El espectrómetro MagnaRay está tan bien integrado con el sistema de microanálisis por rayos X Thermo Scientific Noran System 7 que puede ser difícil detectar la operación. MagnaRay determina automáticamente los elementos que deben analizarse y realiza todas las operaciones de WDS mientras el detector EDS está aún adquiriendo datos. Los datos de configuración y funcionamiento del espectrómetro los maneja automáticamente el sistema experto. Sea para la superposición de picos, la confirmación de elementos traza o el análisis cuantitativo preciso, MagnaRay realiza el análisis fácil y rápidamente.

WDS Precision and Confidence with EDS Ease

• Resultados de microanálisis sin parangón
• Alta resolución
• Sensibilidad de elementos traza
• Cobertura permanente de todo el rango espectral
• Valores de sensibilidad garantizados

Speed and Precision

• El diseño revolucionario, con mecanismos de accionamiento directo de cristales de difracción y contadores, permite al MagnaRay cambiar entre elementos a una velocidad de 0,25 segundos —facilitando un análisis rápido de numerosos elementos en el mismo tiempo que los espectrómetros WDS tardan en desplazarse desde el primer elemento.
• Los codificadores acoplados al sistema de accionamiento directo garantizan una precisión angular superior a 0,001 grados —asegurando la posición correcta de los picos WDS.

SEM and Low Voltage Applications

• La óptica de rayos X alcanza al interior de la cámara SEM, igual que un detector EDS de estado sólido.
• Ideal para aplicaciones donde factores como la alta sensibilidad, la detección de elementos ligeros, el solapamiento de picos, la buena relación pico-fondo o una resolución espacial elevada resultan cruciales.
• Ofrece un alto nivel de rendimiento de las aplicaciones en condiciones de baja corriente del haz y bajo voltaje.

Sensitivity

• El diseño de la trayectoria de los rayos X incorpora una óptica de enfoque que transforma la emisión de rayos X divergentes de la muestra en un haz intenso paralelo que a continuación experimenta la difracción Bragg mediante uno de los cristales de difracción.
• Proporciona una velocidad de recuento excelente a altas y bajas energías, mediante una tecnología óptica patentada de enfoque de rayos x híbrida que incluye lentes de incidencia rasante y policapilar. La óptica híbrida está unida por un contador proporcional de Xenon sellado, con capacidad para energías bajas, que simplifica el diseño y el funcionamiento y mejora la velocidad de procesamiento de todos los elementos respecto al diseño de los contadores proporcionales del caudal de gas.

Nanoscale Analysis

• Las excelentes relaciones pico-fondo y magníficas velocidades de captación de rayos X hacen del WDS un espectrómetro idóneo para el análisis elemental de trazas. Las condiciones de funcionamiento vienen determinadas por la muestra y el SEM —no por el espectrómetro.
• Preparado para funcionar en las condiciones extremas de algunos análisis de materiales de nanoescala modernos: el nanoanálisis basado —en SEM es una realidad.
• Soluciona la carga de las muestras y los problemas de deterioro de las muestras que aparecen con el WDS tradicional de alta corriente y alta energía.
• Ideal para muestras donde un volumen de interacción pequeño es crucial, como nanopartículas o películas delgadas.
• Incorpora las mejores características de WDS sin los requisitos perjudiciales de alta tensión de aceleración o alta corriente del haz.

Qualitative Analysis

• Mejora el análisis cualitativo de muestras al ayudar al sistema EDS cuando se produce un solapamiento importante.
• Determina automáticamente la presencia o ausencia de elementos tales como Mo, S, Pb o Si, Ta, W, durante la adquisición EDS, donde los solapamientos son graves en el espectro EDS.

Quantitative Analysis

• El sistema experto integrado elimina las preocupaciones sobre la posición de las muestras, la corriente del haz y la configuración del espectrómetro.
• La alineación del espectrómetro se ajusta automáticamente cuando es necesario.
• Se elige el elemento más adecuado, y la muestra y el espectrómetro se alinean, para alcanzar un funcionamiento óptimo, con la información del espectro EDS. La medición automática de la corriente del haz asegura la exactitud de los resultados cuantitativos.

X-ray Maps and Linescans

• La tecnología WDS ofrece una relación pico-fondo intrínsicamente superior a la de los mapas de rayos X de EDS, ya que produce mapas de rayos X y barridos lineales con alto contraste para materiales de niveles bajos de concentración.
• La obtención de barridos lineales —y mapas WDS es muy fácil. Basta con seleccionar una línea de elementos de la tabla periódica del software NORAN System 7.
• Todos los parámetros del espectrómetro se configuran automáticamente para las mejores condiciones de funcionamiento posibles.
• La integración completa y transparente de WDS dentro del programa NORAN System 7 significa que un operador de EDS tiene la formación necesaria para los análisis WDS.