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자동차 부품 테스트

오늘날의 자동차 부품은 변속기, 연료 분사 시스템, 동력 전달 장치 및 브레이크 시스템의 기능과 안정성이 놀라울 정도로 발전했습니다. 이러한 발전은 점점 더 복잡해지는 새로운 강철, 유리, 세라믹 및 고분자 물질을 포함하여 자동차 제조에 사용되는 물질의 근본적인 발전에 따른 것입니다.

자동차 재료 테스트

그러나 이러한 발전은 새로운 도전 과제를 안고 있습니다. 예를 들어, 고정밀 자동차 부품은 마이크론 크기의 잔류 미립자 오염에 더욱 취약하여 구성 요소 또는 시스템 고장을 일으킬 수 있습니다. 문제를 악화시키는 현재의 분석 기법은 종종 엔지니어들이 이러한 오류의 원인을 파악하는 데 있어 부적절합니다(너무 낮은 해상도).

또한 새 차량은 신뢰할 수 있는 고품질 자동차의 생산을 보장하고 현재 자재 및 공정의 추가적인 개선을 위해 광범위한 테스트를 거칩니다.  예를 들어, 경제적인 높은 연료 효율 타이어에 대한 수요가 증가함에 따라 새로운 고무 제형을 개발하고 연구하기 위한 보다 개선된 테스트 방법이 요구됩니다. 차세대 고무 화합물들은 연료 효율성에 중요한 영향을 줄 수 있는 고품질의 최종 제품을 제공하면서도 도로 저항을 줄여야 합니다. 이것은 전자 현미경 검사와 같은 기법을 통한 자세한 분석 평가로부터 시작됩니다. 

자동차 품질 관리

Thermo Fisher Scientific은 자동차 재료 분석을 간소화시켜주는 다양한 기기 및 소프트웨어를 제공합니다. 또한 이들 도구는 품질 관리 프로세스를 사내에 도입할 때 생산 시간을 크게 줄여줄 수 있는 가능성을 가지고 있습니다. QC 분석 아웃소싱에 더 이상 의존하지 않으므로 생산 주기 시간이 최대 10배까지 줄어들 수 있습니다.

Style Sheet for Komodo Tabs

리소스

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

응용분야

전자현미경을 사용한 품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 불량 분석

품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.

부품 청결도 검사 중에 SEM에 의해 발견된 알루미늄 미네랄 입자

기술적 청결도

그 어느 때보다 오늘날의 제조업계는 신뢰할 수 있는 고품질 부품을 필요로 합니다. 주사전자현미경을 이용해, 내부에서 광범위한 분석 데이터를 제공하고 생산 주기를 단축시킬 수 있는 부품 청결도 분석을 수행할 수 있습니다.

기술

EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

자세히 알아보기 ›

단면 절단

단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

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현장(In Situ) 실험

재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑

원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.

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단면 절단

단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

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현장(In Situ) 실험

재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

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입자 분석

입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

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제품

기기 카드 원본 스타일시트

Apreo 2 SEM

  • 전방위적인 나노미터 미만 분해능을 위한 고성능 SEM
  • 민감하고 TV 속도 물질 대비를 위한 In-column T1 후방산란 검출기
  • 긴 작동 거리에서(10mm)에서 뛰어난 성능

Quattro ESEM

  • 고유한 환경 기능(ESEM)을 갖춘 다기능성 고분해능 FEG SEM
  • 모든 조작 모드에서 동시 SE 및 BSE 이미징을 통한 모든 시료의 모든 정보 관찰

PRISMA E SEM

  • 탁월한 이미지 품질의 초보 수준 SEM
  • 여러 시료를 신속하고 쉽게 로딩 및 탐색
  • 전용 진공 모드를 통해 광범위한 물질 사용 가능

Phenom Pharos G2 Desktop FEG-SEM

  • 1 - 20 kV 가속 전압 범위의 FEG 소스
  • <2.0 nm (SE) 및 3.0 nm (BSE) 분해능 @ 20 kV
  • 완전 통합형 EDS 및 SE 검출기 옵션

Phenom XL G2 데스크탑 SEM

  • 대형 시료(100x100mm)에 적합하며 자동화에 이상적
  • <10nm 분해능 및 최대 200,000x 확대, 4.8kV에서 최대 20kV의 가속 전압
  • 완전 통합형 EDS 및 BSE 검출기 옵션

Phenom ProX G6 데스크탑 SEM

  • EDS 통합 검출기를 갖춘 고성능 데스크탑 SEM
  • 분해능 <6nm(SE) 및 <8nm(BSE), 최대 350,000x 확대
  • SE 검출기 옵션

Phenom ParticleX TC 데스크탑 SEM

  • 청결도 기술을 위한 자동화 소프트웨어를 갖춘 다기능 데스크탑 SEM
  • 분해능 <10nm, 최대 200,000x 확대
  • SE 검출기 옵션

Nexsa G2 XPS

  • 미세 초점 X-선 소스
  • 독자적인 다중기법 옵션
  • 단일 원자 & 클러스터 이온 깊이 프로파일링을 위한 듀얼 모드 이온 소스

K-Alpha XPS

  • 고분해능 XPS
  • 빠르고 효율적이며 자동화된 워크플로우
  • 깊이 프로파일링을 위한 이온 소스

ESCALAB Xi+ XPS

  • 높은 스펙트럼 분해능
  • 다중 기법 표면 분석
  • 광범위한 시료 준비 및 확장 옵션

Avizo 소프트웨어
재료 과학

  • 다중 데이터/다중 뷰, 다중 채널, 타임 시리즈, 대량 데이터 지원
  • 고급 다중 모드 2D/3D 자동 등록
  • 아티팩트(artifact) 감소 알고리즘

필터 인서트

  • 필터 잔류물 분석 및 석면 분석
  • 47mm(1.85인치) 및 25mm(1인치) 필터를 지원하는 두 가지 모델
  • Phenom 데스크탑 SEM에서 사용

AutoScript 4

  • 개선된 재현성 및 정확도
  • 무인 조건에서 고처리량 이미지 생성 및 패턴 작업
  • Python 3.5 기반 스크립팅 환경에 의한 지원

PoroMetric

  • 면적, 종횡비, 중심 축 및 보조 축과 같은 기공 특성 상관관계
  • 데스크탑 SEM에서 직접적인 영상 획득
  • 고품질 영상에 의한 통계 데이터

ParticleMetric

  • 온라인 및 오프라인 분석을 위한 ProSuite의 통합 소프트웨어
  • 지름, 원형, 종횡비, 돌출과 같은 입자 특성 상관관계
  • 자동 이미지 맵핑을 통한 이미지 데이터 세트 생성

FiberMetric

  • 자동 측정을 통한 시간 절약
  • 모든 통계 데이터의 빠르고 자동화된 수집
  • 타의 추종을 불허하는 정확도로 마이크로 및 나노 섬유를 확인 및 측정
em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트

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재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스

최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.