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Electron Energy Loss Spectroscopy
High resolution electron energy loss spectroscopy for high signal-to-noise ratio elemental mapping and oxidation state probing.
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Electron Energy Loss Spectroscopy
Over the last three decades, electron energy loss spectroscopy (EELS) has become a formidable characterization technique. Used in combination with a transmission electron microscope (TEM), it can provide atomic-level chemical and structural characterization. This includes information about elemental composition, chemical bonding, oxidation states, valence and conduction band electronic properties, and surface properties. It can also be used in conjunction with other techniques, such as electron tomography, to provide advanced 3D mapping of elements and oxidation states.
As materials characterization becomes increasingly more demanding, there is a growing need for highly localized characterization of increasingly complex structures with ever smaller features. Fortunately, improvements in EELS and S/TEM instrumentation have kept pace with these demands, with advances including spherical aberration correction of the S/TEM lenses, as well as the use of monochromators to improve energy resolution, providing sub-angstrom spatial resolution and a higher probe current.
EELS TEM
With our X-FEG/Mono, X-FEG/UltiMono and X-CFEG guns on the Thermo Scientific Spectra and X-FEG on the Thermo Scientific Talos S/TEM platforms, Thermo Fisher Scientific has all your EELS applications covered. These systems allow you to perform ultra-high resolution EELS analysis to obtain valuable structural, elemental, and chemical information at the atomic scale.
Core-loss EELS atomic-resolution elemental map of a BaTiO₃/SrTiO₃ interface. Barium in blue, strontium in red and titanium in green. Imaged at 80 kV (60 pA) with a 1 eV full width at half maximum (FWHM) electron probe (49x49 pixels, <90 seconds).
Mapping of surface phonon modes in a magnesium oxide crystal at 60 kV using a monochromated electron probe with a full width at half maximum (FWHM) electron probe of <30 meV. Specimen and analysis courtesy of Isobel Bicket and Prof. Gianluigi Botton, The Canadian Centre for Electron Microscopy, McMaster University.
OptiMono+ exciting an X-FEG/UltiMono from the monochromator off state (with 1 eV energy resolution) to the monochromator fully excited state (<30 meV) at 60 kV.
Localized positions of plasmon excitations along a gold nanowire as a function of their excitation energy (between 0.18 – 1.2 eV), investigated with an electron probe of <0.2 eV energy resolution.
Core-loss EELS atomic-resolution elemental map of a BaTiO₃/SrTiO₃ interface. Barium in blue, strontium in red and titanium in green. Imaged at 80 kV (60 pA) with a 1 eV full width at half maximum (FWHM) electron probe (49x49 pixels, <90 seconds).
Mapping of surface phonon modes in a magnesium oxide crystal at 60 kV using a monochromated electron probe with a full width at half maximum (FWHM) electron probe of <30 meV. Specimen and analysis courtesy of Isobel Bicket and Prof. Gianluigi Botton, The Canadian Centre for Electron Microscopy, McMaster University.
OptiMono+ exciting an X-FEG/UltiMono from the monochromator off state (with 1 eV energy resolution) to the monochromator fully excited state (<30 meV) at 60 kV.
Localized positions of plasmon excitations along a gold nanowire as a function of their excitation energy (between 0.18 – 1.2 eV), investigated with an electron probe of <0.2 eV energy resolution.
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Batterieforschung
Die Entwicklung von Batterien wird durch die Multiskalen-Analyse mit Mikro-CT, REM und TEM, Raman-Spektroskopie, XPS und digitaler 3D-Visualisierung und 3D-Analyse ermöglicht. Erfahren Sie, wie dieser Ansatz die strukturellen und chemischen Informationen liefert, die für den Bau besserer Batterien benötigt werden.
Polymerforschung
Die Mikrostruktur von Polymeren bestimmt die Eigenschaften und die Leistungsfähigkeit des Materials. Die Elektronenmikroskopie ermöglicht eine umfassende Analyse der Morphologie und Zusammensetzung von Polymeren im Mikroskalenbereich für Anwendungen in der F+E und Qualitätskontrolle.
Metallforschung
Die effektive Produktion von Metallen erfordert eine präzise Kontrolle von Einschlüssen und Ausscheidungen. Unsere automatisierten Geräte können eine Vielzahl von Aufgaben ausführen, die für die Metallanalyse wichtig sind, einschließlich der Zählung von Nanopartikeln, der chemischen Analyse mittels EDS und der Vorbereitung von TEM-Proben.
Fasern und Filter
Durchmesser, Morphologie und Dichte synthetischer Fasern sind wichtige Parameter, die die Lebensdauer und Funktionalität eines Filters bestimmen. Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist die ideale Technologie für die schnelle und einfache Untersuchung dieser Merkmale.
Forensik
Mit der Elektronenmikroskopie können im Rahmen einer forensischen Untersuchung Mikrospuren in Beweismaterial analysiert und verglichen werden. Zu den kompatiblen Proben gehören Glas- und Farbsplitter, Werkzeugspuren, Drogen, Sprengstoffe und GSR (Schmauchspuren).
Geologische Forschung
Die Geowissenschaften beruhen auf einer konsistenten und präzisen, mehrskaligen Beobachtung von Merkmalen in Gesteinsproben. Die REM-EDS ermöglicht in Kombination mit Automatisierungssoftware eine direkte, umfangreiche Analyse der Textur und Mineralzusammensetzung für die petrologische und mineralogische Forschung.
Katalyseforschung
Katalysatoren sind für einen Großteil der modernen industriellen Prozesse von entscheidender Bedeutung. Ihre Effizienz hängt von der mikroskopischen Zusammensetzung und Morphologie der katalytischen Partikel ab; EM mit EDS eignet sich ideal für die Untersuchung dieser Eigenschaften.
2D-Materialien
Die Forschung an neuartigen Materialien interessiert sich zunehmend für die Struktur von niederdimensionalen Materialien. Die Rastertransmissionselektronenmikroskopie mit Sondenkorrektur und Monochromatisierung ermöglicht eine hochauflösende zweidimensionale Materialbildgebung.
Materialprüfung für die Automobilindustrie
Jedes Bauteil in einem modernen Fahrzeug ist auf Sicherheit, Effizienz und Leistung ausgelegt. Die detaillierte Charakterisierung von Materialien für Automobile mittels Elektronenmikroskopie und Spektroskopie liefert Informationen für wichtige Prozessentscheidungen, Produktverbesserungen und neue Materialien.
Style Sheet for Komodo Tabs
Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards
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