Automotive parts testing

Today’s automotive parts have seen incredible advances in the functionality and reliability of transmissions, fuel injection systems, power trains, and braking systems. These improvements are the result of fundamental advances in the materials used in automotive manufacturing, including novel, increasingly complex steel, glass, ceramic, and polymer materials.

Automotive materials testing

These improvements, however, also come with new challenges. For example, high-precision automotive parts are more susceptible to residual, micron-size particulate contamination, which results in component, or potentially even system, failure. To make matters worse, current analytical techniques are often inadequate (too low resolution) to help engineers determine the cause of these failures.

New vehicles also undergo extensive testing to ensure the production of reliable, quality automobiles along with further improvements to current materials and processes.  For instance, the increasing demand for affordable, fuel-efficient tires requires better test methods to develop and study new rubber formulations. The next generation of rubber compounds has to reduce road resistance while still yielding a quality end product in order to substantially impact fuel efficiency. This starts with detailed analytical assessment using techniques such as electron microscopy.  

Automotive quality control

Thermo Fisher Scientific provides a range of instrumentation and software that simplifies your automotive materials analysis. These tools also have the potential to greatly reduce production times as you bring the quality control process in-house. By no longer relying on outsourcing for your QC analysis, production-cycle time can decrease by up to ten-fold.

Style Sheet for Komodo Tabs

Resources

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Watch on-demand: Particle Analysis Applications Using Desktop SEM Webinar Series

In each on-demand webinar, our expert will focus on one particular analysis application and how the Phenom ParticleX Desktop SEM overcomes some of the most common challenges. See the abstracts for individual sessions below.

  • How to certify your NCM powder quality with SEM+EDS
  • Electron-microscope-grade cleanliness in electronics
  • Speed up your automated gunshot residue analysis
  • Technical cleanliness analysis with an SEM: Why?
  • Understand your steel with automated inclusion analysis
  • One tool for complete AM powder characterization

Applications

Quality Control_Thumb_274x180_144DPI

Control de calidad
 

El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.

 

Grano mineral de aluminio encontrado con SEM durante las pruebas de limpieza de piezas

Pulcritud
 

Más que nunca, la fabricación moderna necesita componentes fiables y de calidad. Con la microscopía electrónica de barrido, el análisis de limpieza de las piezas se puede llevar a cabo internamente, lo que le proporciona una amplia gama de datos analíticos y acorta su ciclo de producción.

Techniques

Asignación elemental a escala atómica con EDS

El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.

Más información ›

Corte transversal

El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.

Más información ›

Experimentación in situ

La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.

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Análisis de partículas

El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.

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Asignación elemental a escala atómica con EDS

El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.

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Corte transversal

El corte transversal proporciona una visión adicional, ya que descubre información de la subsuperficie. Los instrumentos DualBeam tienen columnas FIB para poder realizar el corte transversal con alta calidad. Con la automatización, se puede realizar el procesamiento de muestras de alto rendimiento sin supervisión.

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Experimentación in situ

La observación directa y en tiempo real de los cambios microestructurales con microscopía electrónica es necesaria para comprender los principios subyacentes de los procesos dinámicos como la recristalización, el crecimiento del grano y la transformación de fases durante el calentamiento, refrigeración y humectación.

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Análisis de partículas

El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.

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Products

Hoja de estilo para tarjetas originales instrumentos

Apreo 2 SEM

  • SEM de alto rendimiento para resolución de subnanómetro o nanómetro completo
  • Detector de retrodispersión de T1 incorporado en la columna para contraste de materiales sensibles de velocidad TV
  • Excelente rendimiento en distancias de trabajo largas (10 mm)

Quattro ESEM

  • Tecnología de obtención de imágenes por microscopía electrónica de barrido (SEM) con cañón de emisión de campo (FEG) de alta resolución con versatilidad absoluta y capacidad medioambiental única (ESEM)
  • Consulte la información completa de todas las muestras con obtención de imágenes SE y BSE en cada modo de funcionamiento

Prisma E SEM

  • SEM de nivel básico con excelente calidad de imagen
  • Rápida y sencilla navegación y carga de muestras para varias muestras
  • Compatible con una amplia gama de materiales gracias a los exclusivos modos de vacío

SEM de escritorio Phenom Pharos

  • Fuente FEG con un rango de tensión de aceleración desde 2 hasta 15 kV
  • Resolución de <2,5 nm (SE) y <4,0 nm (BSE) @ 15 kV; aumento de hasta 1.000.000x
  • Detector de EDS y SE, totalmente integrado, opcional

SEM de escritorio Phenom XL G2

  • Para muestras grandes (100 x 100 mm) e ideal para automatización
  • Resolución de <10 nm y aumento de hasta 200.000x; tensión de aceleración desde 4,8 kV hasta 20 kV
  • Detector de EDS y BSE, totalmente integrado, opcional

SEM de escritorio Phenom ProX

  • SEM de escritorio de alto rendimiento con detector EDS integrado
  • Resolución de <8 nm (SE) y <10 nm (BSE); aumento de hasta 150.000x
  • Detector SE opcional
 
 

SEM de escritorio Phenom ParticleX TC

  • SEM de escritorio versátil con software de automatización para pulcritud técnica
  • Resolución de <10 nm; aumento de hasta 200.000x
  • Detector SE opcional

Nexsa XPS

  • Módulo de basculación para mediciones de ARXPS
  • Fuente de iones de modo dual para capacidades de realización de perfiles de profundidad
  • Análisis de aislantes.

K-Alpha XPS

  • Espectroscopía de área seleccionable.
  • Monocromador microfocalizado.
  • Espectroscopía del estado químico de alta resolución.

ESCALAB Xi+ XPS

  • Espectroscopía de alta sensibilidad.
  • XPS con fuente de rayos X no monocromática.
  • Analizador hemisférico de 180°.

Software Avizo

  • Compatibilidad con varios datos/varias vistas, multicanal, series temporales, datos de gran tamaño
  • Registro automático avanzado multimodo 2D/3D
  • Algoritmos de reducción de artefactos

Insertos de filtro

  • Análisis de residuos de filtro y análisis de asbesto
  • Disponible en dos modelos compatibles con filtros de 47 mm (1,85 pulg) y de 25 mm (1 pulgada)
  • Uso con el SEM de escritorio Phenom

AutoScript 4

  • Reproducibilidad y precisión mejoradas
  • Adquisición de imágenes y patrones de alto rendimiento y sin supervisión
  • Compatible con un entorno de secuencia de comandos basado en Python 3.5

PoroMetric

  • Correlaciona las características de los poros como el área, la relación de aspecto, el eje principal y el secundario
  • Adquiera imágenes directamente desde el SEM de escritorio
  • Datos estadísticos con imágenes de alta calidad

ParticleMetric

  • Software integrado en ProSuite para análisis en línea y fuera de línea
  • Funciones de correlación de partículas como diámetro, circularidad, relación de aspecto y convexidad
  • Creación de conjuntos de datos de imágenes con el mapeo de imágenes automatizado

FiberMetric

  • Ahorre tiempo mediante mediciones automáticas
  • Recopilación rápida y automática de todos los datos estadísticos
  • Visualización y medición de nanofibras y microfibras con exactitud incomparable
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