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Thermo Scientific™
Evolution™ One/One Plus UV-Vis 분광광도계
Thermo Scientific™ Evolution™ UV-Vis 분광광도계는 쉽게 배우고 간편하게 사용할 수 있는 Thermo Scientific™ Insight™ Pro 소프트웨어와 신뢰성이 높고 다용도로 활용이 가능한 하드웨어를 결합한 제품입니다. 이러한 통합으로 현업에 필요한 다양한 분석 요구 사항을 충족합니다.
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| 카탈로그 번호 | 유형 | 스펙트럼 대역폭 |
|---|---|---|
| 840-341400 | UV-Vis 분광광도계 | 1.0 nm |
| 840-341500 | UV-Vis 분광광도계 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
| 840-370100 | Security 및 Validator 번들 - 미국 | 1.0 nm |
| 840-370500 | Security 및 Validator 번들 - 미국 | 1.0 nm |
| 840-370200 | USP/EP 표준 제약 번들 - 미국 | 1.0 nm |
| 840-370600 | USP/EP 표준 제약 번들 – INTL | 1.0 nm |
| 840-370400 | Security 및 Validator 번들 - 미국 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
| 840-370800 | Security 및 Validator 번들 - INTL | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
| 840-370300 | USP/EP 표준 제약 번들 - 미국 | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
| 840-370700 | USP/EP 표준 제약 번들 – INTL | 가변: 1.0 nm, 2.0 nm |
카탈로그 번호 840-341400
제품 가격(KRW)
-
유형:
UV-Vis 분광광도계
스펙트럼 대역폭:
1.0 nm
최신 규정 준수를 포함한 기본 연구, 복잡한 연구 및 고급 애플리케이션을 위한 Thermo Scientific™ Evolution™ One/One Plus UV-Vis 분광광도계 시리즈는 쉽게 배우고 간편하게 사용할 수 있는 Thermo Scientific™ Insight™ Pro 소프트웨어와 함께 신뢰성이 높고 다용도로 활용이 가능한 하드웨어와 다양한 액세서리를 제공합니다.
기본 연구에서 고급 연구까지 이 기기 시리즈는 복잡성은 가중되지 않으면서 활용성과 성능을 모두 높여 주는 실제적인 혁신을 제공합니다. 간단 명료한 소프트웨어, 첨단 기능 및 다양한 액세서리 선택 옵션을 통해 One/One Plus UV-Vis 분광광도계는 사용자가 원하는 방식으로 실험을 수행하여 필요한 결과를 제공합니다.
최적화된 엔지니어링으로 최상의 성능 제공:- 고정된 1nm 또는 가변 스펙트럼 대역폭 옵션이 있는 더블 빔 지오메트리
- 애플리케이션 중심 빔 지오메트리(AFBG) 기술을 통해 마이크로셀, 고체 시료 및 광섬유 프로브에서 최상의 성능 제공(Evolution One Plus만 해당)
- 제논 플래시 램프는 예열 시간이 필요 없어 즉각적인 측정 가능
- 다양한 액세서리로 화학, 재료 과학, 생물학적 시료 및 분석 요구 사항을 충족할 수 있습니다.
- 교육 시간 단축: 단계별 안내를 제공하는 소프트웨어를 통해 최적화된 사용자 인터페이스는 명확한 단계별 워크플로우를 정의하며 쉽게 가르치고 배울 수 있습니다.
- 측정 오류로 인해 발생할 수 있는 분석 비용 소모 방지: 복잡한 어세이를 위한 전용 워크플로우를 생성하며, 맞춤형 사용자 환경(CUE, Customized User Environment)을 통해 다단계 워크플로우를 모든 사용자 수준에 적합한 간단하며 따라하기 쉬운 하나의 방법으로 변환합니다.
- 항상 최신 상태 유지: Insight Pro 소프트웨어는 사용자 입력, 애플리케이션 요구 사항 또는 새로운 규정 등 고객의 실험실 요구에 맞게 더욱 향상된 기능과 효율성을 제공하도록 신속한 업그레이드로 끊임없이 개선됩니다.
- 다양한 온도 제어 옵션, 시료 교환기, 시퍼(sipper) 및 고체 시료 분석 장치를 포함하여 분석에 필요한 일체의 액세서리 선택 옵션 제공
- 0° ∼ 100°C 범위의 온도 제어 및 시료 모니터링을 위한 펠티에 싱글 셀 홀더 또는 지능형 8셀 펠티에 시스템
- 간편한 소프트웨어 통합으로 측정에 대한 완벽한 제어 가능
규정/품질 관리 환경:
규정 또는 품질 관리 환경에서 EvolutionOne/One Plus UV-Vis 분광광도계를 사용할 수 있도록 구현 시간을 줄이고 시스템 성능을 보장하는 다양한 규정 준수 제품 및 서비스를 제공합니다.
- Evolution One 또는 One Plus UV-Vis 분광계
- INSIGHT Pro Security 소프트웨어
- Insight Pro US Ltr 또는 INTL A4 용지 버전의 validator
- UV-Vis용 적합성 검증 필터 키트
- Evolution One 또는 One Plus 분광계
- INSIGHT Pro Security 소프트웨어
- Insight Pro US Ltr 또는 INTL A4 용지 버전의 validator
- USP 및 EP UV 표준 세트
- USP 및 EP Visible 표준 세트
사양
베이스라인 평탄도±0.001 A, 200–800 nm, 1.0 nm SBW, 평활화됨
치수(길이 x 폭 x 높이)593 x 475 x 266 mm (23.3 x 18.7 x 10.6 in.)
드리프트<0.0005 A/hr, 500 nm, 1.0 nm SBW, 1시간 예열
전기 요구사항100/240 V, 50/60 Hz 자동 선택, 최대 150 W
포함Evolution One Plus UV-Vis Spectrometer
램프 수명>라이브 신호를 사용하지 않을 경우 5년 이상
노이즈
0A: ≤0.00015 A
1A: ≤0.00025 A
2A: ≤0.00050 A
260 nm, 1.0 nm SBW, RMS<
1A: ≤0.00025 A
2A: ≤0.00050 A
260 nm, 1.0 nm SBW, RMS<
광학 디자인시료 및 기준 큐벳이 있는 더블 빔은 Czerny-Turner 단색화 장치의 위치를 지정합니다.
약전 규정 준수 검사광도 정확도(60mg/L K2Cr2O7): ±0.010A
미광: 198 nm에서 ≤1%T: KCI; 220 nm에서 ≤0.05%: Nal, Kl
파장 정확도: ±.5 nm 541.9, 546.1nm Hg 방출선, ±0.8 nm 전체 범위
파장 재현성: ≤0.05 nm, 546.1 nm Hg 방출선의 반복 스캐닝
미광: 198 nm에서 ≤1%T: KCI; 220 nm에서 ≤0.05%: Nal, Kl
파장 정확도: ±.5 nm 541.9, 546.1nm Hg 방출선, ±0.8 nm 전체 범위
파장 재현성: ≤0.05 nm, 546.1 nm Hg 방출선의 반복 스캐닝
광도 정확도1 A: ±0.004 A, 2 A: ±0.008 A, NIST로 추적 가능한 중성 밀도 필터를 사용하여 440 nm에서 측정됨
광도 디스플레이-0.3 ∼ 4.0 A
광도 범위>3.5 A
광도 반복성1 A: ±0.0002 A
스캔 좌표 모드흡광도, % 투과율, % 반사율, Kubelka-Munk, 로그(1/R), 로그(Abs), Abs*계수, 광도
스캔 속도<1 ∼ 6000 nm/분. (가변적)
워런티3년 소스 교체 보증
와트최대 150 W
파장 정확도±0.5 nm(541.9, 546.1 nm 수은선), ±0.8 nm(전체 범위 190 ∼ 1100 nm)
파장 데이터 간격10, 5, 2, 1.0, 0.5, 0.2, 0.1 nm
파장 반복성≤0.05 nm(546.1 nm 수은선, 10회 측정의 SD)
중량(영국식 단위)32 lb.
중량(미터법)14.5 kg
검출기 유형이중 실리콘 광다이오드
광원제논 플래시
제품라인Evolution One
스펙트럼 대역폭1.0 nm
유형UV-Vis 분광광도계
Wavelength Range190 ∼ 1100 nm
Unit SizeEach