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Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope
The Thermo Scientific Talos F200S (S)TEM is a (scanning) transmission electron microscope that combines outstanding high-resolution STEM and TEM imaging with industry-leading energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS). The Talos F200S (S)TEM features great versatility and high through in STEM imaging and allows for precise EDS analysis and high-resolution TEM (HRTEM) for dynamic microscopy.
Talos F200S G2 Transmission Electron Microscope advantages
The Thermo Scientific Talos F200S 200kV (S)TEM combines fast, multichannel, high-resolution (S)TEM imaging and precise compositional analysis to enable dynamic microscopy applications. With innovative features designed to increase throughput, precision, and ease of use, the Talos (S)TEM is ideal for advanced research and analysis across academic, government, and industrial research environments.
Intuitive software
Features Thermo Scientific Velox Software for fast and easy acquisition and analysis of multimodal data.
Precise chemical composition data
Rapid, precise, quantitative EDS analysis using two in-column Thermo Scientific SDD Super-X Detectors with unique cleanliness, revealing nanoscale details.
Better image data
High-throughput (S)TEM imaging with simultaneous, multiple signal detection delivers better contrast for high quality images.
Upgrade
Can be field upgraded to the Thermo Scientific Talos F200X (S)TEM.
Increased stability
Reduced environmental sensitivity thanks to the instrument enclosure, which moderates the impact of air pressure waves, air flows, and fine temperature variations in the TEM room.
Space for more
Add application-specific in situ sample holders for dynamic experiments.
Style Sheet for Products Table Specifications
| HRTEM line resolution |
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| HRSTEM [nm] |
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| Total beam current FEG |
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| EDS system |
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| EDS energy resolution |
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| Fast EDS mapping |
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| EDS Net solid angle |
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Style Sheet for Komodo Tabs
Publication list for Talos for Materials Science
Publication list for Talos for Materials Science
Process control using electron microscopy
Modern industry demands high throughput with superior quality, a balance that is maintained through robust process control. SEM and TEM tools with dedicated automation software provide rapid, multi-scale information for process monitoring and improvement.
Quality control and failure analysis
Quality control and assurance are essential in modern industry. We offer a range of EM and spectroscopy tools for multi-scale and multi-modal analysis of defects, allowing you to make reliable and informed decisions for process control and improvement.
Fundamental Materials Research
Novel materials are investigated at increasingly smaller scales for maximum control of their physical and chemical properties. Electron microscopy provides researchers with key insight into a wide variety of material characteristics at the micro- to nano-scale.
Spectroscopie à dispersion d’énergie
La spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS) recueille des informations élémentaires détaillées ainsi que des images de microscopie électronique, fournissant ainsi un contexte de composition critique pour les observations EM. Grâce à l’EDS, la composition chimique peut être déterminée à partir de balayages de surface rapides et globaux jusqu’à des atomes individuels.
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Tomographie par EDS 3D
La recherche moderne sur les matériaux dépend de plus en plus de l’analyse à l’échelle nanométrique en trois dimensions. La caractérisation 3D, y compris les données de composition pour un contexte chimique et structurel complet, est possible grâce à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie et l’EM 3D.
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Analyse élémentaire par EDS
L’EDS fournit des informations de composition essentielles aux observations du microscope électronique. Nos systèmes de détection Super-X et Dual-X uniques offrent en particulier des options supplémentaires pour un débit et/ou une sensibilité améliorés, ce qui vous permet d’optimiser l’acquisition de données pour répondre à vos priorités de recherche.
Cartographie élémentaire à échelle atomique avec EDS
L’EDS à résolution atomique fournit un contexte chimique inégalé pour l’analyse des matériaux en différenciant l’identité élémentaire des atomes individuels. Lorsqu’il est associé à une TEM haute résolution, il est possible d’observer l’organisation précise des atomes dans un échantillon.
Spectroscopie de perte d’énergie d’électrons (EELS)
La recherche en sciences des matériaux bénéficie d’une EELS haute résolution pour un large éventail d’applications analytiques. Celle-ci inclut la cartographie élémentaire à haut débit et à haut rapport signal-bruit, ainsi que le sondage des états d’oxydation et des phonons de surface.
Expérimentation in situ
L’observation directe en temps réel des changements microstructurels par microscopie électronique est nécessaire pour comprendre les principes sous-jacents des processus dynamiques tels que la recristallisation, la croissance des grains et la transformation de phase pendant le chauffage, le refroidissement et l’humidification.
Analyse des particules
L’analyse des particules joue un rôle essentiel dans la recherche sur les nanomatériaux et le contrôle de la qualité. La résolution à l’échelle du nanomètre et l’imagerie supérieure de la microscopie électronique peuvent être associées à des logiciels spécialisés pour la caractérisation rapide des poudres et des particules.
Analyse multi-échelle
Les nouveaux matériaux doivent être analysés à une résolution toujours plus élevée tout en conservant le contexte plus large de l’échantillon. L’analyse multi-échelle permet d’établir une corrélation entre divers outils et modalités d’imagerie tels que la microCT à rayons X, le DualBeam, le PFIB laser, la SEM et la TEM.
Flux de travail de particules automatisé
Le flux de travail de nanoparticules automatisé (APW) est un flux de travail de microscope électronique à transmission pour l’analyse des nanoparticules, offrant une grande surface, une imagerie haute résolution et une acquisition de données à l’échelle nanométrique, avec un traitement à la volée.
Spectroscopie à dispersion d’énergie
La spectroscopie à dispersion d’énergie (EDS) recueille des informations élémentaires détaillées ainsi que des images de microscopie électronique, fournissant ainsi un contexte de composition critique pour les observations EM. Grâce à l’EDS, la composition chimique peut être déterminée à partir de balayages de surface rapides et globaux jusqu’à des atomes individuels.
Tomographie par EDS 3D
La recherche moderne sur les matériaux dépend de plus en plus de l’analyse à l’échelle nanométrique en trois dimensions. La caractérisation 3D, y compris les données de composition pour un contexte chimique et structurel complet, est possible grâce à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie et l’EM 3D.
Analyse élémentaire par EDS
L’EDS fournit des informations de composition essentielles aux observations du microscope électronique. Nos systèmes de détection Super-X et Dual-X uniques offrent en particulier des options supplémentaires pour un débit et/ou une sensibilité améliorés, ce qui vous permet d’optimiser l’acquisition de données pour répondre à vos priorités de recherche.
Cartographie élémentaire à échelle atomique avec EDS
L’EDS à résolution atomique fournit un contexte chimique inégalé pour l’analyse des matériaux en différenciant l’identité élémentaire des atomes individuels. Lorsqu’il est associé à une TEM haute résolution, il est possible d’observer l’organisation précise des atomes dans un échantillon.
Spectroscopie de perte d’énergie d’électrons (EELS)
La recherche en sciences des matériaux bénéficie d’une EELS haute résolution pour un large éventail d’applications analytiques. Celle-ci inclut la cartographie élémentaire à haut débit et à haut rapport signal-bruit, ainsi que le sondage des états d’oxydation et des phonons de surface.
Expérimentation in situ
L’observation directe en temps réel des changements microstructurels par microscopie électronique est nécessaire pour comprendre les principes sous-jacents des processus dynamiques tels que la recristallisation, la croissance des grains et la transformation de phase pendant le chauffage, le refroidissement et l’humidification.
Analyse des particules
L’analyse des particules joue un rôle essentiel dans la recherche sur les nanomatériaux et le contrôle de la qualité. La résolution à l’échelle du nanomètre et l’imagerie supérieure de la microscopie électronique peuvent être associées à des logiciels spécialisés pour la caractérisation rapide des poudres et des particules.
Analyse multi-échelle
Les nouveaux matériaux doivent être analysés à une résolution toujours plus élevée tout en conservant le contexte plus large de l’échantillon. L’analyse multi-échelle permet d’établir une corrélation entre divers outils et modalités d’imagerie tels que la microCT à rayons X, le DualBeam, le PFIB laser, la SEM et la TEM.
Flux de travail de particules automatisé
Le flux de travail de nanoparticules automatisé (APW) est un flux de travail de microscope électronique à transmission pour l’analyse des nanoparticules, offrant une grande surface, une imagerie haute résolution et une acquisition de données à l’échelle nanométrique, avec un traitement à la volée.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Electron microscopy services for
the materials science
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Electron microscopy support and resources
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards