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Environmental TEM with the Themis ETEM
In situ observation of structure dynamics at nanostructure-characteristic length scales is extremely important if your focus is atomic-scale research. The Thermo Scientific Themis ETEM builds on the proven Titan Environmental Transmission Electron Microscope (ETEM) concept by combining both standard TEM/STEM (TEM and scanning transmission electron microscopy) and dedicated environmental TEM capabilities for time-resolved, in situ studies of the dynamic behavior of nanomaterials. The Themis ETEM is designed as a fully integrated platform for in situ experiments, such as exposing nanostructures to gaseous reaction/operating environments.
Environmental TEM advantages
The new Themis ETEM now also benefits from Thermo Scientific Themis Z S/TEM features:
- Precise control and knowledge of sample temperature in any gas environment through the NanoEx-i/v heating stage.
- Improved sample stability, navigation, and assisted sample drift correction in x, y, and z axes using a piezo enhanced stage.
- Advanced high-quality imaging and movie acquisition functions, as well as sample navigation, by combining speed, high-sensitivity, and high-dynamic range with a large field of view in one single Thermo Scientific Ceta 16M Camera.
- Handling and processing of large data sets with a 64-bit operating system.
Automation and ease of use
Through full software control of all operational parameters - for novice users as well as advanced operators.
Window-free imaging
Through innovative differentially-pumped objective lens.
Precise control of vacuum system
Including fast switching between different vacuum modes.
Accurate monitoring of gas composition
Through built-in reactant gas analysis via mass-spectrometer (RGA).
Easy decontamination and system flushing
Via the integrated plasma cleaner.
Electron gun protection
To maintain high vacuum even during gaseous experiments.
Fine electron dose (rate) control
Using flexible gun lens and condenser settings.
Easy sample handling
Through an innovative differentially-pumped specimen area and full double-tilt capability as well as standard TEM holder compatibility.
Safe operation mode
Through full compliance with safety regulations and protocols for gas handling.
Folha de estilo para especificações de tabela de produtos
| Standard mode | ETEM mode (< 0.5 mbar nitrogen) | |||
| No corrector | Cs image corrected | No corrector | Cs image corrected | |
| TEM information limit (nm) | 0.10 | 0.10 (0.09 mono on) | 0.12 | 0.12 |
| TEM point resolution (nm) | 0.20 | 0.10 | 0.20 | 0.12 |
| Probe current @ 1 nm (nA*) | 0.6 | 0.6 | 0.6 | 0.6 |
| Probe current @ 1 nm (nA*) | 0.7 eV | 0.7 eV | 0.8 eV | 0.8 eV |
| STEM resolution (nm) | 0.136 | 0.136 | 0.16 | 0.16 |
Note: All specifications are at 300kV.
* With SFEG. The ETEM is also optionally available with X-FEG and gun monochromator. Depending on the energy filter option the energy resolution could be 0.20 eV (0.25eV in ETEM mode).
Style Sheet for Komodo Tabs
Dynamic ETEM study (2.0 mbar O2, 475°C) of soot oxidization near the soot-CeO2 interface. Soot particles observed to move with constant velocity towards CeO2. Image courtesy of S. Simonsen and S. Helveg (HTAS), as seen in S.B. Simonsen, et al., J. Catal. 225 (1), 2008.
Introducing the Thermo Scientific ETEM Solution.
Thermo Scientific ETEM is the dedicated atomic-resolution Scanning/Transmission Electron Microscope (S/TEM) solution for time-resolved studies of the behavior of nanomaterials during exposure to reactive gas environments and elevated temperatures. Designed specifically for these in-situ, dynamic experiments in catalysis.
Professor Seiji Takeda (Osaka University, Japan) explains the value of the Thermo Scientific ETEM solution for quantitative in-situ microscopy in materials science research.
Dr Hideto Yoshida (Osaka University, Japan) discusses the ease-of-use of the Thermo Scientific ETEM solution and highlights the achievement of more detailed atomic structure information in his materials research.
Publication list for Themis ETEM for Materials Science
Dynamic ETEM study (2.0 mbar O2, 475°C) of soot oxidization near the soot-CeO2 interface. Soot particles observed to move with constant velocity towards CeO2. Image courtesy of S. Simonsen and S. Helveg (HTAS), as seen in S.B. Simonsen, et al., J. Catal. 225 (1), 2008.
Introducing the Thermo Scientific ETEM Solution.
Thermo Scientific ETEM is the dedicated atomic-resolution Scanning/Transmission Electron Microscope (S/TEM) solution for time-resolved studies of the behavior of nanomaterials during exposure to reactive gas environments and elevated temperatures. Designed specifically for these in-situ, dynamic experiments in catalysis.
Professor Seiji Takeda (Osaka University, Japan) explains the value of the Thermo Scientific ETEM solution for quantitative in-situ microscopy in materials science research.
Dr Hideto Yoshida (Osaka University, Japan) discusses the ease-of-use of the Thermo Scientific ETEM solution and highlights the achievement of more detailed atomic structure information in his materials research.
Publication list for Themis ETEM for Materials Science
Controle de processo
A indústria moderna exige alta produtividade com qualidade superior, um equilíbrio mantido por meio de um controle de processo robusto. As ferramentas SEM e TEM com software de automação dedicado proporcionam informações rápidas e em várias escalas para monitoramento e aprimoramento de processos.
Controle de qualidade
O controle de qualidade e a garantia de qualidade são essenciais na indústria moderna. Oferecemos uma gama de ferramentas de microscopia eletrônica e espectroscopia para análises multidimensionais e multimodais de defeitos, permitindo que você tome decisões confiáveis e informadas para controle e melhoria de processos.
Pesquisa de materiais fundamentais
Novos materiais são investigados em escalas cada vez menores para o máximo controle de suas propriedades físicas e químicas. A microscopia eletrônica fornece aos pesquisadores percepções importantes sobre uma ampla variedade de características materiais em escala micro a nano.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
Experimentação in situ
A observação direta e em tempo real de alterações microestruturais com a microscopia eletrônica é necessária para entender os princípios subjacentes de processos dinâmicos, como recristalização, crescimento de grãos e transformação de fases durante o aquecimento, o resfriamento e a umidificação.
Análise de partículas
A análise de partículas tem uma função vital na pesquisa de nanomateriais e no controle de qualidade. A resolução nanométrica e a formação de imagens excelentes da microscopia eletrônica podem ser combinadas com software especializado proporcionando uma rápida caracterização de pós e partículas.
Análise em várias escalas
Os materiais novos precisam ser analisados em resolução cada vez maior, mantendo o contexto maior da amostra. A análise em várias escalas permite correlacionar várias ferramentas e modalidades de geração de imagens, como a microTC de raios X, DualBeam, laser PFIB, SEM e TEM.
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Serviços de microscopia eletrônica para
a ciência dos materiais
Para garantir o desempenho ideal do sistema, fornecemos acesso a uma rede de especialistas em serviços de campo, suporte técnico e peças de reposição certificadas.
Suporte e recursos para microscopia eletrônica
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