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고분자는 우리 일상 생활에서 중요한 역할을 담당하고 있으며, 가정용 제품과 직물부터 운송, 항공, 항공 우주 부품에 이르기까지 전세계를 움직이는 모든 것에 포함되어 있습니다. 이러한 중요한 기능적 제품의 전반적인 성능은 고분자 미세구조에 의해 결정되므로 상응하는 척도에서 이를 연구하고 최적화해야 합니다.
전자 현미경 검사(EM)는 고분자의 특성 분석에 있어 없어서 안 될 역할을 당담하고 있습니다. 신소재의 형태 및 구성, 외부 원소의 식별(생산 공정에서의 오염 추적), 부품의 오류 분석(개선된 성능의 물질 생성 가능) 등의 다양한 중요 정보를 제공해 줍니다.
Thermo Fisher Scientific은 X선 마이크로 단층 촬영(microCT), 데스크탑 및 플로어 모델 스캐닝 전자 현미경 검사(SEM), Thermo Scientific DualBeam 기기(집속 이온 빔-SEM) 및 주사 전자 현미경(TEM)을 비롯한 전체 포트폴리오에 걸쳐 고분자 분석을 위한 종합적인 솔루션을 제공합니다. 이러한 도구를 통해 R&D, 기술 서비스 및 품질 관리 실험실의 고분자 특성 분석 상의 요구사항을 쉽게 충족시킵니다.
고분자 필터 멤브레인의 3D 재현. 50nm의 공칭 슬라이스 두께로 Thermo Scientific Apreo Volumescope SEM에서 획득한 데이터. 50Pa 환경에서 획득한 후방 산란 전자 이미지.
금속 나노입자를 함유한 polymer bead의 낮은 keV 이미지. 2차 전자 이미지에는 polymer bead의 형태가 표시됩니다.
금속 나노입자를 함유한 polymer bead의 낮은 keV 이미지. 후방 산란된 전자 영상은 bead 상의 산화철 나노입자를 표시합니다.
낮은 진공 모드를 통해 코팅되지 않은 glass fiber reinforced polymer (GFRP) 골절 표면에 대한 EDS 매핑을 사용할 수 있습니다. 원소 매핑은 매트릭스는 탄소가 풍부하고 유리 섬유는 실리콘, 알루미늄 및 칼슘 산화물의 혼합물임을 보여줍니다.
첨가제 및 섬유가 포함되어 있는 일반 종이의 종합적인 형태를 보여주는 이미지이며,
두 개 검출기의 신호를 결합하여 생성하였습니다. 색상은 원소 구성을 나타내며 영상 대비는 물질 토포그래피(topography)를 나타냅니다.
극저온 상태에서 블록 공중합체의 TEM 저선량 영상 촬영. 공중합체 마이셀은 물 속에 있으며, PAA-PI-PS 및 PAA-PS 혼합물로 조립된 sphere-sphere 패킹을 사용합니다. 사례 제공: Prof. Thomas Epps, III, University of Delaware.
금속 나노입자를 함유한 polymer bead의 낮은 keV 이미지. 2차 전자 이미지에는 polymer bead의 형태가 표시됩니다.
금속 나노입자를 함유한 polymer bead의 낮은 keV 이미지. 후방 산란된 전자 영상은 bead 상의 산화철 나노입자를 표시합니다.
낮은 진공 모드를 통해 코팅되지 않은 glass fiber reinforced polymer (GFRP) 골절 표면에 대한 EDS 매핑을 사용할 수 있습니다. 원소 매핑은 매트릭스는 탄소가 풍부하고 유리 섬유는 실리콘, 알루미늄 및 칼슘 산화물의 혼합물임을 보여줍니다.
첨가제 및 섬유가 포함되어 있는 일반 종이의 종합적인 형태를 보여주는 이미지이며,
두 개 검출기의 신호를 결합하여 생성하였습니다. 색상은 원소 구성을 나타내며 영상 대비는 물질 토포그래피(topography)를 나타냅니다.
극저온 상태에서 블록 공중합체의 TEM 저선량 영상 촬영. 공중합체 마이셀은 물 속에 있으며, PAA-PI-PS 및 PAA-PS 혼합물로 조립된 sphere-sphere 패킹을 사용합니다. 사례 제공: Prof. Thomas Epps, III, University of Delaware.
전자현미경을 사용한 공정 제어
오늘날 산업계는 우수한 품질의 높은 처리량과 강력한 공정 제어를 통해 유지되는 균형을 필요로 하고 있습니다. 전용 자동화 소프트웨어를 갖춘 SEM 및 TEM 도구는 공정 모니터링 및 개선을 위한 신속하고 멀티-스케일의 정보를 제공합니다.
품질 관리 및 불량 분석
품질 관리 및 보증은 현대 산업에 있어 필수적입니다. 당사에서는 결함에 대한 멀티 스케일 및 다중 모드 분석을 위한 다양한 EM 및 분광법 도구를 제공함으로써 공정 관리 및 개선을 위해 신뢰할 수 있으며 정보에 기반한 결정을 가능하게 합니다.
기초 재료 연구
새로운 물질은 물리적 및 화학적 특성을 최대한 제어하기 위해 점점 더 작은 규모로 연구되고 있습니다. 전자현미경은 연구자들에게 마이크로에서 나노 범위에 이르는 광범위한 물질 특성의 핵심이 되는 유용한 정보를 제공합니다.
기술적 청결도
그 어느 때보다 오늘날의 제조업계는 신뢰할 수 있는 고품질 부품을 필요로 합니다. 주사전자현미경을 이용해, 내부에서 광범위한 분석 데이터를 제공하고 생산 주기를 단축시킬 수 있는 부품 청결도 분석을 수행할 수 있습니다.
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EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.
단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
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차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.
(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.
고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.
3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.
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환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.
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EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
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3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
EDS를 통한 원자 규모 원소 맵핑
원자 분해능 EDS는 개별 원자의 원소적 정체성을 구별함으로써 재료 분석을 위한 탁월한 화학적 정보를 제공합니다. 고분해능 TEM과 함께 사용하면 시료에서 정확한 원자 조성을 관찰할 수 있습니다.
ChemiSEM
실시간 정량과 함께 실시간 EDS(에너지 분산 X선 분광법)를 사용하는 ChemiSEM 기술은 SEM 이미징을 컬러 기술로 변환합니다. 이제 어느 사용자든 원소 데이터를 지속적으로 획득하여 그 어느 때보다 완전한 정보를 얻을 수 있습니다.
단면 절단
단면 절단은 표면 하부 정보를 파악하여 추가적으로 유용한 정보를 제공해 줍니다. DualBeam 기기는 고품질 단면 절단 작업에 있어 탁월한 집속 이온 빔 컬럼을 제공해 줍니다. 자동화를 통해 시료의 무인 고처리량 처리가 가능합니다.
입자 분석
입자 분석은 나노 재료 연구 및 품질 관리에 있어 중요한 역할을 합니다. 분말 및 입자의 신속한 특성 분석을 위해 나노미터 규모의 분해능과 전자 현미경법의 우수한 이미지 생성 기능을 특수 소프트웨어와 결합할 수 있습니다.
차동 위상 콘트라스트 이미지 생성
오늘날의 전자 연구는 전기 및 자기 성질에 대한 나노단위 분석에 기초하고 있습니다. 차동 위상 대비 STEM(DPC-STEM)은 시료 내 자기장의 강도 및 분포를 영상화하고 자기 영역 구조를 표시할 수 있습니다.
(S)TEM 시료 준비
DualBeam 현미경은 (S)TEM 분석을 위한 고품질의 초박막 시료의 준비를 가능하게 해줍니다. 고급 자동화 기능에 힘입어 모든 경험 수준의 사용자가 전문가 수준의 결과물을 얻을 수 있습니다.
고온 시료 이미징
실제 조건에서의 물질 연구는 종종 고온 작업과 관련됩니다. 주사 전자 현미경 또는 DualBeam 도구를 사용하여 물질의 재결정화, 용융, 변형 또는 열 존재 시 반응과 같은 물질의 작용을 현장 연구할 수 있습니다.
3D 재료 특성 분석
물질 개발은 종종 멀티스케일 3D 특성 분석을 필요로 합니다. DualBeam 기기를 사용하여 연속 절편화와 시료의 고품질 3D 재구성 처리가 가능한 연속 SEM 이미지 생성을 나노미터 규모로 가능하게 합니다.
환경 SEM(ESEM)
환경 SEM을 통해 원래 상태로 재료의 이미지를 생성할 수 있습니다. 이 제품은 젖었거나 오염되었거나 반응성이거나 가스를 발생하거나 혹은 진공 조건에 사용할 수 없는 시료를 검사 및 분석해야 할 필요가 있는 학술 및 산업 분야 연구자들에게 적합합니다.
EDS 원소 분석
EDS는 전자 현미경 관찰에 있어 중요한 조성 정보를 제공해 줍니다. 특히, 당사의 독자적인 Super-X 및 Dual-X 검출기 시스템은 향상된 처리량 및/또는 감도를 위한 옵션을 제공함으로써 연구 우선 순위에 준하여 데이터 획득을 최적화합니다.
SIMS
집속 이온 빔 주사전자현미경법(FIB-SEM) 도구를 위한 TOF-SIMS(비행시간형 2차 이온 질량 분석법) 검출기는, 낮은 농도에서도 주기율표에 있는 모든 원소의 고분해능 특성 분석을 가능하게 합니다.
멀티스케일 분석
새로운 물질은 보다 큰 시료 맥락을 유지하면서 더 높은 분해능으로 분석해야 합니다. 멀티스케일 분석을 사용하면 X선 microCT, DualBeam, 레이저 PFIB, SEM, TEM 등의 다양한 영상 도구 및 영상 기법의 상관 관계를 분석할 수 있습니다.
3D EDS 단층 촬영
오늘날의 재료 연구는 3차원의 나노단위 분석에 점점 더 의존하고 있습니다. 3D EM과 에너지 분산 X선 분광법으로 전체 화학적 조성 데이터 및 구조적 정보 등 3D 특성 분석이 가능합니다.
X선 광전자 분광법(XPS)은 원소 조성은 물론 물질의 상부 10nm의 화학적 및 전자적 상태를 제공하는 표면 분석이 가능합니다. XPS 분석은 깊이 프로파일링을 통해 층들의 조성에 관한 유용한 정보를 제공합니다.
기기 카드 원본 스타일시트
em-h2-헤더 등급으로 H2를 p로 변경하기 위한 스타일 시트
Style Sheet for Support and Service footer
Style Sheet for Fonts
Style Sheet for Cards
재료 과학을 위한 전자 현미경
서비스
최적의 시스템 성능을 보장하기 위해 세계 수준의 현장 서비스 전문가 네트워크, 기술 지원 및 인증된 예비 부품을 제공해드립니다.
