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Thermo Scientific Maps Software is an imaging and correlative workflow software suite compatible with the full line of Thermo Scientific SEM, DualBeam (FIB SEM) and TEM platforms.
Scientists and researchers rely increasingly on nanoscale observations to inform the latest advances in research and analysis. It has, however, become apparent that high-resolution observations lose much of their utility in the absence of the larger macroscopic context. Observations from multiple sources must be linked, providing the necessary multi-scale and multi-modal insight for truly valuable data.
Maps Software provides a powerful imaging workflow automation package within an easy-to-use and robust platform. With just a few clicks, you can collect impactful data while preserving the context of your observations.
Whether its scanning electron microscopy analysis in SEM and DualBeam tools or transmission electron microscopy (TEM), Maps Software enables automated 2D imaging for a variety of applications, from acquiring large image mosaics to scheduling routine imaging tasks for off times (overnight, weekends).
With the ability to correlate optical and electron microscope data and easy navigation from SEM to TEM, Maps Software allows you to obtain the necessary context that drives your research and development. Use multi-modal data to aid in interpretation and navigation, ensuring you are always collecting the right data from the right location.
Maps Software supports integrated EDS map acquisition on STEM platforms for chemical characterization and elemental analysis along with your high-resolution imaging.
The optional offline version of Maps Software lets you take the microscope with you when you are away from the lab.
The addition of Thermo Scientific Avizo Software automates your image processing and statistical data generation. Avizo Software provides a rich, integrated user experience that blends acquisition with advanced analysis, and works in the background to process images as they are acquired.
A completely automated solution for generating high-quality, multi-scale images.
Gain insight by integrating observations across modalities and imaging platforms.
Make EDS mapping easier and instantly valuable via direct acquisition and integration of elemental layers.
The optional offline version of Maps Software allows you to continue your investigation and plan your next imaging session while away from the microscope.
This free, standalone application allows you to view Maps project from your PC (Windows 7 or 10). After installation, simply launch the application and import your projects for viewing.
Maps Offline Viewer allows you to open Maps projects on any PC. It also allows easier sharing of results without requiring a licensed version of Maps. Note that the viewer does not, however, allow processing steps like stitching, etc.
Download Maps offline viewer v3 ›
For users with images created using Maps version 3.0 or higher
Download Maps offline viewer v2 ›
For users with images created using Maps version 2.5 or lower
In this webinar, you will:
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Kryo-EM-Verfahren ermöglichen mehrskalige Observationen von biologischen 3D-Strukturen in ihren nahezu nativen Zuständen und erlauben so eine schnellere und effizientere Entwicklung von Therapeutika.
Erfahren Sie, wie Sie die Vorteile des rationalen Wirkstoffdesigns für viele wichtige Klassen von Wirkstoff-Targets nutzen können, um so erstklassige Arzneimittel zu entwickeln.
Die Kryo-Elektronenmikroskopie ermöglicht grundlegende Forschung in der Pflanzenbiologie, indem sie Informationen über Proteine (mit Einzelpartikelverfahren), ihren zellulären Kontext (mit Tomographie) sowie zur allgemeinen Struktur der Pflanze (Analyse großer Volumen) liefert.
Die Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) wird verwendet, wenn die Art der Erkrankung nicht mit anderen Methoden nachgewiesen werden kann. Mithilfe von nanobiologischer Bildgebung bietet TEM genaue und zuverlässige Einblicke für bestimmte Krankheitsbilder.
Die moderne Industrie verlangt einen hohen Durchsatz bei erstklassiger Qualität. Diese Balance wird durch eine robuste Prozesskontrolle aufrechterhalten. REM- und TEM-Geräte mit spezieller Automatisierungssoftware bieten schnelle, mehrskalige Informationen für die Überwachung und Verbesserung von Prozessen.
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
Fortschrittliche Elektronenmikroskopie, fokussierter Ionenstrahl und zugehörige Analyseverfahren zur Identifizierung umsetzbarer Lösungen und Designmethoden für die Herstellung von leistungsstarken Halbleiterbauelementen.
Wir bieten fortschrittliche Analysemöglichkeiten für die Fehleranalyse, Metrologie und Prozesskontrolle, die die Produktivität erhöhen und die Ausbeute bei zahlreichen Halbleiteranwendungen und Halbleiterbauelementen verbessern.
Durch immer komplexere Strukturen von Halbleiterbauelementen können sich an mehr Stellen folgenschwere Mängel verbergen. Mit unseren Arbeitsabläufen der nächsten Generation können Sie auch kleinste Probleme in der Elektrik lokalisieren und charakterisieren, die sich auf die Ausbeute, Leistung und Zuverlässigkeit auswirken.
Die kontinuierliche Nachfrage der Verbraucher treibt die Entwicklung kleinerer, schnellerer und kostengünstigerer elektronischer Geräte voran. Ihre Fertigung basiert auf hoch produktiven Geräten und Arbeitsabläufen, die eine breite Palette von Halbleiterbauelementen und Anzeigegeräten abbilden, analysieren und charakterisieren.

Einzelpartikelanalyse
Die Einzelpartikelanalyse (Single Particle Analysis, SPA) ist ein kryoelektronenmikroskopisches Verfahren, das eine strukturelle Charakterisierung bei nahezu atomaren Auflösungen ermöglicht, bei der dynamische biologische Prozesse und die Struktur von biomolekularen Komplexen/Baugruppen entwirrt und erkannt werden.

Kryotomographie
Die Kryoelektronentomographie (Kryo-ET) liefert sowohl strukturelle Informationen über einzelne Proteine als auch deren räumliche Anordnung innerhalb der Zelle. Dies macht sie zu einem wahrhaft einzigartigen Verfahren und erklärt auch ihr enormes Potenzial für die Zellbiologie. Die Kryo-ET kann die Lücke zwischen Lichtmikroskopie und Verfahren mit nahezu atomarer Auflösung wie die Einzelpartikelanalyse schließen.

Mikro-ED
Die Mikro-ED ist ein vielversprechendes neues Verfahren mit Anwendungen in der strukturellen Bestimmung kleiner Moleküle und Proteine. Mit diesem Verfahren können atomare Details einzelner Nanokristalle (Größe < 200 nm) selbst in einer heterogenen Mischung erfasst werden.

Partikelanalyse
Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.
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3D-EDS-Tomographie
Die moderne Materialforschung ist zunehmend auf die Nanoanalyse in drei Dimensionen angewiesen. Die 3D-Charakterisierung, einschließlich Zusammensetzungsdaten für den vollständigen chemischen und strukturellen Kontext, ist mit 3D-EM und energiedispersiver Röntgenspektroskopie möglich.
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EDS-Elementanalyse
Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.
Bildgebung und Analyse mittels TEM für Halbleiter
Thermo Fisher Scientific Transmissionselektronenmikroskope bieten die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Halbleiterbauelementen, mit denen Hersteller Werkzeuge kalibrieren, Fehlermechanismen diagnostizieren und die Gesamtprozesserträge optimieren können.
Bildgebung und Analyse von Halbleitern
Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.

Automatisierter Partikel-Workflow
Der automatisierte Nanopartikel-Workflow (APW) ist ein Arbeitsablauf für die Nanopartikelanalyse unter Verwendung des Transmissionselektronenmikroskops, der eine großflächige, hochauflösende Bildgebung und Datenerfassung im Nanobereich mit der Verarbeitung im laufenden Betrieb bietet.

Einzelpartikelanalyse
Die Einzelpartikelanalyse (Single Particle Analysis, SPA) ist ein kryoelektronenmikroskopisches Verfahren, das eine strukturelle Charakterisierung bei nahezu atomaren Auflösungen ermöglicht, bei der dynamische biologische Prozesse und die Struktur von biomolekularen Komplexen/Baugruppen entwirrt und erkannt werden.

Kryotomographie
Die Kryoelektronentomographie (Kryo-ET) liefert sowohl strukturelle Informationen über einzelne Proteine als auch deren räumliche Anordnung innerhalb der Zelle. Dies macht sie zu einem wahrhaft einzigartigen Verfahren und erklärt auch ihr enormes Potenzial für die Zellbiologie. Die Kryo-ET kann die Lücke zwischen Lichtmikroskopie und Verfahren mit nahezu atomarer Auflösung wie die Einzelpartikelanalyse schließen.

Mikro-ED
Die Mikro-ED ist ein vielversprechendes neues Verfahren mit Anwendungen in der strukturellen Bestimmung kleiner Moleküle und Proteine. Mit diesem Verfahren können atomare Details einzelner Nanokristalle (Größe < 200 nm) selbst in einer heterogenen Mischung erfasst werden.

Partikelanalyse
Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.
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3D-EDS-Tomographie
Die moderne Materialforschung ist zunehmend auf die Nanoanalyse in drei Dimensionen angewiesen. Die 3D-Charakterisierung, einschließlich Zusammensetzungsdaten für den vollständigen chemischen und strukturellen Kontext, ist mit 3D-EM und energiedispersiver Röntgenspektroskopie möglich.
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EDS-Elementanalyse
Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.
Bildgebung und Analyse mittels TEM für Halbleiter
Thermo Fisher Scientific Transmissionselektronenmikroskope bieten die hochauflösende Bildgebung und Analyse von Halbleiterbauelementen, mit denen Hersteller Werkzeuge kalibrieren, Fehlermechanismen diagnostizieren und die Gesamtprozesserträge optimieren können.
Bildgebung und Analyse von Halbleitern
Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.

Automatisierter Partikel-Workflow
Der automatisierte Nanopartikel-Workflow (APW) ist ein Arbeitsablauf für die Nanopartikelanalyse unter Verwendung des Transmissionselektronenmikroskops, der eine großflächige, hochauflösende Bildgebung und Datenerfassung im Nanobereich mit der Verarbeitung im laufenden Betrieb bietet.
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