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Materials Science
Electron Energy Loss Spectroscopy
High resolution electron energy loss spectroscopy for high signal-to-noise ratio elemental mapping and oxidation state probing.
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Electron Energy Loss Spectroscopy
Over the last three decades, electron energy loss spectroscopy (EELS) has become a formidable characterization technique. Used in combination with a transmission electron microscope (TEM), it can provide atomic-level chemical and structural characterization. This includes information about elemental composition, chemical bonding, oxidation states, valence and conduction band electronic properties, and surface properties. It can also be used in conjunction with other techniques, such as electron tomography, to provide advanced 3D mapping of elements and oxidation states.
As materials characterization becomes increasingly more demanding, there is a growing need for highly localized characterization of increasingly complex structures with ever smaller features. Fortunately, improvements in EELS and S/TEM instrumentation have kept pace with these demands, with advances including spherical aberration correction of the S/TEM lenses, as well as the use of monochromators to improve energy resolution, providing sub-angstrom spatial resolution and a higher probe current.
EELS TEM
With our X-FEG/Mono, X-FEG/UltiMono and X-CFEG guns on the Thermo Scientific Spectra and X-FEG on the Thermo Scientific Talos S/TEM platforms, Thermo Fisher Scientific has all your EELS applications covered. These systems allow you to perform ultra-high resolution EELS analysis to obtain valuable structural, elemental, and chemical information at the atomic scale.
Core-loss EELS atomic-resolution elemental map of a BaTiO₃/SrTiO₃ interface. Barium in blue, strontium in red and titanium in green. Imaged at 80 kV (60 pA) with a 1 eV full width at half maximum (FWHM) electron probe (49x49 pixels, <90 seconds).
Mapping of surface phonon modes in a magnesium oxide crystal at 60 kV using a monochromated electron probe with a full width at half maximum (FWHM) electron probe of <30 meV. Specimen and analysis courtesy of Isobel Bicket and Prof. Gianluigi Botton, The Canadian Centre for Electron Microscopy, McMaster University.
OptiMono+ exciting an X-FEG/UltiMono from the monochromator off state (with 1 eV energy resolution) to the monochromator fully excited state (<30 meV) at 60 kV.
Localized positions of plasmon excitations along a gold nanowire as a function of their excitation energy (between 0.18 – 1.2 eV), investigated with an electron probe of <0.2 eV energy resolution.
Core-loss EELS atomic-resolution elemental map of a BaTiO₃/SrTiO₃ interface. Barium in blue, strontium in red and titanium in green. Imaged at 80 kV (60 pA) with a 1 eV full width at half maximum (FWHM) electron probe (49x49 pixels, <90 seconds).
Mapping of surface phonon modes in a magnesium oxide crystal at 60 kV using a monochromated electron probe with a full width at half maximum (FWHM) electron probe of <30 meV. Specimen and analysis courtesy of Isobel Bicket and Prof. Gianluigi Botton, The Canadian Centre for Electron Microscopy, McMaster University.
OptiMono+ exciting an X-FEG/UltiMono from the monochromator off state (with 1 eV energy resolution) to the monochromator fully excited state (<30 meV) at 60 kV.
Localized positions of plasmon excitations along a gold nanowire as a function of their excitation energy (between 0.18 – 1.2 eV), investigated with an electron probe of <0.2 eV energy resolution.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de baterias
O desenvolvimento de baterias tornou-se possível pela análise em várias escalas com microTC, SEM e TEM, espectroscopia Raman, XPS e visualização e análise 3D digital. Saiba como essa abordagem fornece as informações estruturais e químicas necessárias para construir baterias melhores.
Pesquisa de polímeros
A microestrutura de polímero determina as características e o desempenho do material em massa. A microscopia eletrônica permite uma análise abrangente micrométrica da morfologia e da composição do polímero para aplicações de Pesquisa e Desenvolvimento e de controle de qualidade.
Pesquisa de metais
A produção efetiva de metais requer um controle preciso de inclusões e precipitações. Nossas ferramentas automatizadas podem executar uma série de tarefas críticas para a análise de metais, incluindo: contagem de nanopartículas, análise química de EDS e preparação de amostras de TEM.
Fibras e filtros
O diâmetro, a morfologia e a densidade das fibras sintéticas são parâmetros fundamentais que determinam a vida útil e a funcionalidade de um filtro. A microscopia eletrônica de varredura (SEM) é a técnica ideal para investigar essas características de forma rápida e fácil.
Forênsica
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Pesquisa geológica
A geociência depende da observação consistente e precisa em várias escalas de recursos em amostras de rochas. A SEM-EDS, combinada com software de automação, permite a análise direta e em larga escala da textura e da composição mineral para a pesquisa da petrologia e da mineralogia.
Pesquisa de catálise
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Materiais 2D
A pesquisa de materiais inovadores está cada vez mais interessada na estrutura de materiais de baixa dimensão. A microscopia eletrônica de transmissão de varredura com correção de sonda e monocromação permite a formação de imagens de alta resolução de materiais bidimensionais.
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Cada componente em um veículo moderno é projetado para segurança, eficiência e desempenho. A caracterização detalhada dos materiais automotivos pela microscopia eletrônica e pela espectroscopia informa as decisões críticas do processo, as melhorias do produto e os novos materiais.
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Serviços de microscopia eletrônica para
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Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
