Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible Celestron™

Descubra cuál será el comportamiento de sus dispositivos con tensión de ESD con una sistema de pruebas de línea de transmisión de pulsos que proporciona una caracterización rápida y precisa de semiconductores avanzados.

Número de catálogo	Tipo de producto
10133210	Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible

Número de catálogo 10133210

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Tipo de producto:

Sistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible

Diseñe y desarrolle productos semiconductores que toleren eventos de descarga electrostática (ESD) con un sistema de pruebas TLP/VF-TLP flexible. El Sistema de pruebas Thermo Scientific™ TLP/VF-TLP de sobremesa flexible Celestron™ proporciona una caracterización fiable de estructuras semiconductoras avanzadas en distintos estresores. El sistema se puede configurar para pulsos de línea de transmisión (TLP), pulsos de línea de transmisión muy rápidos (VF−TLP), ESD modelo de cuerpo humano, ESD modelo de máquina para las pruebas a nivel de obleas o de paquetes. También se pueden utilizar sondas opcionales para medir las señales de los pines o almohadillas que no se someten a estrés.

El software del sistema Celestron es el más completo del sector. Durante las operaciones de pruebas muestra las formas de onda actuales y la tensión de pulsos TLP registrados, la curva I-V pulsada compilada, la medición de fugas de corriente y los datos de seguimiento de curva I-V de CC. El operador puede seleccionar el intervalo de tensiones de prueba (pulsos de tensión), la polaridad de los pulsos y los parámetros de seguimiento de curva y fuga. La posición y la duración del periodo de medición del TLP solo se pueden seleccionar y modificar después de recopilar los datos.

Caracterización de TLP a nivel de obleas y de paquetes
Controlador de sistema basado en Windows™ integrado
Generador de TLP con capacidad de 40 A
TLP estándar: duración de pulso de 100 ns
VF-TLP: duración de pulso de 10 ns
Duraciones opcionales disponibles, seleccionables de forma manual y por software
Tiempos de subida de pulsos opcionales, seleccionables de forma manual y por software
Varios modos de prueba disponibles, TDR-O, TDR-S, TDT, TDRT, Hi-Z TDRT
Mediciones de Kelvin para las pruebas de nivel de obleas
Unidad de medición/fuente integrada para mediciones de I-V de CC detalladas
Suministro de tensión polarizada opcional (máximo de 5) controlado por ordenador para mediciones y pruebas con energía
Puede conectarse con sondas semiautomáticas
Software avanzado e intuitivo para el control y la generación de informes
Pequeño tamaño de sobremesa
Una sola configuración para las pruebas de TLP y VF-TLP.

Especificaciones

Certificaciones/conformidadPulsos de línea de transmisión (TLP): diseñado conforme al documento actualizado de prácticas estándar de la asociación ESD

Dimensiones (Largo x Ancho x Alto)23 x 22 x 24.5 in. (58.5 x 56 x 62.25 cm)

Hertz50/60 Hz

Rango de humedadDel 10 al 80 %, sin condensación

Detalles de las especificacionesOpciones:
Suministro de tensión polarizada de hasta ± 50 V y placas de fijación de prueba (DUT) de 2 A
Software de interfaz de sonda semiautomática
Líneas de carga personalizadas (anchura de pulsos): de 30 ns a 200 ns
Líneas de carga de VF-TLP: de 1,2 a 10 ns
Cables de TDR-S/retraso de tiempo personalizado: de 10 ns a 200 ns
Anchura de pulsos variable y tiempos de subida de 0,2 a 20 ns
Cambio de ordenadores entre 3 anchuras de pulso
Cambio de ordenadores entre 3 tiempos de subida
Agujas de sonda de obleas sólidas y coaxiales
Sondas de Kelvin para eliminar la resistencia de contacto de la oblea
Sondas de obleas de terreno adicionales (solo para TDR y TDT)
Sondas de obleas con puntas de distinto radio, tungsteno y cobre

Intervalo de temperaturaDe 5 a 44 °C (de 40 a 112 °F)

Peso (imperial)Peso del sistema patrón: 85 libras; peso con embalaje: 200 libras

Peso (métrico)Peso del sistema patrón: 38,6 kg; peso con embalaje: 91 kg

Tipo de productoSistema de pruebas TLP/VF-TLP de sobremesa flexible

Test Voltage RangeUp to 2000 V

Tensión120/240 VCA

Unit SizeEach