Celestron™ Flexible Bench Top TLP/VF-TLP Test System

TLP(Transmission Line Pulse) 검사 시스템으로 ESD 스트레스 하에서 기기의 작동 여부를 확인해 보십시오. 이 시스템은 첨단 반도체의 빠르고 정확한 특성 분석을 제공합니다.

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Flexible Bench Top TLP/VF-TLP Test System

유연한 TLP/VF-TLP 검사 시스템으로 ESD 이벤트에 내성을 가진 반도체 제품을 설계하고 개발해 보십시오. Thermo Scientific™ Celestron™ Flexible Bench Top TLP/VF-TLP Test System은 다양한 스트레스 요인 하에서 첨단 반도체 구조의 신뢰성 있는 특성화가 가능합니다. 이 시스템은 웨이퍼 수준 및/또는 패키지 수준에서의 검사를 위해 TLP(Transmission Line Pulse), VF−TLP(Very Fast Transmission Line Pulse), HBM(Human Body Model) ESD, MM(Machine Model) ESD에 맞게 구성할 수 있습니다. 프로브 옵션을 사용하여 스트레스 상태에 있는 핀/패드가 아닌 핀 또는 패드의 신호를 측정할 수도 있습니다.

Celestron 시스템 소프트웨어는 업계에서 가장 종합적인 소프트웨어입니다. 검사 작업 중에 소프트웨어는 기록된 TLP 펄스 전압과 전류 파형, 컴파일된 Pulsed I-V 커브, 누설 전류 측정치, DC I-V 커브 트레이스 데이터를 보여줍니다. 작업자는 검사 전압(응력파)의 범위, 펄스 극성, 누설 및 커브 트레이스 매개변수를 선택할 수 있습니다. 데이터가 수집된 후 TLP 펄스 내에서 측정 구간의 위치와 지속시간도 선택하고 수정할 수 있습니다.

웨이퍼 및 패키지 레벨 TLP 특성화
통합형 WINDOWS™ 기반 시스템 컨트롤러
40A 용량의 TLP 펄스 발생기
표준 TLP - 100ns 펄스 지속시간
VF-TLP – 10ns 펄스 지속시간
선택적 지속시간 사용 가능, 소프트웨어식 및 수동식 모두 선택 가능
선택적 펄스 상승 시간, 소프트웨어식 및 수동식 모두 선택 가능
여러 검사 모드 사용 가능(TDR-O, TDR-S, TDT, TDRT, Hi-Z TDRT)
웨이퍼 레벨 검사를 위한 켈빈(Kelvin) 측정
상세한 DC V/I 측정을 위한 통합형 소스/계측 장치
전원 공급 검사 및 측정을 위한 컴퓨터 제어 바이어스 전원 옵션(최대 5개)
반자동 프로버와 연결 가능
제어와 보고서 생성을 위한 직관적인 첨단 소프트웨어
소형의 탁상용 크기
TLP 및 VF-TLP 검사 모두에 사용할 수 있는 단일 구성

인증/적합성TLP(Transmission Line Pulse): 최신 ESD 협회 표준 규격 문서를 준수하여 설계

치수(길이 x 폭 x 높이)23 x 22 x 24.5 in. (58.5 x 56 x 62.25 cm)

헤르츠50/60 Hz

습도 범위10 - 80%, 비응축

사양 세부 정보옵션:
바이어스 전원, 최대 ±50V 및 2A DUT 검사 고정 보드
반자동 프로버 인터페이스 소프트웨어
맞춤형 하전 라인(펄스폭): 30ns ∼ 200ns
VF-TLP 하전 라인: 1.2 ∼ 10ns
사용자 지정 지연 시간/TDR-S 케이블: 10ns ∼ 200ns
0.2 ∼ 20ns의 가변 펄스폭 및 상승 시간
3개 펄스폭 사이를 전환하는 컴퓨터
3개 상승 시간 사이를 전환하는 컴퓨터
동축 및 솔리드 웨이퍼 프로브 니들
웨이퍼 접촉 저항을 제거하는 캘빈(Kelvin) 프로브
추가 접지 웨이퍼 프로브(TDR 및 TDT 전용)
텅스텐 및 구리로 된 다양한 반경의 웨이퍼 프로브

온도 범위40° ∼ 112°F(5° ∼ 44°C)

중량(영국식 단위)표준 시스템 중량: 85 lbs, 배송 중량: 200 lbs

중량(미터법)표준 시스템 중량: 38.6kg, 배송 중량: 91kg

제품 유형Flexible Bench Top TLP/VF-TLP Test System

Test Voltage RangeUp to 2000 V

전압120/240VAC

Unit SizeEach