Thermo Scientific™

Element GD Plus™ GD-MS

Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD 질량분석기는 전도 물질의 직접 분석을 위한 고분해능 질량분석기에 글로우 방전 이온 소스를 포함한 것이 특징입니다.

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IQLAAEGAAMFABWMAFA	>10¹² 선형, 자동 교차 보정

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동적 범위:

>10¹² 선형, 자동 교차 보정

Thermo Scientific™ Element GD Plus™ GD-MS를 이용해 고체에서 고순도 물질의 분석을 재정립할 수 있습니다. 높은 처리량과 ppb 수준의 매우 낮은 검출 한계를 위해 활용되는 Element GD Plus GD-MS는 일상 및 연구 응용 분야에서 다량의 금속 분석 및 뎁스(depth) 프로파일링을 위한 최적의 기기입니다.

Element GD Plus GD-MS는 동일한 수준의 민감도와 데이터 품질을 가진 전도체 및 비전도체 물질로부터 주기율표에 있는 거의 모든 원소를 분석할 수 있습니다. 또한, 시료 전처리 및 분석을 위한 전용 워크플로우를 통해 갈륨 등의 저융점 금속을 쉽게 분석할 수 있습니다. 이를 통해 GD-MS는 믿을 수 있는 미량 금속 분석용 표준 방법이 되었습니다.

고체 시료에 존재하는 거의 모든 원소를 루틴하게 검출 및 정량할 수 있으며, ppb 수준까지 검출이 가능합니다.

높은 생산성과 낮은 분석 비용
Element GD Plus GD-MS는 높은 시료 처리량에서도 뛰어난 민감도와 정확도를 제공하고 분석 비용을 크게 절감하도록 설계되었습니다.

빠른 유속(Fast-flow) 이온 소스
사용자 친화적인 소스 디자인: 1분 미만의 시료 교환
짧은 펌핑 시간: 10분 미만의 시료 처리 시간
높은 시료 처리량: 시간당 최대 5개의 시료
시료 전처리 감소: 고순도 시료의 산 세척 불필요
더 빠른 시료 분석: 보정 표준물질 측정 불필요

루틴한 작동
Element GD Plus GD-MS는 코어에서 루틴한 작동과 높은 처리량을 핵심으로 설계되었습니다.

10의 12제곱 이상의 선형 동적 범위로 매트릭스 원소(%), 미량(ppm) 및 극미량(ppb)을 동시에 분석할 수 있습니다.
서로 다른 검출 모드 간의 자동 교차 보정을 통해 정밀한 결과를 보장합니다.
시료 진공 챔버: 시료와 GD 셀 간 누출 위험을 제거합니다.
보정 표준물질 없이 단일 스캔 내에서 원소 농도를 빠르게 측정합니다(표준 RSF 접근법 사용).
짧은 분석 시간 내에 최상의 정밀도 제공

뛰어난 검출 한계
Element GD Plus GD-MS는 성능 저하 없이 높은 처리량을 보장합니다. 신호 대 잡음비가 가장 높고 검출 한계가 가장 낮은 Element GD Plus GD-MS는 초고순도 재료의 원소 분석에 최적화된 장비입니다.

높은 이온 투과율을 위해 설계된 고유한 이온 소스로, 분석된 신호를 극대화합니다.
보장된 신호 대 잡음비로 ppb 미만의 검출 한계를 생성합니다.
CNO 옵션은 분석 처리량 저하 없이 CNO에 대한 ppm 이하 수준의 검출 한계를 달성합니다.
정적 GD 소스와 비교하여 다원자 간섭 90% 감소

높은 질량 분해능으로 신뢰할 수 있는 결과
고분해능 ICP-MS의 단순성은 간단하고 신뢰할 수 있는 분석법 개발을 저해하지 않으면서 가장 발전된 성능을 제공합니다.

확실한 분석 결과를 위한 간섭 없는 측정
단일 분석 내에서 모든 분해능 설정 조합 가능
고정 슬릿 설계로 최대의 안정성과 재현성 보장
필터 렌즈로 인해 주변 분석물 피크에 대한 높은 매트릭스 신호의 간섭을 최소화함

나노미터 분해능의 뎁스(depth) 프로파일링
뎁스(depth) 프로파일링은 코팅의 원소 분석과 층간 성분 및 조성비의 변동 추이를 평가하는 중요한 기법입니다.

나노미터에서 수백 마이크로미터에 이르는 뎁스(depth) 분해능
보정할 필요 없이 ppm 미만에서 100%까지 모든 원소의 농도 측정
고급보다 향상된 뎁스(depth) 프로파일링을 위한 유연한 애노드 직경
대량 분석 또는 뎁스(depth) 프로파일링에 맞게 스퍼터(sputter) 속도 조정 가능

추천 응용 분야:

항공우주산업: 니켈 초합금, 복합 재료, 코팅 및 확산층(diffusion layers)의 뎁스(depth) 프로파일링
마이크로일렉트로닉스: 구리, 알루미나 분말, 스퍼터 타겟
재생 가능 에너지: 실리콘 블록, 웨이퍼, 태양광 전지
의료/제약/식품: 스테인리스 스틸, 합금

동적 범위>10¹² 선형, 자동 교차 보정

질량 분해능3종류의 고정 분해능: ≥300, ≥ 4,000, ≥ 10,000

질량 안정성25 ppm/8 hour

전원3-Phase, 230/400 V ± 10%, 50/60 Hz Fused 32 A / Phase

민감도>1 x 10¹⁰ Cps (1.6 x 10^-9 A) for Copper Peak (Peak Height, Total Ion Current) in Medium Resolution

유형GS 질량분석기

Unit SizeEach

자주 묻는 질문(FAQ)

What kinds of data quality and interference removal capabilities does the Element GD Plus offer?

The high-resolution Thermo Scientific Element GD Plus GD-MS helps remove spectral interferences (e.g., matrix elements + discharge gas combinations), giving “interference-free” measurements and simple linear calibration curves. The automatic detector switching and large dynamic range mean analytes and major matrix elements can be measured simultaneously, improving confidence in results. The high sensitivity of the ion source allows for detecting ultra-trace element concentrations down to the ppb-range.

What distinguishes the glow discharge (GD) ion source and mass spectrometer in the Element GD Plus GD-MS system from earlier systems?

Features of the Thermo Scientific Element GD Plus GD-MS system include:
• A microsecond-pulsed, fast-flow glow discharge source, offering high sensitivity, higher sputter rates, and low levels of polyatomic interferences without need for cryo-cooling. It also allows for depth profiling.
• A high-resolution magnetic sector mass spectrometer with three fixed resolution modes (≥300, ≥4,000, ≥10,000) and switching times <1 s.
• Fully automatic detection switching between Faraday and SEM modes, dynamic range >10¹², enabling matrix to ultra-trace analysis in one scan.

What is the detection capability of the Element GD Plus?

The Thermo Scientific Element GD Plus GD-MS system offers detection down to low parts-per-billion (ppb) levels for many elements. It features a dynamic range of more than 12 orders of magnitude (matrix elements in percent through traces in ppb in a single scan) with automatic cross-calibration of detector modes.

What types of samples and materials can the Element GD Plus handle?

The Thermo Scientific Element GD Plus GD-MS offers direct analysis of solid materials (both conductive and many non-conductive) in their solid state, without digestion. It is suited for high-purity metals, alloys, ceramics, pressed powders, thin layers/coatings, etc.