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Hot stage microscopy

Real-world materials applications often take place under variable environmental conditions, including high temperatures. The behavior of your heated material as it recrystallizes, melts, and deforms can inform critical macro- and microscopic observations, such as how a manufactured part might respond to stress or how feed materials behave during production. As a sample’s response to heat is a dynamic process, it must be paired with dynamic observation for accurate insight. Modern heating stages in electron microscopes allow for in situ experiments for high-resolution observation of heated materials. These demanding experiments are capable of linking sample morphology, environment, and thermodynamics, and can help you control the corresponding behavior of the bulk material.

SEM heating stages

There are many considerations when operating electron microscopes at elevated temperatures, such as the desired temperature range, sample size, and chemical environment. The following table shows what is possible with Thermo Scientific temperature stages.

Style Sheet for Products Table Specifications

Name

Application

Temperature

Max. Sample Size

Environment

High vacuum heating stage

General-purpose heating, high resolution imaging, in-column detection, fast processes, electron-backscatter diffraction (EBSD)

Up to 1100°C

(EBSD up to 900°C)

10 mm

High vacuum

Environmental SEM (ESEM) stage

Heating in gaseous environment: oxidation or other chemical reactions

Up to 1000°C or 1400°C, depending on the model

5 mm

ESEM

µHeater

Powder heating, chunk lift-out studies (DualBeam), STEM imaging, high-temperature EBSD and EDS, ramp rate of 10,000°C/s

Up to 1200°C

50 µm

Any

Cooling stage, WetSTEM

Precise control over humidity, wetting studies, modest heating

-20°C to +60°C

3 mm

ESEM

Gold on a silicon substrate heated with a SEM hot stage.
Gold on a silicon substrate at approximately 1080°C. The High Vacuum Heating Stage allows all in-lens detectors and imaging modes to be used to image the sample with excellent resolution and contrast.

Resources

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Mixture of magnetite and hematite nanoparticles heated at 1030 °C.
Backscattered electron image (left) and EDS maps of iron and oxygen (right) acquired simultaneously.

Texture development on implant material. As the temperature increases from 700 °C to 1300 °C
we can observe a completely different surface structure. Pressure: 120 Pa.

Two-phase Co-Sb alloy during heating to 700°C on the High Vacuum Heating Stage. The antimony-rich
phase sublimated during heating, causing exposure of the second phase.

Applications

Fundamental Materials Research_R&D_Thumb_274x180_144DPI

Fundamental Materials Research

Novel materials are investigated at increasingly smaller scales for maximum control of their physical and chemical properties. Electron microscopy provides researchers with key insight into a wide variety of material characteristics at the micro- to nano-scale.

 


Samples


Recherche sur les batteries

Le développement de batteries est possible grâce à une analyse multi-échelle avec la microCT, la SEM et la TEM, la spectroscopie Raman, la XPS ainsi que la visualisation et l’analyse 3D numériques. Découvrez comment cette approche fournit les informations structurelles et chimiques nécessaires à l’amélioration des batteries.

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Recherche sur les métaux

La production efficace de métaux nécessite un contrôle précis des inclusions et des précipités. Nos outils automatisés peuvent effectuer toute une série de tâches essentielles à l’analyse des métaux, notamment le comptage des nanoparticules, l’analyse chimique par EDS et la préparation des échantillons par TEM.

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Recherche sur les polymères

La microstructure des polymères détermine les caractéristiques et les performances globales du matériau. La microscopie électronique permet une analyse complète à échelle microscopique de la morphologie et de la composition des polymères pour les applications de recherche et développement (R&D) et de contrôle de la qualité.

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Nanoparticules

Les matériaux possèdent des propriétés fondamentalement différentes à l’échelle nanométrique par rapport à l’échelle macroscopique. Pour les étudier, les instruments de S/TEM peuvent être associés à la spectroscopie à rayons X à dispersion d’énergie pour obtenir des données de résolution à l’échelle du nanomètre, voire inférieure au nanomètre.

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Médecine légale

Les micro-traces de preuves provenant de scènes de crime peuvent être analysées et comparées à l’aide de la microscopie électronique dans le cadre d’une enquête médico-légale. Les échantillons compatibles comprennent les fragments de verre et de peinture, les marques d’outils, les médicaments, les explosifs et les résidus de poudre.

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Recherche dans le domaine de la catalyse

Les catalyseurs sont essentiels pour la majorité des processus industriels modernes. Leur efficacité dépend de la composition microscopique et de la morphologie des particules catalytiques ; l’EM avec l’EDS est parfaitement adaptée à l’étude de ces propriétés.

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Tests de matériaux automobiles

Chaque composant d’un véhicule moderne est conçu pour assurer la sécurité, l’efficacité et les performances. La caractérisation détaillée des matériaux automobiles à l’aide de la spectroscopie et de la microscopie électronique éclaire les décisions critiques concernant les processus, les améliorations des produits et les nouveaux matériaux.

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Fibres et filtres

Le diamètre, la morphologie et la densité des fibres synthétiques sont des paramètres clés qui déterminent la durée de vie et la fonctionnalité d’un filtre. La microscopie électronique à balayage (SEM) est la technique idéale pour étudier rapidement et facilement ces caractéristiques.

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Products

Style Sheet for Komodo Tabs

Apreo ChemiSEM System

  • Integrated SEM imaging and chemical characterization
  • Enhanced automation to simplify workflows
  • Extended source lifetime and schedulable upgrades

Helios 5 HX/Helios 5 UX/Helios 5 FX DualBeam

  • Fully automated, high-quality, ultra-thin TEM sample preparation
  • High throughput, high resolution subsurface and 3D characterization
  • Rapid nanoprototyping capabilities

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Gallium-free STEM and TEM sample preparation
  • Multi-modal subsurface and 3D information
  • Next-generation 2.5 μA xenon plasma FIB column

Axia ChemiSEM

  • Live quantitative elemental mapping
  • High fidelity scanning electron microscopy imaging
  • Flexible and easy to use, even for novice users
  • Easy maintenance
Thermo Scientific Apreo 2 scanning electron microscope (SEM)

Apreo 2 SEM

  • High-performance SEM for all-round nanometer or sub-nanometer resolution
  • In-column T1 backscatter detector for sensitive, TV-rate materials contrast
  • Excellent performance at long working distance (10 mm)
Thermo Scientific Verios 5 XHR scanning electron microscope (SEM)

Verios 5 XHR SEM

  • Monochromated SEM for sub-nanometer resolution over the full 1 keV to 30 keV energy range
  • Easy access to beam landing energies as low as 20 eV
  • Excellent stability with piezo stage as standard
Thermo Scientific Quattro E scanning electron microscope (SEM)

Quattro ESEM

  • Ultra-versatile high-resolution FEG SEM with unique environmental capability (ESEM)
  • Observe all information from all samples with simultaneous SE and BSE imaging in every mode of operation

Phenom ProX G6 Desktop SEM

  • High performance desktop SEM with integrated EDS detector
  • Resolution <6 nm (SE) and <8 nm (BSE); magnification up to 350,000x
  • Optional SE detector

Phenom Pro G6 Desktop SEM

  • High performance desktop SEM
  • Resolution <6 nm (SE) and <8 nm (BSE); magnification up to 350,000x
  • Optional SE detector

Phenom Pure G6 Desktop SEM

  • Entry level desktop SEM
  • Resolution <15 nm; magnification up to 175,000x
  • Longlife CeB6 source
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