Équipée d’un monochromateur microfocalisé de rayons X conçu pour assurer des performances XPS optimales, la microsonde de spectromètre de photoélectrons X (XPS) ESCALAB 250Xi permet une cadence optimale de traitement d’échantillons. Grâce à ses capacités multi-techniques et à la disponibilité de toute une gamme de chambres de préparation et de dispositifs, il vous offre la solution à tous les problèmes d’analyse de surfaces. Avantage, le système de données à la pointe de la technologie, développé pour l’acquisition et le traitement des données, permet d’extraire un maximum d’informations à partir des données.

La microsonde du spectromètre de photoélectrons X (XPS) ESCALAB 250Xi présente les caractéristiques suivantes :

• Spectroscopie de grande sensibilité
• XPS sur petites zones
• Capacité de profilage de profondeur
• XPS avec résolution angulaire
• Spectroscopie de diffusion ionique (ISS) comprise dans le système de base
• Spectroscopie de pertes d’énergie d’électrons réfléchis (REELS) comprise dans le système de base
• Chambre “Preploc” comprise dans le système de base
• Polyvalence grâce à l’analyse multi-technique
• Nombreuses options pour la préparation des échantillons
• Analyses automatisées sans surveillance
• Analyse de multiples échantillons

Monochromateur de rayons X

• Monochromateur microfocalisé à double cristal équipé d’un cercle de Rowland de 500 mm et utilisant une anode en aluminium
• Taille de spot des rayons X au niveau de l’échantillon pouvant être sélectionnée dans une plage comprise entre 200 et 900 μm

Lentille, analyseur et détecteur

• Ensemble lentille / analyseur / détecteur du système ESCALAB 250Xi lui permettant d’être le seul système parfaitement adapté pour l’imagerie et la XPS sur petites zones
• Deux types de détecteurs qui garantissent que l’analyste utilise le détecteur optimum pour chaque type d’analyse :détecteur 2D pour l’imagerie et un détecteur basé sur multiplicateurs d’électrons à canaux pour la spectroscopie lorsque des taux de comptage élevés doivent être détectés
• Lentille dotée de deux mécanismes à iris commandés par ordinateur : l’un permettant à l’utilisateur de régler le champ de vision de la lentille jusqu’à une résolution < 20 μm pour l’analyse de petites zones ; l’autre permettant de régler l’acceptance angulaire de la lentille, indispensable pour la XPS en résolution angulaire de haute qualité
• Analyseur hémisphérique de 180°

Profilage de profondeur

• Canon ionique EX06 à commande numérique, source ionique haute performance même en utilisant des ions à faible énergie
• Rotation azimutale de l’échantillon possible
• Capacité multitechnique
• Conçu pour employer d’autres techniques analytiques sans compromettre les performances XPS
• Alimentation réversible pour les lentilles et l’analyseur à l’aide du canon ionique EX06 (la spectroscopie de diffusion ionique (ISS) est toujours disponible)
• Canon à électrons, pouvant être utilisé jusqu’à 1 000 V, excellente source pour la REELS

Options analytiques

• XPS avec rayons X non monochromatiques
• AES (Spectroscopie d’électrons Auger)
• UPS (Spectroscopie de photoélectrons UV)

Système de vide

• Chambre d’analyse en mu-métal d’une épaisseur de 5 mm afin d’améliorer le blindage magnétique
• Efficacité accrue comparée aux méthodes de blindage internes ou externes

Préparation des échantillons

• Combinaison d’un sas d’introduction et d’une chambre de préparation comprise dans le système de base
• Chambres de préparation supplémentaires disponibles

Système de traitement de données Avantage

• Intègre tous les aspects de l’analyse comme la commande de l'instrument, l’acquisition et le traitement des données et la production de rapports
• Possibilité de commande à distance via un réseau et interfaçage aisé avec des logiciels tiers tels que Microsoft Word
• Gestion du processus d’analyse entier, depuis l’introduction de l’échantillon jusqu’à la production durapport