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Profilage de profondeur | MAGCIS Dual Mode Ion Source |
Description | Source d’ions à double faisceau MAGCIS pour instruments XPS |
À utiliser avec (équipement) | spectromètre de photoélectrons X K-Alpha ; microsonde XPS ESCALAB 250Xi ; système XPS à résolution angulaire Theta Probe |
Unit Size | Each |
Référence | Spécifications | Taille unitaire | Description | Prix (EUR) | |||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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IQLAADGAAFFAPFMBFP | Each | Source d’ions à double faisceau MAGCIS pour instruments XPS | Demander un devis | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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La spectroscopie de photoélectrons X (XPS) utilise une source d’ions pour marquer les fines couches des matériaux stratifiés afin de caractériser chacune des couches individuellement. La technique a de nombreuses applications utiles, comme l’étude de la structure complète des écrans tactiles en mesurant les revêtements déposés sur plasma pour les dispositifs biomédicaux ou pour comprendre les OLED et les cellules photovoltaïques.
Au fil des ans, la technique XPS a utilisé la pulvérisation d’ions d’argon pour étudier les modifications chimiques sur toute la profondeur d’un matériaux stratifié ou pour nettoyer les surfaces inorganiques. Cette source d’ions, cependant, risque d’endommager la surface des matériaux plus mous. Plus récemment, des sources d’ions à cluster gazeux ont été mises au point pour surmonter ces limites, permettant ainsi l’analyse de matériaux autrefois inaccessibles pour le profilage de profondeur XPS.
La source d’ions à double faisceau MAGCIS pour instruments XPS fonctionne dans les deux modes : monoatomique ou cluster gazeux, permettant l’analyse du profil de profondeur d’une large gamme de types d’échantillons. La source d’ions MAGCIS est entièrement commandée par le logiciel Thermo Scientific™ Avantage™, le logiciel d’analyse de surfaces utilisé sur tous les systèmes XPS Thermo Scientific. La manipulation des gaz et la commande de la source sont complètement invisibles pour les opérateurs ; tout ce qu’il leur reste à faire est de choisir le mode qu’ils souhaitent utiliser : un faisceau d’ions soit “monoatomique”, soit “à cluster gazeux” d’une énergie particulière et procéder à l’expérience.
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