Die kontinuierliche Innovation und Verbesserung von hergestellten Komponenten hängt von der Fähigkeit der Hersteller ab, Produkte schnell und zuverlässig ohne Qualitätseinbußen herzuerstellen. Aufgrund der steigenden Anforderungen an die Sauberkeit sind immer gründlichere Analysen von Teilen erforderlich, um sicherzustellen, dass sie diese hohen Erwartungen erfüllen. Darüber hinaus ist die Oberflächensauberkeit von Komponenten entscheidend für die Adhäsion zusätzlicher Beschichtungen und Behandlungen, die direkt mit der Endqualität des Teils korrelieren. Die Sauberkeit korreliert nachweislich so eng mit der Feld-Ausfallrate, dass der Verband der Automobilindustrie (VDA) und die Internationale Organisation für Normung (ISO) umfassende Normen speziell für die Charakterisierung der Sauberkeit von Automobilkomponenten entwickelt haben.

Insgesamt bedeutet dies, dass die gängigen Methoden für die technische Sauberkeit, die nur begrenzte analytische Details bieten, unnötig restriktiv sein können. Dies führt zwangsläufig zu einer erhöhten Diagnosezeit, da die Hersteller versuchen, den Ursprung der Kontamination mittels unvollständiger Informationen zu finden, was die Kosten für die Herstellung des Teils erhöht. Die Rasterelektronenmikroskopie/energiedispersive Röntgenspektroskopie (REM/EDS) liefert derweil die chemische Zusammensetzung einzelner Partikel. Dies erlaubt dem Hersteller die Festlegung verschiedener Sauberkeitsgrenzwerte für Partikel, die für das Bauteil am schädlichsten sind, während die Grenzwerte für unkritische Partikel gelockert werden können. 

Thermo Fisher Scientific bietet eine Reihe von Geräten und Software, die nicht nur Ihre Sauberkeitsanalyse vereinfacht, sondern auch Ihre Produktionszeit erheblich verkürzt, da Sie den Qualitätskontrollprozess intern durchführen können. Da Sie für Ihre QK-Analyse nicht mehr von extern durchgeführten Analysen abhängen, kann sich die Produktionszykluszeit bis auf das Zehnfache erhöhen und Ihnen die Sicherheit geben, Ihre wertvollen und vertraulichen Daten zu kontrollieren.


Ressourcen

 

Publikationsliste
 

  Fallstudie: Automotive Part Cleanliness

Proben


Batterieforschung

Die Entwicklung von Batterien wird durch die Multiskalen-Analyse mit Mikro-CT, REM und TEM, Raman-Spektroskopie, XPS und digitaler 3D-Visualisierung und 3D-Analyse ermöglicht. Erfahren Sie, wie dieser Ansatz die strukturellen und chemischen Informationen liefert, die für den Bau besserer Batterien benötigt werden.

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Polymerforschung

Die Mikrostruktur von Polymeren bestimmt die Eigenschaften und die Leistungsfähigkeit des Materials. Die Elektronenmikroskopie ermöglicht eine umfassende Analyse der Morphologie und Zusammensetzung von Polymeren im Mikroskalenbereich für Anwendungen in der F+E und Qualitätskontrolle.

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Metallforschung

Die effektive Produktion von Metallen erfordert eine präzise Kontrolle von Einschlüssen und Ausscheidungen. Unsere automatisierten Geräte können eine Vielzahl von Aufgaben ausführen, die für die Metallanalyse wichtig sind, einschließlich der Zählung von Nanopartikeln, der chemischen Analyse mittels EDS und der Vorbereitung von TEM-Proben.

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Materialprüfung für die Automobilindustrie

Jedes Bauteil in einem modernen Fahrzeug ist auf Sicherheit, Effizienz und Leistung ausgelegt. Die detaillierte Charakterisierung von Materialien für Automobile mittels Elektronenmikroskopie und Spektroskopie liefert Informationen für wichtige Prozessentscheidungen, Produktverbesserungen und neue Materialien.

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2D-Materialien

Die Forschung an neuartigen Materialien interessiert sich zunehmend für die Struktur von niederdimensionalen Materialien. Die Rastertransmissionselektronenmikroskopie mit Sondenkorrektur und Monochromatisierung ermöglicht eine hochauflösende zweidimensionale Materialbildgebung.

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Style Sheet for Komodo Tabs

Verfahren

Energiedispersive Röntgenspektroskopie

Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) sammelt detaillierte Elementinformationen zusammen mit elektronenmikroskopischen Aufnahmen und liefert einen entscheidenden Kontext zur chemischen Zusammensetzung für EM-Beobachtungen. Mittels der EDS kann die chemische Zusammensetzung aus schnellen, ganzheitlichen Oberflächenscans bis hin zu einzelnen Atomen bestimmt werden.

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EDS-Elementanalyse

Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.

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Partikelanalyse

Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.

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Energiedispersive Röntgenspektroskopie

Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) sammelt detaillierte Elementinformationen zusammen mit elektronenmikroskopischen Aufnahmen und liefert einen entscheidenden Kontext zur chemischen Zusammensetzung für EM-Beobachtungen. Mittels der EDS kann die chemische Zusammensetzung aus schnellen, ganzheitlichen Oberflächenscans bis hin zu einzelnen Atomen bestimmt werden.

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EDS-Elementanalyse

Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.

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Partikelanalyse

Die Partikelanalyse spielt eine entscheidende Rolle bei der Erforschung und Qualitätskontrolle von Nanomaterialien. Die Auflösung im Nanometerbereich und die hervorragende Bildgebung der Elektronenmikroskopie können mit spezieller Software zur schnellen Charakterisierung von Pulvern und Partikeln kombiniert werden.

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Produkte

Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten

Phenom XL G2 Desktop-REM

  • Für große Proben (100 x 100 mm) und ideal für die Automatisierung
  • Auflösung < 10 nm und bis zu 200.000-fache Vergrößerung; Beschleunigungsspannung von 4,8 bis zu 20 kV
  • Optional vollständig integrierter EDS- und BSE-Detektor

Phenom ParticleX TC Desktop-REM

  • Vielseitiges Desktop-REM mit Automatisierungssoftware für technische Sauberkeit
  • Auflösung < 10 nm; Vergrößerung bis zu 200.000-fach
  • Optionaler SE-Detektor

ParticleMetric

  • In ProSuite integrierte Software für Online- und Offline-Analysen
  • Korrelieren von Partikelmerkmalen wie Durchmesser, Kreisförmigkeit, Seitenverhältnis und Konvexität
  • Erstellen von Bilddatensätzen mit Automated Image Mapping

Stylesheet zum Ändern des H2-Stils zu p mit em-h2-Header-Klasse

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