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cd49 – Haupt/Ressourcen/Anwendungen/Verfahren/Dokumente/Kontakt
Auto Slice & View Software for FIB tomography
Thermo Scientific Auto Slice & View 5 (AS&V5) Software allows for automated acquisition of high-resolution 3D images and analytical maps such as EBSD (electron backscatter diffraction) or EDS (energy-dispersive X-ray spectroscopy). AS&V5 Software acquires data by milling serial sections (slices) of a sample with a focused ion beam (FIB) and then imaging and/or mapping each slice. Due to the high value and unique nature of many samples, it is important to collect as much information as possible from each section. AS&V5 Software allows you to acquire multiple imaging and analysis modalities for every slice, including information such as material and channeling contrast generated by multiple SEM and FIB detectors. Additionally, elemental information can be collected with EDS, and grain orientation/strain-texture analysis can be provided by EBSD mapping.
3D reconstruction of the thermal barrier coating on a ramjet aero engine afterburner nozzle showing the microstructure state at the end of the exhaust system’s life. The overlaid EDS map shows elemental distribution on the top coat and bond coat interface: blue is aluminum, yellow is magnesium, and turquoise is yttria. Data produced using a Thermo Scientific Helios 5 PFIB, Auto Slice & View 5 Software, and Avizo Software for materials science. Scale bar is 150 microns.
Spin Mill functionality for large area analysis
The Thermo Scientific Spin Mill Method is an add-on for Auto Slice & View 5 Software that enables site-specific large-area polishing and 3D characterization. Available on Thermo Scientific plasma focused ion beam (PFIB) instruments, including Thermo Scientific Hydra FIB-SEMs, this software automates sequential milling and imaging of areas up to 1 mm.
Adaptive Scanning functionality accelerates volume acquisition
The Adaptive Scanning add-on facilitates dynamic scanning approaches with AI-powered protocols that accelerate the throughput of high-resolution volume acquisition and enhance 3D comparative studies and statistical analysis. Adaptive Scanning is specifically designed for life science applications at room temperature. It tracks defined features of interest throughout a sample volume and images these features at high resolution while the surrounding contextual information is preserved at a lower resolution.
AI-guided dynamic auto functions for cryo-volume EM
Auto Slice & View 5 Software includes AI-guided dynamic auto functions for cryogenic volume acquisitions that significantly enhance the consistency and reliability of results. The AI-powered analysis tracks and adjusts the locations where the auto functions are performed in order to mitigate the impact of sample variability, and the challenges typically associated with cryogenic specimens. This software feature is specifically designed for unattended cryo-volume acquisition of biological specimens.
Auto Slice & View Software features
Intuitive, easy to use UI
Streamlined workflows, milling recipes, integrated auto functions.
Digital tilt-shift compensation
Improve collection efficiency and accuracy.
On-the-fly editing capabilities
Adjust parameters as needed if encountering phase/microstructural change.
Integrated imaging
Integrates SEM and FIB imaging, EBSD and EDS mapping into one package.
Information on every slice
Acquire all the information on every slice (imaging, analytics, current, voltage, tilt, etc.).
Highly flexible and reliable acquisition
Highly flexible and reliable acquisition with precise and repeatable cut placement.
High speed and throughput
High speed and throughput with multi-site capability.
All layers of a solid oxide fuel cell, collected with Thermo Scientific Helios PFIB DualBeam and Auto Slice and View 4 software in a single run. 3D reconstruction and visualization was done using Thermo Scientific Avizo Software. Sample courtesy of Jochen Joos et al., Karlsruhe Institute of Technology.
3D reconstruction of W-Mo-Cu sample using a combination of BSE (green-blue) and EDS (orange) data, which has been produced with a Thermo Scientific Scios 2 DualBeam, Auto Slice and View 4 and Avizo software.
3D EBSD reconstruction of a zircalloy sample (250 x 250 x 220 μm³) produced with the Helios PFIB DualBeam, Auto Slice & View 4 Software, and Avizo Software.
All layers of a solid oxide fuel cell, collected with Thermo Scientific Helios PFIB DualBeam and Auto Slice and View 4 software in a single run. 3D reconstruction and visualization was done using Thermo Scientific Avizo Software. Sample courtesy of Jochen Joos et al., Karlsruhe Institute of Technology.
3D reconstruction of W-Mo-Cu sample using a combination of BSE (green-blue) and EDS (orange) data, which has been produced with a Thermo Scientific Scios 2 DualBeam, Auto Slice and View 4 and Avizo software.
3D EBSD reconstruction of a zircalloy sample (250 x 250 x 220 μm³) produced with the Helios PFIB DualBeam, Auto Slice & View 4 Software, and Avizo Software.
Strukturbiologische Forschung
Die Kryo-Elektronenmikroskopie ermöglicht die strukturelle Analyse anspruchsvoller biologischer Targets wie großer Komplexe, flexibler Spezies und Membranproteine.
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
Pathfinding und Entwicklung von Halbleitern
Fortschrittliche Elektronenmikroskopie, fokussierter Ionenstrahl und zugehörige Analyseverfahren zur Identifizierung umsetzbarer Lösungen und Designmethoden für die Herstellung von leistungsstarken Halbleiterbauelementen.
Ausbeutesteigerung und Metrologie
Wir bieten fortschrittliche Analysemöglichkeiten für die Fehleranalyse, Metrologie und Prozesskontrolle, die die Produktivität erhöhen und die Ausbeute bei zahlreichen Halbleiteranwendungen und Halbleiterbauelementen verbessern.
Fehleranalyse von Halbleitern
Durch immer komplexere Strukturen von Halbleiterbauelementen können sich an mehr Stellen folgenschwere Mängel verbergen. Mit unseren Arbeitsabläufen der nächsten Generation können Sie auch kleinste Probleme in der Elektrik lokalisieren und charakterisieren, die sich auf die Ausbeute, Leistung und Zuverlässigkeit auswirken.
Physikalische und chemische Charakterisierung
Die kontinuierliche Nachfrage der Verbraucher treibt die Entwicklung kleinerer, schnellerer und kostengünstigerer elektronischer Geräte voran. Ihre Fertigung basiert auf hoch produktiven Geräten und Arbeitsabläufen, die eine breite Palette von Halbleiterbauelementen und Anzeigegeräten abbilden, analysieren und charakterisieren.
Style Sheet for Komodo Tabs
Kryotomographie
Die Kryoelektronentomographie (Kryo-ET) liefert sowohl strukturelle Informationen über einzelne Proteine als auch deren räumliche Anordnung innerhalb der Zelle. Dies macht sie zu einem wahrhaft einzigartigen Verfahren und erklärt auch ihr enormes Potenzial für die Zellbiologie. Die Kryo-ET kann die Lücke zwischen Lichtmikroskopie und Verfahren mit nahezu atomarer Auflösung wie die Einzelpartikelanalyse schließen.
3D-Materialcharakterisierung
Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.
Querschnitte
Querschnitte bieten zusätzliche Einblicke, indem sie Informationen über tieferliegende Bereiche aufdecken. DualBeam-Geräte verfügen über hervorragende FIB-Säulen für hochwertige Querschnitte. Mit der Automatisierung ist eine unbeaufsichtigte Hochdurchsatzverarbeitung von Proben möglich.
In-situ-Experimente
Die direkte Echtzeitbeobachtung mikrostruktureller Veränderungen mit der Elektronenmikroskopie ist notwendig, um die Grundprinzipien dynamischer Prozesse wie Rekristallisation, Kornwachstum und Phasenumwandlung während der Erwärmung, Kühlung und Benetzung zu verstehen.
Mehrskalenanalyse
Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.
Bildgebung und Analyse von Halbleitern
Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.
Kryotomographie
Die Kryoelektronentomographie (Kryo-ET) liefert sowohl strukturelle Informationen über einzelne Proteine als auch deren räumliche Anordnung innerhalb der Zelle. Dies macht sie zu einem wahrhaft einzigartigen Verfahren und erklärt auch ihr enormes Potenzial für die Zellbiologie. Die Kryo-ET kann die Lücke zwischen Lichtmikroskopie und Verfahren mit nahezu atomarer Auflösung wie die Einzelpartikelanalyse schließen.
3D-Materialcharakterisierung
Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.
Querschnitte
Querschnitte bieten zusätzliche Einblicke, indem sie Informationen über tieferliegende Bereiche aufdecken. DualBeam-Geräte verfügen über hervorragende FIB-Säulen für hochwertige Querschnitte. Mit der Automatisierung ist eine unbeaufsichtigte Hochdurchsatzverarbeitung von Proben möglich.
In-situ-Experimente
Die direkte Echtzeitbeobachtung mikrostruktureller Veränderungen mit der Elektronenmikroskopie ist notwendig, um die Grundprinzipien dynamischer Prozesse wie Rekristallisation, Kornwachstum und Phasenumwandlung während der Erwärmung, Kühlung und Benetzung zu verstehen.
Mehrskalenanalyse
Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.
Bildgebung und Analyse von Halbleitern
Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
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