Thermo Scientific™

Talos F200E TEM

카탈로그 번호: TALOS-F200E-TEM
기술지원고객센터
Talos F200E TEM
Thermo Scientific™

Talos F200E TEM

카탈로그 번호: TALOS-F200E-TEM
기술지원고객센터
The Thermo Scientific Talos F200E (Scanning) Transmission Electron Microscope provides high-resolution STEM and TEM imaging with minimal distortion, combined with high-throughput energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) functionality, tailored for a wide range of semiconductor defect analysis and research applications.
 
카탈로그 번호
TALOS-F200E-TEM
제품 사이즈
Each
제품 정가(KRW)
견적 요청하기
전체 사양
설명200 kV TEM and STEM microscope
유형STEM Microscope
분해능≤0.16 nm
Unit SizeEach
1 / 1 표시
카탈로그 번호사양제품 사이즈제품 정가(KRW)
TALOS-F200E-TEM전체 사양
Each견적 요청하기
설명200 kV TEM and STEM microscope
유형STEM Microscope
분해능≤0.16 nm
Unit SizeEach
1 / 1 표시
  • High-throughput, multi-purpose TEM with low-distortion imaging for a wide range of applications
  • 200 kV TEM and STEM for repeatable, high-volume analysis of a broad range of semiconductor and microelectronic devices.

그림

문서 및 다운로드

Certificates | 증명서

Lot 번호 또는 부분 Lot 번호로 검색하십시오.
COA 요청

    자주 묻는 질문(FAQ)

    인용 및 참조 문헌

    Search citations by name, author, journal title or abstract text