Thermo Scientific™

Sistema de Datos Avantage

Número de catálogo: IQLAADGACKFAKRMAVI
Thermo Scientific™

Sistema de Datos Avantage

Número de catálogo: IQLAADGACKFAKRMAVI
El sistema de datos Thermo Scientific Avantage para análisis de superficies integra las funciones de control instrumental, adquisición y procesamiento de datos, y generación de informes.

Disponer de un potente sistema de datos es esencial para los instrumentos analíticos modernos. El control instrumental preciso, exacto y fiable es necesario para que el analista confíe en las determinaciones. Para ofrecer la máxima capacidad de extracción de información de los datos se necesitan rutinas avanzadas de procesamiento de datos. La mayor automatización posible del proceso analítico permite al laboratorio moderno funcionar con una eficiencia máxima. Todos estos requisitos se satisfacen con Avantage, el sistema de datos puntero del sector del análisis de superficies.

 
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IQLAADGACKFAKRMAVI
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Descripción
Avantage Data System
Especificaciones completas
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Para que el analista pueda exprimir todo el potencial de un espectrómetro de electrones es vital que disponga de un sistema de datos de calidad. Avantage proporciona un control instrumental y una adquisición de datos completos. La naturaleza integrada del sistema de datos significa que la adquisición, el tratamiento y la generación de informes de los datos se pueden incluir en una sola receta. Avantage se hace cargo de todo el proceso analítico, desde la muestra hasta el informe.
  • Basado en el sistema operativo Windows™
  • Fácil de conectar en red, permite el acceso y control a distancia del instrumento
Adquisición de datos

Avantage controla todos los aspectos de la adquisición de datos, si corresponde, lo que incluye:

  • Alineación de la muestra
  • El espectrómetro, sus lentes y detector asociados
  • Fuentes de rayos X monocromáticas y no monocromáticas
  • Cañón de electrones de emisión de campo
  • Cañón de iones
  • Cañón de electrones de baja intensidad
Alineación de la muestra
  • Para la espectrometría de fotoelectrones de rayos X (XPS), la imagen del microscopio del sistema puede presentarse en el ordenador de sobremesa
  • Las posiciones para el análisis se pueden seleccionar desde la imagen
  • Los marcadores pueden colocarse en la imagen óptica activa para seleccionar la posición de análisis La imagen óptica se almacena para incluirla en los informes. Para Auger, se utiliza una imagen de microscopio electrónico de barrido (SEM) en lugar de la imagen óptica para alinear la muestra
Adquisición de datos mediante el árbol de experimentos
  • Todos los parámetros del experimento se pueden controlar, en cualquier combinación, en un solo experimento mediante el concepto de árbol del experimento
  • Las diversas partes del experimento se definen como objetos de un árbol
  • Conforme el experimento avanza, se realizan las instrucciones contenidas en cada objeto Cuando hay una rama en cualquier objeto concreto, las instrucciones contenidas en la rama se realizan antes de continuar con el siguiente objeto del mismo nivel jerárquico
  • La estructura de árbol es similar a la de directorios del Explorador de Windows
  • Las secciones del árbol del experimento se pueden copiar y pegar o importar de otros experimentos, del mismo modo en que archivos o carpetas se mueven dentro del Explorador de Windows
  • El árbol puede acoger múltiples tipos de muestras y experimentos junto con las etapas de procesamiento de datos y generación de informes
  • El árbol del experimento se puede almacenar y recuperar, ofreciendo una receta para un tipo de análisis concreto
Procesamiento de datos
  • Como sistema de datos integrado, Avantage puede procesar los datos en su conjunto durante su adquisición
  • Para trazabilidad, todos los pasos de procesamiento que modifican los datos se incluyen en el registro del seguimiento de control
  • Avantage es exclusivo por su habilidad para tratar con datos XPS con resolución angular (datos ARXPS)
Avantage contiene un amplio conjunto de herramientas de procesamiento de datos, que incluye:
  • Herramienta avanzada para identificación de picos y asesoramiento de estados químicos
  • Cuantificación, que puede ser automática o realizarse mediante los datos introducidos por el analista
  • Ajuste de picos rápido y útil en cualquier nivel de conjuntos de datos de varios niveles (por ejemplo, imágenes de perfiles y espectros)
  • Ajuste no lineal por mínimos cuadrados acoplado con factor de selección y análisis de componentes principales para el tratamiento de grandes conjuntos de datos
  • Creación de perfiles en profundidad cuantificados
  • Generación de espectros de áreas de una imagen
  • Herramientas de tratamiento de imágenes
El software contiene completas herramientas de procesamiento, incluyendo:
  • La representación gráfica de profundidad relativa que permite ordenar las capas ultradelgadas que deben determinarse
  • Un calculador de espesor de cada una de las capas de una pila de capas ultradelgadas
  • Generación de un perfil en profundidad no destructivo de datos ARXPS
  • Mapas de espesor de láminas ultradelgadas
Calibración y alineación
  • Avantage incluye rutinas para calibrar y alinear instrumentos XPS, según proceda
  • Se mantiene un registro del historial de calibración para garantizar una trazabilidad total

Figuras

Documentos y descargas

Certificados

    Preguntas frecuentes

    Citas y referencias

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