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Espectrofotómetro UV-Vis Evolution™ 350
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| Número de catálogo | Tipo | Garantía |
|---|---|---|
| 840-310800 | Espectrofotómetro UV-Vis | Garantía de sustitución de fuente de 3 años |
| 912A0959 | Espectrofotómetro UV-Vis con lámpara de mercurio | Garantía de sustitución de fuente de 3 años |
Número de catálogo 840-310800
Precio (MXN)
-
Tipo:
Espectrofotómetro UV-Vis
Garantía:
Garantía de sustitución de fuente de 3 años
New sales of this model have been discontinued. Please see the newest models: the Evolution Pro Spectrophotometers.
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Especificaciones
Planicidad de línea de base±0,0015 A (200–800 nm)
2,0 nm de SBW, fluido
2,0 nm de SBW, fluido
Altura del centro del haz8,5 mm
Dimensiones (Largo x Ancho x Alto)53 x 61 x 38 cm/20,8 x 24 x 14,9 pulg
Desviación<0,0005 ABS/hora, 500 nm, 2,0 nm de SBW, 2 horas de calentamiento
Requisitos eléctricos100–240 V, 50–60 Hz
Para utilizar con (aplicación)Académico, productos químicos, alimentos y bebidas, productos químicos medioambientales, QA/QC industriales, ciencia de los materiales, sector farmacéutico
Vida útil de la lámpara>5 años o más si no se utiliza la señal activa
RuidoPhotométrique
0A: <0,00018 A
1 A: <0,00022 A
2A: <0,00050 A
500 nm, 2,0 nm de ancho de banda espectral, RMS
Diseño ópticoEbert modificado; haz doble con posiciones de muestra y cubeta de referencia/accesorios
Pruebas de conformidad con la farmacopeaExactitud de longitud de onda: ±0,3 nm 190–900 nm
Repetibilidad de la longitud de onda: SD, 10 mediciones <0,1 nm
Precisión de absorbancia: <±0,010 A a 1 A, <±0,010 A a 2 A
Repetibilidad de absorbancia: ±0,0025 A a 1 A
Luz difusa: 198 nm con KCl >2 A, 220 nm con NaI >3 A, 300 nm con acetona >3 A, 340 nm con NaNO2 >3 A Resolución: Relación pico/canal >1,8 a 1 nm de ajuste SBW
Repetibilidad de la longitud de onda: SD, 10 mediciones <0,1 nm
Precisión de absorbancia: <±0,010 A a 1 A, <±0,010 A a 2 A
Repetibilidad de absorbancia: ±0,0025 A a 1 A
Luz difusa: 198 nm con KCl >2 A, 220 nm con NaI >3 A, 300 nm con acetona >3 A, 340 nm con NaNO2 >3 A Resolución: Relación pico/canal >1,8 a 1 nm de ajuste SBW
Exactitud fotométrica1 A: ±0.004 A, 2 A: ±0.004 A,3 A: ±0.006 A
Pantalla fotométrica± 6 A
Intervalo fotométrico> 4 A
Repetibilidad fotométrica1A: ± 0,0025 A
Modos de explorar ordenadasAbsorbancia, % de transmitancia, % de reflectancia, Kubelka-Munk,
Log(1/R), Log(Abs), ABS × factor, intensidad, 1.º–4.º derivado
Log(1/R), Log(Abs), ABS × factor, intensidad, 1.º–4.º derivado
Velocidad de barridoVariable, hasta 6000 nm/min.
Luz difusa198 nm: 2,4 A KCl
220 nm: 3,5 A NaI
340 nm: 4,0 A NaNO2
220 nm: 3,5 A NaI
340 nm: 4,0 A NaNO2
GarantíaGarantía de sustitución de fuente de 3 años
Exactitud de la longitud de onda±0,20 nm (línea de emisión de 546,11 nm Hg), ±0,30 nm 190–900 nm
Intervalo de datos de longitud de onda10, 5, 2, 1, 0,5, 0,2, 0,1, 0,05 nm
Repetibilidad de longitud de ondaDesviación estándar de 10 mediciones <0,05 nm
Peso (imperial)48,5 libras
Peso (métrico)22 kg
Tipo de detectorDos fotodiodos de silicio coincidentes
Fuente de luzFlash de xenón
Ancho de banda espectralDisponible: 0,5, 1,0, 1,5, 2,0, 4,0 nm
TipoEspectrofotómetro UV-Vis
Wavelength Range190–1100 nm
Unit SizeEach