+ XPS

  • Hohe spektrale Auflösung
  • Oberflächenanalyse mit mehreren Verfahren
  • Umfangreiche Probenvorbereitungs- und Erweiterungsoptionen

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