La microsonda del espectrómetro de fotoelectrones con fuente de rayos X (XPS) ESCALAB 250Xi, está equipada con un monocromador de rayos X microfocalizador diseñado para ofrecer un rendimiento óptimo de los análisis de XPS, y garantiza un máximo redimiento en el procesamiento de muestras. La capacidad multitécnica y la disponibilidad de diversas cámaras de preparación y dispositivos ofrecen la solución a cualquier problema de análisis de superficies. Gracias al avanzado sistema Avantage de adquisición y procesamiento de datos, es posible extraer la máxima información a partir de los datos.

Características de la microsonda del espectrómetro de fotoelectrones con fuente de rayos X (XPS) ESCALAB 250Xi:

• Espectroscopía de alta sensibilidad.
• XPS para áreas pequeñas.
• Capacidad de realización de perfiles en profundidad.
• XPS con resolución angular.
• Espectroscopía de dispersión de iones (ISS) en sistema básico.
• Espectroscopía de pérdida de energía de los electrones en reflexión (REELS) en sistema básico.
• Cámara «Preploc» en sistema básico.
• Versatilidad analítica multitécnica.
• Muchas opciones de preparación de muestra.
• Análisis automatizado sin supervisión.
• Análisis multimuestra.

Monocromador de rayos X

• El monocromador microfocalizador de cristal doble tiene un círculo de Rowland de 500 mm y utiliza un ánodo de Al.
• Existe la posibilidad de seleccionar el tamaño del spot de rayos X en muestra en el rango de 200 a 900 μm.

Lente, analizador y detector

• La combinación de lente/analizador/detector hace del espectrómetro de XPS ESCALAB 250Xi un sistema único tanto para adquirir imágenes como para XPS de áreas reducidas.
• La existencia de dos tipos de detectores garantiza una detección óptima para cada tipo de análisis: el detector bidimensional se utiliza para la adquisición de imágenes y el detector basado en canales multiplicadores de electrones se utiliza cuando deben detectarse altas tasas de recuento.
• La lente cuenta con dos mecanismos de iris controlados por ordenador. Uno permite al usuario controlar el campo de visión de la lente hasta < 20 μm para el análisis de áreas pequeñas, mientras que el otro sirve para controlar la apertura angular de la lente, un factor esencial para la XPS con resolución angular de alta calidad.
• Analizador hemisférico de 180°.

Realización de perfiles de profundidad

• El cañón de iones EX06 controlado digitalmente es una fuente de iones de alto rendimiento incluso cuando se utilizan iones de baja energía.
• Dispone de rotación azimutal de muestras.
• Capacidad multitécnica.
• Posibilidad de albergar otras técnicas analíticas sin alterar el rendimiento del XPS.
• Inversión de las fuentes de alimentación de las lentes y del analizador en el cañón de iones EX06 (la espectroscopía de dispersión de iones [ISS] siempre está disponible).
• El cañón de electrones puede funcionar a un máximo de 1000 V y es un recurso excelente para REELS.

Técnicas opcionales

• XPS con fuente de rayos X no monocromática.
• AES (espectroscopía de electrones Auger).
• UPS (espectroscopía de fotoelectrones ultravioleta).

Sistema de vacío

• La cámara de análisis de mu-metal de 5 mm de grosor maximiza la eficacia del apantallamiento magnético.
• Ofrece mejores resultados que los métodos de apantallamiento que emplean protecciones internas o externas.

Preparación de muestras

• El sistema básico consta de una cámara combinada de bloqueo de entrada y preparación.
• Existen otras cámaras de preparación adicionales.

Sistema de datos Avantage

• Integra todos los aspectos del análisis, lo que incluye control instrumental, adquisición y procesamiento de datos y generación de informes
• Permite el control remoto y la fácil comunicación con programas de otros fabricantes, como Microsoft Word.
• Gestiona todo el proceso analítico, desde la muestra hasta el informe.