Nanoparticle analysis

Nanometer-sized particles are present in many different materials, from food additives to high-performance metals to catalysts used for process optimization. As part of the process to enhance the properties of everyday materials, the characterization of nanoparticles involves the exploration and manipulation of structures at the nanoscale. Quantification of the composition, size, and shape of nanoparticles in these everyday objects is a crucial first step in furthering our understanding of the relationships between nanoparticles, performance, quality, and safety.

Automated nanoparticle analysis

The Thermo Scientific Automated Particle Workflow (APW) improves the research and product development process for industrial, academic, and government labs by providing an all-in-one software package that streamlines chemical analysis workflows.

APW is the only solution that automates the entire workflow, from acquisition to automated processing. With APW, you can quickly acquire statistically relevant, high-resolution (nanoscale) results over a large area. APW’s seamless integration with Thermo Scientific Talos (S)TEM and Thermo Scientific Spectra (S)TEM instruments and Thermo Scientific Maps EDS Software makes it possible to obtain data with much higher statistics (50 in total vs. >500/hour), while also simplifying the process.


Dynamic software integration that streamlines chemical analysis

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Higher productivity

APW can empower you to accelerate your time-to-results. APW’s fully automated solution expedites data collection by allowing you to rapidly screen new products and processes, while allowing you to analyze more samples in a shorter amount of time.

By automating routine nanoscale imaging and chemical analysis tasks overnight, APW increases TEM productivity. This new-found availability frees up the TEM for other R&D, which can result in higher yield in finding smarter materials, and it can provide faster ramp-up for the research of new products.

Decreased cost per measurement

APW can lower your cost per measurement through unattended, repeatable processes. Its automation capabilities allow you to quickly run complex workflows and eliminate the chance of human error inherent in manual processes, resulting in faster processes and more precise results.

Ease of use through automation and unattended use

APW is easy to use, so you do not need to be an expert microscopist to realize its benefits. Regardless of your experience level, you will be able to focus more attention on your materials science instead of the tool. APW’s integration with existing workflows and enhanced automation makes this software package efficient and user-friendly, and it runs unattended.

Wide range of experiments

You can run a wide range of experiments on many different types of materials. The experimental techniques possible with APW, including energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS), support research related to metals, catalysis, foods, paints, asbestos, and more. Data collected and analyzed by APW includes nanoparticle morphology, chemical composition, and structural information (size, shape, distribution), allowing more research questions to be answered and, ultimately, enhancing product quality.

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Style Sheet for Komodo Tabs

Automated Particle Workflow in Action

 

The APW package provides all the necessary software and hardware for easy, automated, and unattended analysis of your sample with STEM and EDS, giving you the scientifically meaningful statistics that you need. APW contains a computer upgrade for the Talos TEM or Spectra (S)TEM, acquisition software (Thermo Scientific Maps 3 Software for (S)TEM and EDS, enabled by Thermo Scientific Velox Software), processing software (Thermo Scientific Avizo2D Software) on a dedicated data processing computer, and a bridge between the acquisition and processing software.


Resources

High resolution APW

High resolution APW

Applications

Control de procesos mediante microscopía electrónica

Control de procesos mediante microscopía electrónica

La industria moderna exige un alto rendimiento con una calidad superior, un equilibrio que se mantiene a través de un control de procesos sólido. Las herramientas SEM y TEM con software de automatización exclusivo proporcionan información rápida y multiescala para la supervisión y la mejora de procesos.

 

Control de calidad y análisis de fallos mediante microscopía electrónica

Control de calidad y análisis de fallos

El control y garantía de calidad son esenciales en la industria moderna. Ofrecemos una gama de herramientas de EM y espectroscopía para el análisis multiescala y multimodal de defectos, lo que le permite tomar decisiones fiables e informadas para el control y la mejora de procesos.

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Investigación sobre materiales fundamentales

Se investigan nuevos materiales a escalas cada vez más pequeñas para lograr el máximo control de sus propiedades físicas y químicas. La microscopía electrónica proporciona a los investigadores información clave sobre una amplia variedad de características materiales a escala nanométrica.

 


Techniques

Asignación elemental a escala atómica con EDS

El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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Análisis de partículas

El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.

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Asignación elemental a escala atómica con EDS

El EDS de resolución atómica proporciona un contexto químico incomparable para el análisis de materiales al diferenciar la identidad elemental de los átomos individuales. Cuando se combina con TEM de alta resolución, es posible observar la organización precisa de los átomos en una muestra.

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Análisis elemental EDS

EDS proporciona información de composición vital sobre las observaciones de microscopio electrónico. En concreto, nuestros exclusivos sistemas de detectores Super-X y Dual-X añaden opciones para mejorar el rendimiento y/o la sensibilidad, permitiendo optimizar la adquisición de datos para cumplir con sus prioridades de investigación.

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Análisis de partículas

El análisis de partículas juega un papel vital en la investigación de nanomateriales y el control de calidad. La resolución a escala nanométrica y la adquisición de imágenes superiores de microscopía electrónica se pueden combinar con software especializado para la rápida caracterización de polvos y partículas.

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Samples


Nanopartículas

Los materiales tienen propiedades sustancialmente diferentes en la nanoescala y en la macroescala. Para estudiarlos, la instrumentación S/TEM se puede combinar con la espectroscopia de rayos X por dispersión de energía para obtener datos de resolución nanométrica, o incluso subnanométrica.

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Investigación sobre catálisis

Los catalizadores son cruciales para la mayoría de los procesos industriales modernos. Su eficacia depende de la composición microscópica y la morfología de las partículas catalíticas; EM con EDS es ideal para estudiar estas propiedades.

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Investigación sobre metales

La producción eficaz de metales requiere un control preciso de las inclusiones y precipitados. Nuestras herramientas automatizadas pueden realizar varias tareas cruciales para el análisis de metales, incluyendo el recuento de nanopartículas, el análisis químico EDS y la preparación de muestras de TEM.

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Products

Style Sheet for Instrument Cards Original

Iliad (S)TEM

  • Advanced integration of EELS and (S)TEM optics
  • Electrostatic beam blanker
  • High energy resolution electron source

Spectra Ultra

  • New imaging and spectroscopy capabilities on the most beam sensitive materials
  • A leap forward in EDX detection with Ultra-X
  • Column designed to maintain sample integrity.

Spectra 200

  • High-resolution and contrast imaging for accelerating voltages from 30-200 kV
  • Symmetric S-TWIN/X-TWIN objective lens with wide-gap pole piece design of 5.4 mm
  • Sub-Angstrom STEM imaging resolution from 60 kV-200 kV

Spectra 300

  • Highest-resolution structural and chemical information at the atomic level
  • Flexible high-tension range from 30-300 kV
  • Three lens condenser system

Talos F200S TEM

  • Intuitive and easy-to-use automation software
  • Available with Super-X EDS for rapid quantitative chemical analysis
  • High-throughput with simultaneous multi-signal acquisition

Talos F200X TEM

  • High-resolution, EDS cleanliness, and quality in 2D as well as 3D
  • X-FEG and X-CFEG available for the highest brightness and energy resolution
  • High accuracy and repeatable results with integrated Thermo Scientific Velox Software

Talos F200i TEM

  • Compact design with X-TWIN objective lens
  • Available with S-FEG, X-FEG, and X-CFEG
  • Flexible and fast EDS options for comprehensive elemental analysis

Avizo Software
Materials Science

  • Support for multi-data/multi-view, multi-channel, time series, very large data
  • Advanced multi-mode 2D/3D automatic registration
  • Artifact reduction algorithms
Thermo Scientific Maps electron microscopy software

Maps Software

  • Acquire high-resolution images over large areas
  • Easily find regions of interest
  • Automate image acquisition process
  • Correlate data from different sources

Velox

  • An experiments panel on the left side of the processing window.
  • Live quantitative mapping
  • Interactive detector layout interface for reproducible experiment control and setup

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