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ELECTRICAL FAILURE ANALYSIS SYSTEMS
Meridian S System
Static optical fault isolation solution for semiconductor failure analysis and service labs.
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The Thermo Scientific Meridian S System is designed to perform inverted photon emission (EMMI) and laser scanning microscopy analysis on devices stimulated by static bias via probe card or micro-probes. With the overall cost of ownership for the system being a critical aspect of profitability, the Meridian S System offers a range of photon emission options, dual-side probing flexibility and an upgrade path to dynamic optical fault isolation capabilities such as laser voltage imaging/probing and soft defect localization.
The Meridian S System is designed for use in failure analysis labs worldwide, aiding in:
- Identification of systematic process, design or integration issues
- Isolation of root cause for random electrical failures
Fault Diagnostic with Active Probe Technology
High-sensitivity, lock-in capable, noise-eliminating static laser stimulation/optical beam induced resistance change (SLS/OBIRCH) detection enabled by Fault Diagnostic with Active Probe Technology.
Photon emission
Photon emission options spanning a range of sensitivity requirements for isolating shorts, detecting areas of excess leakage, and mapping active regions.
Ease-of use
Probing setup and software designed for ease-of-use and productivity.
Scalable and upgradable
Fully scalable and upgradable optical platform.
Hoja de estilo para las especificaciones de la tabla de productos
Inverted optical system |
Combo system: LSM + PEM standard, with optional LSM-only or PEM-only configurations |
220VAC, 50Hz/60Hz |
Standard 9” x 9” load board interface, plus customizable alternatives |
Dual-side microprobing and Probe Card configurations available |
Stage repeatability ≤2μm |
Optional laser marker for defect redetection |
Desarrollo y trazabilidad de semiconductores
Microscopía electrónica avanzada, haz de iones enfocado y técnicas analíticas asociadas para identificar soluciones viables y métodos de diseño para la fabricación de dispositivos semiconductores de alto rendimiento.
Análisis de fallos de semiconductores
Las estructuras de dispositivos semiconductores cada vez más complejas dan lugar a que existan más ubicaciones en las que se oculten los defectos inducidos por fallos. Nuestros flujos de trabajo de última generación le ayudarán a localizar y caracterizar los sutiles problemas eléctricos que afectan a la producción, al rendimiento y a la fiabilidad.
Style Sheet for Komodo Tabs
Aislamiento de fallo óptico
Los diseños cada vez más complejos complican el aislamiento de fallos y defectos en la fabricación de semiconductores. Las técnicas de aislamiento óptico de fallos le permiten analizar el rendimiento de los dispositivos activos eléctricamente para localizar defectos críticos que causan fallos en el dispositivo.
Aislamiento de fallo óptico
Los diseños cada vez más complejos complican el aislamiento de fallos y defectos en la fabricación de semiconductores. Las técnicas de aislamiento óptico de fallos le permiten analizar el rendimiento de los dispositivos activos eléctricamente para localizar defectos críticos que causan fallos en el dispositivo.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Servicios de microscopía electrónica para
Semiconductores
Para garantizar un rendimiento óptimo del sistema, le proporcionamos acceso a una red de expertos de primer nivel en servicios de campo, asistencia técnica y piezas de repuesto certificadas.
Recursos y asistencia para la microscopía electrónica
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards