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Cathodoluminescence

Cathodoluminescence (CL) is the process by which a material emits characteristic photons of visible light when struck by electrons (such as those produced by the source in an electron microscope). Researchers in geology, optoelectronics, failure analysis, ceramics, glass and many other fields use CL detection as a unique way to highlight sample properties that are not visible with conventional electron or X-ray imaging techniques. By correlating CL data to topography, crystallography and elemental information, a better understanding of photonic properties, composition, material quality or sample history can be obtained.

CL detector

A range of third-party CL accessories exists for the Thermo Scientific SEM and DualBeam product lines. These are usually specialized in spectral CL detection, i.e. the collection of a full spectrum for each pixel of the image (also called hyperspectral imaging). While this provides a great deal of information, most CL solutions suffer from alignment and ease-of-use issues, limitations in working distance and field of view, and/or cannot perform simultaneous detection of X-ray/backscattered electron signal.

The Thermo Scientific RGB Cathodoluminescence Detector offers real-color CL imaging, without any of the beforementioned limitations, integrated into the instrument user interface. It features a flat design that slides between the sample and the final lens, much like a retractable backscatter detector. Unlike conventional mirror-based solutions, the large detector area eliminates the need for any optical alignment and does not limit the field of view. Additionally, simultaneous detection of secondary electrons (SE), backscatter electrons (BSE) or X-rays is possible, enabling correlation of CL data with SE, BSE and energy-dispersive x-ray spectroscopy (EDS) in only a single scan of the electron beam.

Integrated into the user interface of the microscope, the RGB Cathodoluminescence Detector makes color images available as soon as the beam is scanning. This makes the detector a unique asset to multi-user labs requiring CL data and correlation with worry-free operation.

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Resources

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Applications

Qualitätskontrolle und Fehleranalyse mittels Elektronenmikroskopie

Qualitätskontrolle und Fehleranalyse

Qualitätskontrolle und Qualitätssicherung sind in der modernen Industrie von entscheidender Bedeutung. Wir bieten eine Reihe von EM- und Spektroskopiegeräten für die mehrskalige und multimodale Analyse von Mängeln, mit denen Sie zuverlässige und fundierte Entscheidungen für die Kontrolle und Verbesserung von Prozessen treffen können.

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Grundlagenforschung in der Materialforschung

Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.

 


Samples


Geologische Forschung

Die Geowissenschaften beruhen auf einer konsistenten und präzisen, mehrskaligen Beobachtung von Merkmalen in Gesteinsproben. Die REM-EDS ermöglicht in Kombination mit Automatisierungssoftware eine direkte, umfangreiche Analyse der Textur und Mineralzusammensetzung für die petrologische und mineralogische Forschung.

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Öl und Gas

Da die Nachfrage nach Öl und Gas anhält, besteht ein ständiger Bedarf an einer effizienten und effektiven Gewinnung von Kohlenwasserstoffen. Thermo Fisher Scientific bietet eine Reihe von Mikroskopie- und Spektroskopielösungen für eine Vielzahl von Anwendungen in der Petrochemie an.

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Materialprüfung für die Automobilindustrie

Jedes Bauteil in einem modernen Fahrzeug ist auf Sicherheit, Effizienz und Leistung ausgelegt. Die detaillierte Charakterisierung von Materialien für Automobile mittels Elektronenmikroskopie und Spektroskopie liefert Informationen für wichtige Prozessentscheidungen, Produktverbesserungen und neue Materialien.

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Products

Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten

Helios Hydra DualBeam

  • 4 schnell schaltbare Ionenspezies (Xe, Ar, O, N) für die optimierte PFIB-Verarbeitung unterschiedlichster Materialien
  • Ga-freie TEM-Probenvorbereitung
  • REM-Bildaufnahme mit extrem hoher Auflösung

Helios 5 DualBeam

  • Vollautomatische, hochwertige, ultradünne TEM-Probenvorbereitung
  • Hohe Durchsatzleistung, hochauflösende Untergrund- und 3D-Charakterisierung
  • Schnelle Nanoprototyping-Funktionen

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Galliumfreie STEM- und TEM-Probenvorbereitung
  • Multimodale Untergrund- und 3D-Informationen
  • 2,5-μA-Xenonplasma-FIB-Säule der nächsten Generation

SCIOS 2 DualBeam

  • Umfassende Unterstützung von magnetischen und nicht leitenden Proben
  • Untergrund- und 3D-Charakterisierung im Hochdurchsatz
  • Erweiterte Anwenderfreundlichkeit und Automatisierungsfunktionen

Axia ChemiSEM

  • Quantitative Elementkartierung in Echtzeit
  • Rasterelektronenmikroskopische Bildgebung mit hoher Wiedergabetreue
  • Flexibel und einfach anzuwenden, auch für Anfänger
  • Wartungsfreundlich

Apreo 2 REM

  • Hochleistungs-REM für eine Allround-Auflösung im Nanometer- oder Subnanometer-Bereich
  • T1-Rückstreudetektor in der Säule für empfindlichen Materialkontrast mit TV-Rate
  • Hervorragende Leistung bei langen Arbeitsabständen (10 mm)

Prisma E REM

  • Einstiegs-REM mit ausgezeichneter Bildqualität
  • Einfache und schnelle Probenladung und Navigation für mehrere Proben
  • Dank speziell dafür vorgesehener Vakuummodi mit einer Vielzahl von Materialien kompatibel

Verios 5 XHR SEM

  • Monochromatisierte REM-Technologie für eine Auflösung im Subnanometerbereich über den gesamten Energiebereich von 1 bis 30 keV
  • Einfacher Zugang zu Kathodenstrahlenergien von nur 20 eV
  • Ausgezeichnete Stabilität mit Piezo-Tisch als Standard

Quattro ESEM

  • Extrem vielseitiges, hochauflösendes FEG-REM mit einzigartiger Umweltfreundlichkeit (ESEM)
  • Alle Informationen aus allen Proben bei gleichzeitiger SE- und BSE-Bildgebung in jeder Betriebsart beobachten

Maps Software

  • Erfassung hochaufgelöster Bilder über große Bereiche hinweg
  • Einfache Suche der gewünschten Regionen
  • Automatisierung des Bilderfassungsprozesses
  • Korrelierung von Daten aus verschiedenen Quellen

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