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Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope
The Thermo Scientific Talos F200S (S)TEM is a (scanning) transmission electron microscope that combines outstanding high-resolution STEM and TEM imaging with industry-leading energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS). The Talos F200S (S)TEM features great versatility and high through in STEM imaging and allows for precise EDS analysis and high-resolution TEM (HRTEM) for dynamic microscopy.
Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope advantages
The Thermo Scientific Talos F200S 200kV (S)TEM combines fast, multichannel, high-resolution (S)TEM imaging and precise compositional analysis to enable dynamic microscopy applications. With innovative features designed to increase throughput, precision, and ease of use, the Talos (S)TEM is ideal for advanced research and analysis across academic, government, and industrial research environments.
Intuitive software
Features Thermo Scientific Velox Software for fast and easy acquisition and analysis of multimodal data.
Precise chemical composition data
Rapid, precise, quantitative EDS analysis using two in-column Thermo Scientific SDD Super-X Detectors with unique cleanliness, revealing nanoscale details.
Better image data
High-throughput (S)TEM imaging with simultaneous, multiple signal detection delivers better contrast for high quality images.
Upgrade
Can be field upgraded to the Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM.
Increased stability
Reduced environmental sensitivity thanks to the instrument enclosure, which moderates the impact of air pressure waves, air flows, and fine temperature variations in the TEM room.
Space for more
Add application-specific in situ sample holders for dynamic experiments.
Hoja de estilo para las especificaciones de la tabla de productos
| HRTEM line resolution |
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| HRSTEM [nm] |
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| Total beam current FEG |
|
| EDS system |
|
| EDS energy resolution |
|
| Fast EDS mapping |
|
| EDS Net solid angle |
|
Style Sheet for Komodo Tabs
Publication list for Talos for Materials Science
Publication list for Talos for Materials Science
Control de proceso
La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.
Control de calidad
El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.
Investigación sobre materiales fundamentales
Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.
Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
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Tomografía EDS en 3D
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
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Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Espectroscopía de pérdida de energía de electrones
La investigación en ciencias de los materiales se beneficia de la EELS de alta resolución para una amplia gama de aplicaciones analíticas. Esto incluye asignación elemental de alto rendimiento, alta relación señal-ruido, así como sondeo de estados de oxidación y fonones de superficie.
Experimentación in situ
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Análisis de escala múltiple
Los novedosos materiales se deben analizar a una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis de escala múltiple permite la correlación de varias herramientas y modalidades de obtención de imágenes, tales como microTC de rayos X, DualBeam, PFIB láser, SEM y TEM.
Flujo de trabajo de partículas automatizado
El flujo de trabajo de nanopartículas automatizado (APW) es un flujo de trabajo de microscopio electrónico de transmisión para el análisis de nanopartículas que proporciona adquisición de imágenes de área extensa y de alta resolución, además de adquisición de datos en nanoescala, todo ello con un procesamiento sobre la marcha.
Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
Tomografía EDS en 3D
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Espectroscopía de pérdida de energía de electrones
La investigación en ciencias de los materiales se beneficia de la EELS de alta resolución para una amplia gama de aplicaciones analíticas. Esto incluye asignación elemental de alto rendimiento, alta relación señal-ruido, así como sondeo de estados de oxidación y fonones de superficie.
Experimentación in situ
La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Análisis de escala múltiple
Los novedosos materiales se deben analizar a una resolución cada vez mayor, manteniendo el contexto más amplio de la muestra. El análisis de escala múltiple permite la correlación de varias herramientas y modalidades de obtención de imágenes, tales como microTC de rayos X, DualBeam, PFIB láser, SEM y TEM.
Flujo de trabajo de partículas automatizado
El flujo de trabajo de nanopartículas automatizado (APW) es un flujo de trabajo de microscopio electrónico de transmisión para el análisis de nanopartículas que proporciona adquisición de imágenes de área extensa y de alta resolución, además de adquisición de datos en nanoescala, todo ello con un procesamiento sobre la marcha.
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