The Thermo Scientific iFast Developer's Tool Kit combines the flexibility of scripting with the ease of use of graphical programming to make recipe creation faster and easier than ever before. 

The iFast Developer's Tool Kit enables operators to quickly and easily create new or modify existing recipes to fit their specific needs. Recipes are edited within a new intuitive graphical environment, enabling faster learning of the programming environment as well as an easier understanding of existing recipes. Within the iFast Developer's environment, the operator is able to control column settings, detector settings, stage motion and position, patterning and site alignments with logical operation and looping. This enables a high degree of customization to match specific application requirements. 

iFast Recorder is included with iFast Developer's Tool Kit allowing to record recipes interactively on an instrument both for unattended operation as well as the creation of a baseline recipe for further enhancements with the Developer's Tool Kit.

Key Features

  • Graphical programming environment.
  • Runner for unattended operation.
  • Alignment tools: image recognition and edge finding.
  • FIB, SEM, Stage, GIS, patterning and other controls.
  • Macro recorder for faster recipe creating.
  • Process looping.
  • Logical tests such as If-Then statements.

Applications

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Pathfinding und Entwicklung von Halbleitern

Fortschrittliche Elektronenmikroskopie, fokussierter Ionenstrahl und zugehörige Analyseverfahren zur Identifizierung umsetzbarer Lösungen und Designmethoden für die Herstellung von leistungsstarken Halbleiterbauelementen.

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Ausbeutesteigerung und Metrologie

Wir bieten fortschrittliche Analysemöglichkeiten für die Fehleranalyse, Metrologie und Prozesskontrolle, die die Produktivität erhöhen und die Ausbeute bei zahlreichen Halbleiteranwendungen und Halbleiterbauelementen verbessern.

Fehleranalyse von Halbleitern

Fehleranalyse von Halbleitern

Durch immer komplexere Strukturen von Halbleiterbauelementen können sich an mehr Stellen folgenschwere Mängel verbergen. Mit unseren Arbeitsabläufen der nächsten Generation können Sie auch kleinste Probleme in der Elektrik lokalisieren und charakterisieren, die sich auf die Ausbeute, Leistung und Zuverlässigkeit auswirken.

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Physikalische und chemische Charakterisierung

Die kontinuierliche Nachfrage der Verbraucher treibt die Entwicklung kleinerer, schnellerer und kostengünstigerer elektronischer Geräte voran. Ihre Fertigung basiert auf hoch produktiven Geräten und Arbeitsabläufen, die eine breite Palette von Halbleiterbauelementen und Anzeigegeräten abbilden, analysieren und charakterisieren.


Techniques

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Bildgebung und Analyse von Halbleitern

Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.

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