사양
베이스라인 평탄도±0.0010 A, 200 to 800 nm, 1.0 nm SBW, smoothing
인증/적합성ISO 9001:2008
연결USB or RS-232
설명Evolution 201 UV-Vis Spectrophotometer, Computer Control, includes Euro/US/UK power cords
치수(길이 x 폭 x 높이)62.2 x 48.6 x 27.9 cm (24 x 19 x 11 in.)
드리프트<0.0005 A/hr., 500 nm, 1.0 nm SBW, 1 hr. warmup
전기 요구사항100/240 V, 50/60 Hz selected automatically, 150 W maximum
보유Cuvettes up to 100 mm
포함EU/US/UK power cords
램프 수명7 years typical
노이즈0A: <0.00015A;
1A:<0.00025A;
2A: <0.00080A;
260 nm, 1.0 nm SBW, RMS
광학 디자인Double Beam with sample and reference cuvette positions; Czerny-Turner Monochromator
약전 규정 준수 검사Photometric Accuracy (60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A
Stray Light: ≤1%T at 198 nm: KCI; ≤0.05%AT at 220 nm: Nal, Kl
Wavelength Accuracy: ±.5 nm 541.9, 546.1nm Hg emission lines, ±0.8 nm full range
Wavelength Repeatability: ≤0.05 nm, repetitive scanning of 546.1 nm Hg emission line
광도 디스플레이-0.3 to 4.0A
광도 범위>3.5A
광도 반복성±0.0002 A
프로세서Microsoft Windows 7, Windows 8
스캔 좌표 모드Absorbance, % Transmittance, % Reflectance, Kubelka-Munk, log (1/R). log (Abs) Abs*, Intensity
스캔 속도<1 to 6000 nm/min. (Variable)
워런티3 Years
와트150 W max.
파장 정확도±0.5 nm (541.9, 546.1 nm mercury lines), ±0.8 nm (full range 190 to 1100 nm)
파장 데이터 간격10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm
파장 반복성≤0.05 nm (546.1 nm mercury line, SD of 10 measurements)
중량(영국식 단위)32 lb.
중량(미터법)14.4 kg
검출기 유형Dual Silicon Photodiodes
디스플레이No Display
제품라인Evolution 201
스펙트럼 대역폭1 nm
유형Computer Control Spec
Wavelength Range190 to 1100 nm
Unit SizeEach