Search
c7c8 – Haupt/Spezifikationen/Ressourcen/Anwendungen/Verfahren/Dokumente/Kontakt
Materials characterization
Advanced materials characterization labs require access to the latest techniques and will push analytical tools, including SEMs, to the extremes of their capabilities. Most of these labs are multi-user facilities that accommodate users with varying degrees of experience. Time on the microscope is precious, and excessive time spent on maintenance, alignments, training, or image optimization needs to be avoided.
Apreo 2 Scanning Electron Microscope
The new Thermo Scientific Apreo 2 SEM expands access to high-performance imaging and analytics to all levels of microscopy expertise. With Thermo Scientific ChemiSEM Technology, a unique live elemental imaging capability, compositional information is always available, through the most intuitive interface. Eliminating all the hassle associated with typical EDS implementations, ChemiSEM Technology offers unprecedented time to result and ease of use.
The Apreo 2 SEM poses much smaller demands on users and lab managers with Thermo Scientific SmartAlign Technology, an optics system that aligns itself. Furthermore, the Apreo 2 SEM automates the image fine-tuning process with Thermo Scientific FLASH technology. FLASH Technology executes any necessary corrections to lens centering, the stigmators, and final focus of the image. The combination of these technologies means that users new to electron microscopy can access the high-end performance of the Apreo 2 SEM. Additionally, the Apreo 2 SEM is the only SEM with a 1-nanometer resolution at 10 mm analytical working distance. No longer does long working distance mean poor imaging. With the Apreo 2 SEM, anyone will be able to confidently get great results.
Apreo 2 SEM video teaser
High performance, resolution, and contrast
The combination of advanced optics, detection and automation in Apreo 2 makes obtaining high resolution imaging possible even for users new to SEM.
Wide range of sample types
Apreo 2 was designed for maximum flexibility. High quality, high resolution imaging is possible regardless of target samples properties. Insulators, beam sensitive or magnetic materials can all be imaged with ease thanks to Apreo 2's unique optics, detection and beam control options.
Click image to enlarge
Live quantitative EDS with ChemiSEM
Elemental information at your fingertips with ChemiSEM, which provides live quantitative elemental mapping for unprecedented time to result and ease of use.
Quick and easy sample loading
Easy access to the stage, a convenient multi-sample holder, and a fast pump down ensures no time is wasted loading samples. An automated routine to insert and remove a pressure limiting aperture (PLA) allows for a seamless switch between high and low vacuum without opening the chamber.
Advanced automation
From optics, to image acquisition, Apreo 2 provides a range of automated features to make imaging time as effective and efficient as possible. Flash Technology automates image fine tuning The unique Undo function permits efficient exploration of imaging conditions Thermo Scientific Maps software automates large area acquisition with up to 4 different simultaneous signals
Performance at long working distance
Apreo 2 is the only SEM that offers high-resolution performance (1nm) and excellent image quality at analytical working distance (10mm). Sample morphology, topography and surface information can all be simultaneously explored while being at a safe distance from the pole piece. Thanks to its high-speed and high-sensitivity in-lens backscattered detector, BSE are still detected even at extremely low beam currents (as low as few pA).
Formatvorlage für Produkttabellen-Spezifikationen
Apreo 2 S | Apreo 2 C | |
Resolution |
|
|
Standard detectors |
|
|
PivotBeam |
|
|
Optional detectors |
| |
ChemiSEM Technology (optional) |
| |
Landing energy range |
| |
Stage bias (beam deceleration) |
| |
Low vacuum mode |
| |
Stage |
| |
Maximum beam current |
| |
Standard sample holder |
| |
Chamber |
| |
Style Sheet to change H2 style to p with em-h2-header class
Style Sheet for Komodo Tabs
Long working distance imaging on palladium nanoparticles on cerium oxide matrix.
Easy nanoparticles imaging at 10 mm working distance.
Highlight contrast that would otherwise go unnoticed
High material contrast and easy platinum nanoparticles imaging at 10 mm working.
This video demonstrates how Apreo's Trinity detection system quickly answers all our questions about a sample.
On-demand webinar: Introduction to Apreo 2 - Unmatched versatility powered by ChemiSEM Technology
This is an introduction on-demand webinar to be followed by a more extensive overview of the Apreo 2 SEM, its features, functionalities, ChemiSEM technology, and a demonstration of the Apreo 2 in action. Attend this on-demand webinar to:
- Learn about the latest in analytical UHR-SEM from Thermo Fisher Scientific.
- Get introduced to the Apreo 2 SEM.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Ag particles on silica
Palladium nanoparticles imaged with ChemiSEM. Frame time: 30 seconds.
Lithium ion cathode precursor
A silver-copper mix imaged on Apreo 2 with ChemiSEM technology in less than a minute and a half.
Au/Pd nanoparticle on TiO2 support. Within a 1-minute frame time, ChemiSEM technology maps the composition, even on nanoparticle feature sizes.
Blend of polystyrene and polyacrylic acid polymers
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 1kV.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 2kV, Mix detector.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 5kV, LVD detector.
Semiconductor bond wire in mod compound taken on Apreo at 1kV.
Aluminum Tin alloy after heating
Ceramic heating stage imaged with ChemiSEM Technology
Dental amalgam imaged with ChemiSEM Technology. The dental amalgam is a filler rich in mercury and a metal alloy mixture of silver, tin and copper.
Diatoms
Gold nanocubes
Gold palladium particle on titania
Iron Oxide
Mushroom Spores
Nanoporous gold
Pollen
Polymer battery separator
Rene N5 superalloy for turbine blades. Cross section of a thermally cycled part showing the presence of oxide intrusions from the surface
Silicon graphite battery anode imaged with ChemiSEM Technology. The image shows the distribution of the silicon and carbon in the area of interest and highlight the presence of a nickel-rich contaminant.
ChemiSEM image of a cross section of an electrode active material showing the presence of zirconium-rich impurities and the distribution of the fluorine-rich binder.
Calcium carbonate particles (rod-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 1 keV
Calcium carbonate particles (spindle-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 500 V using beam deceleration
Bright field (BF) STEM image of bamboo-like carbon nanotubes with iron nanoparticles
Bright field (BF) and high angle annular dark field (HAADF) STEM images of MikNo zinc oxide platelets
MicNo® ZnO platelets (Entekno Materials) made of zinc oxide nanoparticles. Images have been taken with an acceleration voltage of 1 keV
Long working distance imaging on palladium nanoparticles on cerium oxide matrix.
Easy nanoparticles imaging at 10 mm working distance.
Highlight contrast that would otherwise go unnoticed
High material contrast and easy platinum nanoparticles imaging at 10 mm working.
This video demonstrates how Apreo's Trinity detection system quickly answers all our questions about a sample.
On-demand webinar: Introduction to Apreo 2 - Unmatched versatility powered by ChemiSEM Technology
This is an introduction on-demand webinar to be followed by a more extensive overview of the Apreo 2 SEM, its features, functionalities, ChemiSEM technology, and a demonstration of the Apreo 2 in action. Attend this on-demand webinar to:
- Learn about the latest in analytical UHR-SEM from Thermo Fisher Scientific.
- Get introduced to the Apreo 2 SEM.
Webinar: Scanning electron microscopy: selecting the right technology for your needs
This on-demand webinar has been designed to help you decide which SEM best meets your unique needs. We present an overview of Thermo Fisher Scientific SEM technology for multi-user research labs and focus on how these wide-ranging solutions deliver performance, versatility, in situ dynamics and faster time to results. Watch this webinar if you are interested in:
- How the needs for different microanalysis modalities are met (EDX, EBSD, WDS, CL, etc.).
- How samples are characterized in their natural state without the need for sample preparation.
- How new advanced automation allows researchers to save time and increase productivity.
Ag particles on silica
Palladium nanoparticles imaged with ChemiSEM. Frame time: 30 seconds.
Lithium ion cathode precursor
A silver-copper mix imaged on Apreo 2 with ChemiSEM technology in less than a minute and a half.
Au/Pd nanoparticle on TiO2 support. Within a 1-minute frame time, ChemiSEM technology maps the composition, even on nanoparticle feature sizes.
Blend of polystyrene and polyacrylic acid polymers
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 1kV.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 2kV, Mix detector.
Semiconductor bond wire taken on Apreo at 5kV, LVD detector.
Semiconductor bond wire in mod compound taken on Apreo at 1kV.
Aluminum Tin alloy after heating
Ceramic heating stage imaged with ChemiSEM Technology
Dental amalgam imaged with ChemiSEM Technology. The dental amalgam is a filler rich in mercury and a metal alloy mixture of silver, tin and copper.
Diatoms
Gold nanocubes
Gold palladium particle on titania
Iron Oxide
Mushroom Spores
Nanoporous gold
Pollen
Polymer battery separator
Rene N5 superalloy for turbine blades. Cross section of a thermally cycled part showing the presence of oxide intrusions from the surface
Silicon graphite battery anode imaged with ChemiSEM Technology. The image shows the distribution of the silicon and carbon in the area of interest and highlight the presence of a nickel-rich contaminant.
ChemiSEM image of a cross section of an electrode active material showing the presence of zirconium-rich impurities and the distribution of the fluorine-rich binder.
Calcium carbonate particles (rod-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 1 keV
Calcium carbonate particles (spindle-like polymorph) imaged with an acceleration voltage of 500 V using beam deceleration
Bright field (BF) STEM image of bamboo-like carbon nanotubes with iron nanoparticles
Bright field (BF) and high angle annular dark field (HAADF) STEM images of MikNo zinc oxide platelets
MicNo® ZnO platelets (Entekno Materials) made of zinc oxide nanoparticles. Images have been taken with an acceleration voltage of 1 keV
Grundlagenforschung in der Materialforschung
Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.
Qualitätskontrolle und Fehleranalyse
Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.
Pathfinding und Entwicklung von Halbleitern
Fortschrittliche Elektronenmikroskopie, fokussierter Ionenstrahl und zugehörige Analyseverfahren zur Identifizierung umsetzbarer Lösungen und Designmethoden für die Herstellung von leistungsstarken Halbleiterbauelementen.
Ausbeutesteigerung und Metrologie
Wir bieten fortschrittliche Analysemöglichkeiten für die Fehleranalyse, Metrologie und Prozesskontrolle, die die Produktivität erhöhen und die Ausbeute bei zahlreichen Halbleiteranwendungen und Halbleiterbauelementen verbessern.
Fehleranalyse von Halbleitern
Durch immer komplexere Strukturen von Halbleiterbauelementen können sich an mehr Stellen folgenschwere Mängel verbergen. Mit unseren Arbeitsabläufen der nächsten Generation können Sie auch kleinste Probleme in der Elektrik lokalisieren und charakterisieren, die sich auf die Ausbeute, Leistung und Zuverlässigkeit auswirken.
Physikalische und chemische Charakterisierung
Die kontinuierliche Nachfrage der Verbraucher treibt die Entwicklung kleinerer, schnellerer und kostengünstigerer elektronischer Geräte voran. Ihre Fertigung basiert auf hoch produktiven Geräten und Arbeitsabläufen, die eine breite Palette von Halbleiterbauelementen und Anzeigegeräten abbilden, analysieren und charakterisieren.
Fehleranalyse von Anzeigemodulen
Die Entwicklung von Anzeigetechnologien zielt darauf ab, die Anzeigequalität und die Effizienz der Lichtkonvertierung zu verbessern, um Anwendungen in verschiedenen Branchen zu unterstützen und gleichzeitig die Produktionskosten weiter zu senken. Unsere Lösungen für Prozessmesstechnik, Fehleranalyse und Forschung und Entwicklung helfen Unternehmen, die sich mit Anzeigen beschäftigen, diese Herausforderungen zu meistern.
ColorSEM
Unter Verwendung der Live-EDS (energiedispersive Röntgenspektroskopie) mit Live-Quantifizierung verwandelt die ColorSEM Technologie die REM-Bildgebung in eine Farbtechnik. Jeder Anwender kann nun kontinuierlich Elementdaten erfassen, um umfassendere Informationen als je zuvor zu erhalten.
Energiedispersive Röntgenspektroskopie
Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) sammelt detaillierte Elementinformationen zusammen mit elektronenmikroskopischen Aufnahmen und liefert einen entscheidenden Kontext zur chemischen Zusammensetzung für EM-Beobachtungen. Mittels der EDS kann die chemische Zusammensetzung aus schnellen, ganzheitlichen Oberflächenscans bis hin zu einzelnen Atomen bestimmt werden.
Bildgebung von heißen Proben
Das Studium von Materialien unter realen Bedingungen erfordert häufig ein Arbeiten bei hohen Temperaturen. Das Verhalten von Materialien beim Rekristallisieren, Schmelzen, Verformen oder Reagieren in Gegenwart von Wärme kann in situ mit Rasterelektronenmikroskopie oder DualBeam-Geräten untersucht werden.
Kathodolumineszenz
Kathodolumineszenz (Cathodoluminescence, CL) beschreibt die Emission von Licht aus einem Material, wenn es von einem Elektronenstrahl angeregt wird. Dieses Signal, das von einem speziellen CL-Detektor erfasst wird, enthält Informationen über die Zusammensetzung der Probe, Kristalldefekte oder photonische Eigenschaften.
Mehrskalenanalyse
Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.
Bildgebung und Analyse von Halbleitern
Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.
ColorSEM
Unter Verwendung der Live-EDS (energiedispersive Röntgenspektroskopie) mit Live-Quantifizierung verwandelt die ColorSEM Technologie die REM-Bildgebung in eine Farbtechnik. Jeder Anwender kann nun kontinuierlich Elementdaten erfassen, um umfassendere Informationen als je zuvor zu erhalten.
Energiedispersive Röntgenspektroskopie
Die energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDS) sammelt detaillierte Elementinformationen zusammen mit elektronenmikroskopischen Aufnahmen und liefert einen entscheidenden Kontext zur chemischen Zusammensetzung für EM-Beobachtungen. Mittels der EDS kann die chemische Zusammensetzung aus schnellen, ganzheitlichen Oberflächenscans bis hin zu einzelnen Atomen bestimmt werden.
Bildgebung von heißen Proben
Das Studium von Materialien unter realen Bedingungen erfordert häufig ein Arbeiten bei hohen Temperaturen. Das Verhalten von Materialien beim Rekristallisieren, Schmelzen, Verformen oder Reagieren in Gegenwart von Wärme kann in situ mit Rasterelektronenmikroskopie oder DualBeam-Geräten untersucht werden.
Kathodolumineszenz
Kathodolumineszenz (Cathodoluminescence, CL) beschreibt die Emission von Licht aus einem Material, wenn es von einem Elektronenstrahl angeregt wird. Dieses Signal, das von einem speziellen CL-Detektor erfasst wird, enthält Informationen über die Zusammensetzung der Probe, Kristalldefekte oder photonische Eigenschaften.
Mehrskalenanalyse
Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.
Bildgebung und Analyse von Halbleitern
Thermo Fisher Scientific bietet Rasterelektronenmikroskope für jede Funktion eines Halbleiterlabors, von allgemeinen Bildgebungsaufgaben bis hin zu fortschrittlichen Fehleranalyseverfahren, die präzise Spannungskontrastmessungen erfordern.
Electron microscopy services
To ensure optimal system performance, we provide you access to a world-class network of field service experts, technical support, and certified spare parts.
Electron microscopy support and resources
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards