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Phenom ParticleMetric particle analysis software
Integrated Thermo Scientific Phenom ParticleMetric Software allows you to gather morphology and particle size data for numerous sub-micron particle applications with any Phenom Desktop SEM. The fully automated measurements of ParticleMetric Software allow a level of visual exploration beyond optical microscopy that can lead to new discoveries and innovations in powder design, development, and quality control.
Phenom ParticleMetric Software provides insightful data about your particles quickly and easily; these insights can help you improve the quality of your products and expedite your research.
Online and offline analysis
Integrated within Thermo Scientific Phenom ProSuite Software for online and offline analysis.
Correlating features
Correlate particle features such as diameter, circularity, aspect ratio and convexity.
Advanced detection algorithm
Features an advanced detection algorithm with default settings for non-expert user and advanced settings for experts.
Automated image mapping
Create image datasets with complimentary automated image mapping software.
Style Sheet for Products Table Specifications
Particle size range |
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Particle detection |
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Speed |
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Measured properties |
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Particle parameters |
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Digital image detection |
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Output |
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Part of ProSuite Software |
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Style Sheet for Komodo Tabs
SEM image of plastic particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of metal particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of non-dairy creamer granules, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of paracetamol (acetaminophen) powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of graphite powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of plastic particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of metal particles, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of non-dairy creamer granules, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of paracetamol (acetaminophen) powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
SEM image of graphite powder, produced with Phenom ParticleMetric Software.
Limpieza técnica
Más que nunca, la fabricación moderna necesita componentes fiables y de calidad. Con la microscopía electrónica de barrido, el análisis de limpieza de las piezas se puede llevar a cabo internamente, lo que le proporciona una amplia gama de datos analíticos y acorta su ciclo de producción.
Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Tomografía EDS en 3D
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
_Technique_800x375_144DPI.jpg)
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Espectroscopia de energía dispersiva
La espectroscopía de energía dispersiva (EDS) recopila información elemental detallada junto con imágenes de microscopía electrónica, proporcionando un contexto de composición esencial para las observaciones de EM. Con EDS, se puede determinar la composición química desde barridos de superficie rápidos y holísticos hasta átomos individuales.
Tomografía EDS en 3D
La investigación de materiales modernos depende cada vez más del análisis a nanoescala en tres dimensiones. La caracterización en 3D, incluidos los datos de composición para el contexto químico y estructural completo, es posible con EM en 3D y espectroscopia de rayos X dispersiva.
Análisis elemental EDS
EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.
Asignación elemental a escala atómica con EDS
El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.
Análisis de partículas
El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Electron microscopy services for
the materials science
To ensure optimal system performance, we provide you access to a world-class network of field service experts, technical support, and certified spare parts.
Electron microscopy support and resources
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards