사양
베이스라인 평탄도±0.0015 A(200–800nm)
2.0nm SBW, 평탄화
빔 중심 높이8.5mm
치수(길이 x 폭 x 높이)53 x 61 x 38cm / 20.8 x 24 x 14.9in.
드리프트<0.0005Abs/h, 500nm, 2.0nm SBW, 2시간 예열
전기 요구사항100–240V, 50–60 Hz
용도(애플리케이션)학술, 화학, 식품 및 음료, 화학물질 환경, 산업 QA/QC, 재료과학, 제약
램프 수명>5 years or longer if not using live signal
노이즈측광 0A: <0.00018A
1A: <0.00022A
2A: <0.00050A
500nm, 2.0nm SBW, RMS
광학 디자인수정된 Ebert; 이중 빔(시료 및 기준 큐벳/액세서리 위치)
약전 규정 준수 검사파장 정확도: ±0.3nm 190–900nm
파장 반복성: SD 10 측정 <0.1nm
흡광도 정확도: <±1A에서 0.010A, <±2A에서 0.010A
흡광도 반복성: ±1A에서 0.0025A
미광: 198nm(KCl) >2A, 220nm(NaI) >3A, 300nm(아세톤) >3A, 340nm(NaNO2) >3A 분해능: 최고/최저 비율 >1.8(1nm SBW 설정에서)
광도 정확도1A: ±0.004A, 2 A: ±0.004A. 3A: ±0.006.
광도 디스플레이±6A
광도 범위>4A
광도 반복성1A: ±0.0025A
스캔 좌표 모드흡광도, % 투과율, % 반사율, Kubelka-Munk,
Log(1/R), Log(Abs), ABS × 계수, 강도, 1차–4차 유도체
스캔 속도가변적, 최대 6000nm/min
미광198nm: 2.4 A KCl
220nm: 3.5 A NaI
340nm: 4.0 A NaNO2
워런티3y Source Replacement Warranty
파장 정확도±0.20nm(546.11nm Hg 방출선), ±0.30nm 190–900nm
파장 데이터 간격10, 5, 2, 1, 0.5, 0.2, 0.1, 0.05nm
파장 반복성10회 측정 시 표준 편차 <0.05nm
중량(영국식 단위)48.5lbs
중량(미터법)22kg
검출기 유형이중 매치 실리콘 광다이오드
광원제논 플래시 램프
일반적인 수명: >5년 실시간 신호를 사용하지 않는 경우 수명 연장
보증 기간: 3년 광원 교체 보증 스펙트럼 대역폭0.5, 1.0, 1.5, 2.0, 4.0nm 중 선택 가능
유형UV-Vis Spectrophotometer
Wavelength Range190–1100nm
Unit SizeEach