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SEM mineral identification

Few disciplines rely as heavily on consistent, multi-scale observation and interpretation of features as the earth sciences. Everything from deep earth flow processes to more efficient methods of resource extraction are dependent on accurate sample characterization.

Thermo Fisher Scientific has built a family of imaging platforms and software solutions to facilitate data collection, visualization and analysis during complicated multi-modal, multi-scale characterization routines.

 

Petrology and mineralogy

Accurate textural analysis and the associated distribution of minerals within the rock texture are key to accurately describing the physical and chemical aspects of a rock system. Automated determination of mineralogy, based on scanning electron microscopy coupled with energy-dispersive X-ray spectroscopy (SEM-EDS), has established itself as a popular method for acquiring high-resolution images and chemical maps in the mining and mineral processing industries. Thermo Fisher Scientific has a 30-year history of delivering market-leading SEM-EDS technology. Here are just a few of the advantages afforded by our petrology and mineralogy solutions;

  • Expand the number of samples that can be processed with routine petrologic and mineralogic analysis
  • Build a strong statistical repository of mineral content based on automated analysis
  • Automatically obtain accurate mineralogical identification
  • Create a digital inventory of your thin sections and associated mineral assemblages
  • Combine EDS elemental analysis, mineralogy and high-resolution imagery for advanced sample interpretation
  • Analyze more samples for more robust statistics
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Multi-scale analysis with geoscience software

While context is vital for textural analysis, it is especially important for geological or structural interpretation. Electron imaging captures a large number of modalities in a single acquisition, allowing for direct interpretation of composition and texture. However, simply observing a single frame, or even a series of images, out of context reduces the power of this analysis.

We provide a suite of automation software developed with the express purpose of preserving context. Thermo Scientific Maps Software is the cross-platform automation engine for our full line of electron microscopy imaging platforms. Maps Software takes the pain out of acquiring larger image mosaics within an easy to use and intuitive software environment.

  • Preserve context with large, automatically acquired, high-resolution datasets
  • Utilize system time efficiently
  • Share observations with context for more collaborative data interpretation

Resources

Applications

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Grundlagenforschung in der Materialforschung

Neuartige Materialien werden in immer kleineren Dimensionen untersucht, um ihre physikalischen und chemischen Eigenschaften bestmöglich zu kontrollieren. Die Elektronenmikroskopie gibt Forschern wichtige Einblicke in eine Vielzahl von Materialeigenschaften auf der Mikro- bis Nanoebene.

 


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Techniques

3D-Materialcharakterisierung

Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.

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EDS-Elementanalyse

Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.

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3D-EDS-Tomographie

Die moderne Materialforschung ist zunehmend auf die Nanoanalyse in drei Dimensionen angewiesen. Die 3D-Charakterisierung, einschließlich Zusammensetzungsdaten für den vollständigen chemischen und strukturellen Kontext, ist mit 3D-EM und energiedispersiver Röntgenspektroskopie möglich.

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Querschnitte

Querschnitte bieten zusätzliche Einblicke, indem sie Informationen über tieferliegende Bereiche aufdecken. DualBeam-Geräte verfügen über hervorragende FIB-Säulen für hochwertige Querschnitte. Mit der Automatisierung ist eine unbeaufsichtigte Hochdurchsatzverarbeitung von Proben möglich.

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Mehrskalenanalyse

Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.

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3D-Materialcharakterisierung

Die Entwicklung von Materialien erfordert oft eine 3D-Multiskalen-Charakterisierung. DualBeam-Geräte ermöglichen das serielle Schneiden großer Volumina und die anschließende REM-Bildgebung im Nanometerbereich, die zu hochwertigen 3D-Rekonstruktionen der Probe verarbeitet werden kann.

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EDS-Elementanalyse

Die EDS liefert entscheidende Informationen zur Zusammensetzung, die für Beobachtungen in der Elektronenmikroskopie wichtig sind. Insbesondere unsere einzigartigen Super-X und Dual-X Detektorsysteme bieten Optionen für einen verbesserten Durchsatz und/oder eine höhere Empfindlichkeit, sodass Sie die Datenerfassung entsprechend Ihrer Forschungsschwerpunkte optimieren können.

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3D-EDS-Tomographie

Die moderne Materialforschung ist zunehmend auf die Nanoanalyse in drei Dimensionen angewiesen. Die 3D-Charakterisierung, einschließlich Zusammensetzungsdaten für den vollständigen chemischen und strukturellen Kontext, ist mit 3D-EM und energiedispersiver Röntgenspektroskopie möglich.

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Querschnitte

Querschnitte bieten zusätzliche Einblicke, indem sie Informationen über tieferliegende Bereiche aufdecken. DualBeam-Geräte verfügen über hervorragende FIB-Säulen für hochwertige Querschnitte. Mit der Automatisierung ist eine unbeaufsichtigte Hochdurchsatzverarbeitung von Proben möglich.

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Mehrskalenanalyse

Neuartige Materialien müssen mit immer höherer Auflösung analysiert werden, wobei der größere Kontext der Probe erhalten bleiben muss. Die Mehrskalenanalyse ermöglicht die Korrelation verschiedener Geräte und Modalitäten zur Bildgebung wie Röntgen-Mikro-CT, DualBeam, Laser-PFIB, REM und TEM.

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Products

Formatvorlage für das Original der Instrumentenkarten

Talos F200i TEM

  • Hochwertige R/TEM-Bilder und präzise EDS
  • Erhältlich mit Dual-EDS-Technologie
  • Beste Allround-in-situ-Funktionen
  • Bildgebung mit großem Sichtfeld bei hoher Geschwindigkeit

Talos F200S TEM

  • Präzise Daten zur chemischen Zusammensetzung
  • Leistungsstarke Bildgebung und präzise Kompositionsanalyse für die dynamische Mikroskopie
  • Mit Velox Software für die schnelle und einfache Erfassung und Analyse multimodaler Daten

Talos F200X TEM

  • Hohe(r) Auflösung/Durchsatz bei der STEM-Bildaufnahme und chemischen Analyse
  • Mit In-situ-Probenhaltern für dynamische Experimente
  • Mit Velox Software für die schnelle und einfache Erfassung und Analyse multimodaler Daten

Talos F200C TEM

  • Die flexible EDS-Analyse offenbart chemische Informationen
  • Kontrastreiche, hochwertige TEM- und STEM-Bildgebung
  • Die Ceta 16-Megapixel-CMOS-Kamera bietet ein großes Sichtfeld und eine hohe Auslesegeschwindigkeit

Helios 5 DualBeam

  • Vollautomatische, hochwertige, ultradünne TEM-Probenvorbereitung
  • Hohe Durchsatzleistung, hochauflösende Untergrund- und 3D-Charakterisierung
  • Schnelle Nanoprototyping-Funktionen

Helios 5 PFIB DualBeam

  • Galliumfreie STEM- und TEM-Probenvorbereitung
  • Multimodale Untergrund- und 3D-Informationen
  • 2,5-μA-Xenonplasma-FIB-Säule der nächsten Generation

SCIOS 2 DualBeam

  • Umfassende Unterstützung von magnetischen und nicht leitenden Proben
  • Untergrund- und 3D-Charakterisierung im Hochdurchsatz
  • Erweiterte Anwenderfreundlichkeit und Automatisierungsfunktionen

Nexsa G2 XPS

  • Mikrofokus-Röntgenquellen
  • Einzigartige Optionen mit mehreren Verfahren
  • Dual-Mode-Ionenquelle für monoatomare und Cluster-Ionentiefenprofilierung

K-Alpha XPS

  • Hochauflösende XPS
  • Schneller, effizienter, automatisierter Arbeitsablauf
  • Ionenquelle für Tiefenprofilierung

ESCALAB Xi+ XPS

  • Hohe spektrale Auflösung
  • Oberflächenanalyse mit mehreren Verfahren
  • Umfangreiche Probenvorbereitungs- und Erweiterungsoptionen

Maps Software

  • Erfassung hochaufgelöster Bilder über große Bereiche hinweg
  • Einfache Suche der gewünschten Regionen
  • Automatisierung des Bilderfassungsprozesses
  • Korrelierung von Daten aus verschiedenen Quellen

Athene Software
Verwaltung von Bildgebungsdaten

  • Gewährleistung der Rückverfolgbarkeit von Bildern, Daten, Metadaten und experimentellen Arbeitsabläufen
  • Vereinfachung Ihres Bildgebungsablaufs
  • Verbesserung der Zusammenarbeit
  • Sicherstellung und Verwaltung des Datenzugriffs

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