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Autoscript 4 Software for scanning electron microscopy and FIB SEM
Automation software packages for electron/ion microscopy like Thermo Scientific Maps and Thermo Scientific Auto Slice and View are great for making collection of standard imaging techniques easy. However, working to achieve cutting edge research goals or to meet specific industrial requirements is seldom standard.
Industrial automation as well as fundamental research often requires advanced techniques for imaging and analysis that cannot be covered in the scope of general purpose software.
Automated electron microscopy and FIB SEM imaging
Thermo Scientific AutoScript 4 Software is the customization toolkit for electron and ion microscopy. Built around Python, Autoscript Software provides you the power to automate imaging and associated processing pipelines built to solve specific research questions.
AutoScript Software:
- Provides a direct link between research needs and microscope automation
- Enables improved reproducibility and accuracy
- Focuses time on the microscope for higher throughput
Integrated IDE
An integrated development environment (IDE) makes it easy to get up and running with AutoScript Software. Object browsing and syntax tools with auto completion are all included to ensure a rich user experience and rapid, consistent scripting framework.
Python
Harness the power of your microscope using the most popular scientific programming language. Autoscript Software is built on Python 3.5 and includes a number of pre-installed libraries for scientific computing, data analysis, data visualization, image processing, and machine learning.
Scripting toolbox
AutoScript 4 Software comes bundled with a set of commonly needed, prebuilt routines. Not starting from scratch means more time to focus on developing the scripts that define the unique workflow for your research.
Formatvorlage für Produkttabellen-Spezifikationen
| Supported microscope control methods |
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| Common packages |
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| Application examples |
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| Compatibility |
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Style Sheet for Komodo Tabs
Feature based image segmentation (geological sample).
Compensation of thermal drift during a bulk heating experiment.
Feature based image segmentation (geological sample).
Compensation of thermal drift during a bulk heating experiment.
Prozesskontrolle mittels Elektronenmikroskopie
Die moderne Industrie verlangt einen hohen Durchsatz bei erstklassiger Qualität. Diese Balance wird durch eine robuste Prozesskontrolle aufrechterhalten. REM- und TEM-Geräte mit spezieller Automatisierungssoftware bieten schnelle, mehrskalige Informationen für die Überwachung und Verbesserung von Prozessen.
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
3D-Materialcharakterisierung
Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.
Mehrskalenanalyse
Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.
3D-Materialcharakterisierung
Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.
Mehrskalenanalyse
Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Electron microscopy services for
the materials science
To ensure optimal system performance, we provide you access to a world-class network of field service experts, technical support, and certified spare parts.
Electron microscopy support and resources
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards