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촉매 연구
모든 제조 제품의 80% 이상을 처리하는 데 관여하는 촉매는 현대 산업에 있어 중요한 부분입니다. 이종 나노 입자 촉매는 특히 수소 연료 생산과 같이 많은 환경 친화적인 최신 공정에 있어 중요하며 자동차 촉매 변환기 전체에 흔히 사용됩니다. 촉매는 생산 속도를 높이고 관련 반응에 대한 온도 요구 사항을 낮추므로, 주어진 프로세스의 수행 및/또는 관심 제품의 생산에 필요한 에너지를 크게 줄여줍니다.
나노입자 촉매
나노 입자 의 형태, 분포, 크기 및 화학적 조성은 촉매 효율성에 있어 대단히 중요합니다. 에너지 분산 X선 분광법(EDS) 이 결합된 주사투과 전자현미경(S/TEM) 은 이러한 정보를 직접 관찰하고 정량화하기 위한 귀중한 연구 도구를 제공하는 것으로 입증되었습니다. 또한 고성능 주사전자현미경 검사(SEM) 도구는 시료 손상 없이 낮은 빔 에너지 및 낮은 빔 전류 조건에서 빔에 민감한 촉매 물질의 우수한 이미지를 촬영합니다.
Thermo Fisher Scientific 은 촉매 나노 입자 특성 분석에 이상적인 다양한 기기를 제공합니다. ALS 는 워크플로우를 자동화하여 촉매에 대한 전체적인 개요를 제공하는 고분해능, 큰 영역 나노 입자 데이터를 생성하는 소프트웨어 도구 모음을 제공합니다.
광촉매 프로세스 (C3N4(Co)-Pt)에 사용되는 빔에 민감한 물질의 고분해능 EDS 맵 . 이 촉매는 백금과 코발트 나노 입자의 시너지성 거동 을 사용하여 촉매 효율을 향상시킵니다. 데이터 출처 : 중국 Xi’an Jiaotong University, ShengChun Yang 교수.
다양한 화학 처리 반응의 촉매로 사용되는 산화철 양자점(iron oxide quantum dots)의 명시야 투과 전자 현미경 이미지. 데이터 제공: Regional Centre of Advanced Technologies and Materials, Palacky University, Olomouc, Czech Republic.
다양한 화학 처리 반응의 촉매로 사용되는 산화철 양자점(iron oxide quantum dots)의 명시야 투과 전자 현미경 이미지. 데이터 제공: Regional Centre of Advanced Technologies and Materials, Palacky University, Olomouc, Czech Republic.
차량 기반 자동차 촉매 샘플의 3D 원소 분포. 팔라듐 나노입자는 옥사이드 캐리어 상에서 분포합니다.
2.8nm 공극 크기의 MOF(Metal-Organic Framework). 낮은 빔 에너지 및 낮은 빔 전류에서 탁월한 성능을 발휘하는 Verios SEM은 샘플 손상 없이 매우 높은 분해능으로 이 MOF와 같은 빔에 민감한 자료를 이미지화할 수 있습니다. 이미지 폭 = 약 350nm. 이미지 제공: Devin Wu, Thermo Fisher Scientific.
상단에 촉매 입자가 있는 탄소 나노튜브, Verios SEM을 사용하여 2kV로 영상 촬영. 서로 다른 컬럼내 검출기(in-column detector)의 혼합 신호는 이 물질의 토폴로지와 원소 대비를 나타냅니다. 이미지 폭 = 약 4.2μm. 이미지 제공: Devin Wu, Thermo Fisher Scientific.
Thermo Scientific Ceta 16M Camera 에 의한
Pt-RH 나노 입자의 고분해능 TEM 이미징을 통해, 나노 입자의 결정질 격자 구조를 밝힐 수 있습니다. 시료 출처: Colorado School of Mines. B.Gorman 교수와 R.Richards 교수.
다양한 화학 처리 반응의 촉매로 사용되는 산화철 양자점(iron oxide quantum dots)의 명시야 투과 전자 현미경 이미지. 데이터 제공: Regional Centre of Advanced Technologies and Materials, Palacky University, Olomouc, Czech Republic.
다양한 화학 처리 반응의 촉매로 사용되는 산화철 양자점(iron oxide quantum dots)의 명시야 투과 전자 현미경 이미지. 데이터 제공: Regional Centre of Advanced Technologies and Materials, Palacky University, Olomouc, Czech Republic.
차량 기반 자동차 촉매 샘플의 3D 원소 분포. 팔라듐 나노입자는 옥사이드 캐리어 상에서 분포합니다.
2.8nm 공극 크기의 MOF(Metal-Organic Framework). 낮은 빔 에너지 및 낮은 빔 전류에서 탁월한 성능을 발휘하는 Verios SEM은 샘플 손상 없이 매우 높은 분해능으로 이 MOF와 같은 빔에 민감한 자료를 이미지화할 수 있습니다. 이미지 폭 = 약 350nm. 이미지 제공: Devin Wu, Thermo Fisher Scientific.
상단에 촉매 입자가 있는 탄소 나노튜브, Verios SEM을 사용하여 2kV로 영상 촬영. 서로 다른 컬럼내 검출기(in-column detector)의 혼합 신호는 이 물질의 토폴로지와 원소 대비를 나타냅니다. 이미지 폭 = 약 4.2μm. 이미지 제공: Devin Wu, Thermo Fisher Scientific.
Thermo Scientific Ceta 16M Camera 에 의한
Pt-RH 나노 입자의 고분해능 TEM 이미징을 통해, 나노 입자의 결정질 격자 구조를 밝힐 수 있습니다. 시료 출처: Colorado School of Mines. B.Gorman 교수와 R.Richards 교수.
전자현미경을 사용한 공정 제어
오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.
품질 관리 및 불량 분석
품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.
기초 재료 연구
새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.
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(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.
3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.
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EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
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3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
에너지 분산 분광법
에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.
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HRSTEM 및 HRTEM을 사용한 이미지 생성
투과 전자 현미경법은 나노 입자 및 나노 물질의 구조적 특성을 분석하는 데 있어 매우 중요합니다. 고분해능 STEM과 TEM을 사용하면 화학적 조성에 대한 정보와 함께 원자 분해능 데이터를 사용할 수 있습니다.
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차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.
고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.
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환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.
전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.
단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.
현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.
(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.
3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.
EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
에너지 분산 분광법
에너지분산 분광법(EDS)은 전자 현미경 이미지를 통해 상세한 원소 정보를 수집하고 EM 관찰을 위한 중요한 조성 정보를 제공합니다. EDS를 사용하면 신속하고 종합적인 표면 스캔부터 개별 원자에 이르는 화학적 조성을 측정할 수 있습니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.
HRSTEM 및 HRTEM을 사용한 이미지 생성
투과 전자 현미경법은 나노 입자 및 나노 물질의 구조적 특성을 분석하는 데 있어 매우 중요합니다. 고분해능 STEM과 TEM을 사용하면 화학적 조성에 대한 정보와 함께 원자 분해능 데이터를 사용할 수 있습니다.
차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.
고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.
환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.
전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.
단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.
현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.
기기 카드 원본 스타일시트
em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트
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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스
최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.
