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Innovative materials play essential roles in safety, clean energy, transportation, human health, and industrial productivity. To fuel continued innovation, researchers want to deepen their understanding of the physical and chemical properties of materials (morphological, structural, magnetic, thermal, and mechanical) from the macro- to nanoscale. Whether discovering new materials, solving analytical problems, improving processes, or assuring product quality, electron microscopy is capable of providing insight at all scales and modalities. The discoveries resulting from materials science research help enhance researchers’ ability to successfully correlate structural properties with functional performance. In turn, this insight helps commercial enterprises innovate products and processes to gain important time-to-market and cost advantages.
Analytical solutions, including electron microscopy and spectroscopy, from Thermo Fisher Scientific can help you address your most pressing challenges, including;
Defect analysis of a lithium ion battery cathode. Serial sectioning and imaging with Plasma FIB DualBeam followed by digital 3D reconstruction using Avizo software provides a highly detailed model of the sample.

Scanning electron microscopy (SEM) is a powerful imaging technique that uses focused beams of electrons to produce high-resolution, three-dimensional images of sample surfaces at the nanoscale. This method is essential for researchers seeking detailed topographical, compositional, and morphological insights into a wide range of materials.
The product selector is here to assist you in choosing the most suitable Scanning Electron Microscope (SEM) system and software for your research. Find out in a few minutes which SEM best suits your research application:
Access a targeted collection of application notes, case studies, videos, webinars, and white papers covering a range of applications.

Proper sample preparation is a critical step in the scientific experiment process—a step that can determine the ultimate quality and accuracy of the results. FIB-SEM instruments can be used to facilitate fully automated in situ TEM sample preparation, enabling new chemistries and technologies while advancing research in batteries, polymers, metals, and more.
오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.
품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.
새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.
그 어느 때보다 오늘날의 제조업계는 신뢰할 수 있는 고품질 부품을 필요로 합니다. 주사전자현미경을 이용해, 내부에서 광범위한 분석 데이터를 제공하고 생산 주기를 단축시킬 수 있는 부품 청결도 분석을 수행할 수 있습니다.

(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.

3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.

나노단위 프로토타이핑
기술이 지속적으로 소형화되어 감에 따라, 나노단위 장치 및 구조에 대한 수요는 계속 증가하고 있습니다. DualBeam 기기에 의한 3D 나노 프로토타입 제작은 마이크로 및 나노 규모 기능 프로토타입을 신속하게 설계, 제작 및 검사할 수 있도록 도와줍니다.
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3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
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EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
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HRSTEM 및 HRTEM을 사용한 이미지 생성
투과 전자 현미경법은 나노 입자 및 나노 물질의 구조적 특성을 분석하는 데 있어 매우 중요합니다. 고분해능 STEM과 TEM을 사용하면 화학적 조성에 대한 정보와 함께 원자 분해능 데이터를 사용할 수 있습니다.
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차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.

고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.

광범위한 표면 특성 분석의 요구사항을 충족시키기 위해, Thermo Scientific ESCALAB CXi XPS 마이크로프로브 또는 Thermo Scientific Nexsa 표면 분석 시스템을 이용하여 다중 기법 워크플로우를 구축하였습니다. 이들 기기는 적시에 효율적인 방식으로 포괄적인 분석을 제공하기 위한 다중 기법 워크스테이션으로 설계되었습니다.

X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
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환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.

전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.

APT 시료 준비
원자 프로브 단층촬영(APT)은 물질의 원자 분해능 3D 조성 분석 기능을 제공합니다. 집속 이온 빔(FIB) 현미경법은 APT 특성 분석을 위한 고품질, 방향 설정, 위치-특이적인 시료 준비를 위한 필수 기법입니다.

단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

음극선 발광
음극선 발광(CL)이란 전자 빔에 의해 자극될 때 물질에서 발생하는 빛의 방출을 가리킵니다. 특수 CL 검출기로 캡처되는 이 신호는 시료의 구성, 결정 결함 또는 광 특성에 대한 정보를 담고 있습니다.

멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.

ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.

APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.

(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.

3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.

나노단위 프로토타이핑
기술이 지속적으로 소형화되어 감에 따라, 나노단위 장치 및 구조에 대한 수요는 계속 증가하고 있습니다. DualBeam 기기에 의한 3D 나노 프로토타입 제작은 마이크로 및 나노 규모 기능 프로토타입을 신속하게 설계, 제작 및 검사할 수 있도록 도와줍니다.
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3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
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EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.

EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
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HRSTEM 및 HRTEM을 사용한 이미지 생성
투과 전자 현미경법은 나노 입자 및 나노 물질의 구조적 특성을 분석하는 데 있어 매우 중요합니다. 고분해능 STEM과 TEM을 사용하면 화학적 조성에 대한 정보와 함께 원자 분해능 데이터를 사용할 수 있습니다.
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차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.

고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.

광범위한 표면 특성 분석의 요구사항을 충족시키기 위해, Thermo Scientific ESCALAB CXi XPS 마이크로프로브 또는 Thermo Scientific Nexsa 표면 분석 시스템을 이용하여 다중 기법 워크플로우를 구축하였습니다. 이들 기기는 적시에 효율적인 방식으로 포괄적인 분석을 제공하기 위한 다중 기법 워크스테이션으로 설계되었습니다.

X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
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환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.

전자 에너지 손실 분광법
재료 과학 연구는 다양한 분석 응용 분야에서 고분해능 EELS를 활용합니다. 여기에는 높은 처리량, 높은 신호 대 잡음비 원소 맵핑, 산화 상태 프로빙(probing) 및 표면 포논(phonon)도 포함됩니다.

APT 시료 준비
원자 프로브 단층촬영(APT)은 물질의 원자 분해능 3D 조성 분석 기능을 제공합니다. 집속 이온 빔(FIB) 현미경법은 APT 특성 분석을 위한 고품질, 방향 설정, 위치-특이적인 시료 준비를 위한 필수 기법입니다.

단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.

현장(In Situ) 실험
재결정화, 미립자 성장, 가열, 냉각 및 습윤 과정에서의 위상 변이와 같은 동적 처리의 기본 원리를 이해하는 데 있어서 전자 현미경 검사를 통한 미세 구조 변화에 대한 직접적인 실시간 관찰은 필수적입니다.

입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.

음극선 발광
음극선 발광(CL)이란 전자 빔에 의해 자극될 때 물질에서 발생하는 빛의 방출을 가리킵니다. 특수 CL 검출기로 캡처되는 이 신호는 시료의 구성, 결정 결함 또는 광 특성에 대한 정보를 담고 있습니다.

멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.

SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.

ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.

APW(Automated NanoParticle Workflow)는 나노입자 분석을 위한 투과전자현미경 워크플로우로, 나노 단위에서 대면적, 고분해능 이미징 및 데이터 획득을 즉석으로 처리할 수 있습니다.

배터리 개발은 microCT, SEM 및 TEM, Raman 분광법, XPS 및 디지털 3D 시각화 및 분석을 통한 멀티 스케일(multi-scale) 분석에 의해 이루어질 수 있습니다. 이 접근 방식이 더 나은 배터리를 만드는 데 필요한 구조 및 화학 정보를 제공하는 방법에 대해 알아보십시오.

금속을 효과적으로 생산하려면 함유물 및 침전물에 대한 정밀한 제어가 필요합니다. 당사의 자동화 도구를 사용하여 나노 입자 계수, EDS 화학 물질 분석 및 TEM 시료 준비 등 금속 분석에 필수적인 다양한 작업을 수행할 수 있습니다.

고분자 미세 구조는 물질의 벌크 특성 및 성능과 관련이 있습니다. 전자현미경법은 R&D 및 품질 관리 응용 분야의 고분자 형태학 및 구성에 대한 종합적인 마이크로 단위 분석을 가능케 합니다.

지구과학은 암석 시료 내 특징을 일정하고 정확하게 멀티 스케일(multi-scale)로 관찰합니다. SEM-EDS는 자동화 소프트웨어와 결합하여 암석학 및 광물학 연구를 위한 텍스처 및 광물 구성의 직접적인 대규모 분석을 가능하게 합니다.

오일 및 가스에 대한 수요가 지속됨에 따라, 탄화수소를 효율적이고 효과적으로 추출해야 할 필요성이 계속해서 증가하고 있습니다. Thermo Fisher Scientific은 다양한 석유 과학 응용 분야를 위한 다양한 현미경법 및 분광학 솔루션을 제공합니다.

재료는 큰 규모 단위보다 나노 단위에서 근본적으로 다른 특성을 드러냅니다. 이를 연구하기 위해, S/TEM 기기를 에너지 분산형 X선 분광법과 결합하여 나노미터 미만의 분해능 데이터를 얻을 수 있습니다.

법의학 조사의 일환으로 전자현미경법을 사용하여 범죄 현장의 미세 증거를 분석하고 비교할 수 있습니다. 사용가능한 시료로는 유리 및 페인트 절편, 공구 마크, 약물, 폭발물 및 GSR(총격 잔류물) 등이 있습니다.

촉매는 대부분의 현대적인 산업 공정에 있어 대단히 중요합니다. 그 효율은 촉매 입자의 미세 조성 및 형태학에 따라 달라집니다. EDS와 EM은 이러한 속성 연구에 매우 적합합니다.

합성 섬유의 직경, 형태 및 밀도는 필터의 수명과 기능을 결정하는 데 있어 핵심 파라미터가 됩니다. 주사전자현미경(SEM)은 이러한 기능을 신속하고 용이하게 조사하는 데 있어 이상적인 기술입니다.

새로운 재료의 연구는 저차원 물질의 구조에 점점 더 많은 관심을 기울이고 있습니다. 프로브(probe) 교정 및 단색화법을 이용하는 주사 투과 전자 현미경법으로 고분해능 2차원 물질 이미지 생성을 수행할 수 있습니다.

현대적인 차량의 모든 구성 요소는 안전성, 효율성 및 성능을 고려하여 설계됩니다. 전자현미경법 및 분광법에 의한 자동차 재료의 상세한 특성 분석을 통해 중요한 공정을 결정하고 제품을 개선하며 새로운 재료를 신속하게 식별할 수 있습니다.
최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.



